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空间混合辐射环境器件单粒子在轨错误率预估及不确定度分析方法
被引量：
1
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作者
张付强
张峥
+5 位作者
肖舒颜
龚毅豪
韩金华
陈启明
曾传滨
郭刚
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2024年第4期945-951,共7页
针对空间混合辐射对器件单粒子在轨错误率的影响,基于典型静态随机存储器利用中国原子能科学研究院HI-13串列加速器以及钴源总剂量模拟辐照试验装置开展协合效应研究,发展了一种器件在混合辐射环境下的单粒子在轨错误率计算方法。并利...
针对空间混合辐射对器件单粒子在轨错误率的影响,基于典型静态随机存储器利用中国原子能科学研究院HI-13串列加速器以及钴源总剂量模拟辐照试验装置开展协合效应研究,发展了一种器件在混合辐射环境下的单粒子在轨错误率计算方法。并利用该方法计算了协合效应影响下的航天器典型任务周期器件的在轨错误率,同时分析了器件在轨错误率计算中的不确定度来源并计算了在轨错误率不确定度。结果表明,对于该类型器件,空间混合辐射场导致的协合效应将降低器件单粒子在轨错误率。
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关键词
单粒子
在轨错误率
协合效应
不确定度分析
混合辐射
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职称材料
基于SRAM在轨监测的单粒子翻转事件特征与空间环境响应关系研究
2
作者
徐小恒
马英起
+3 位作者
张龙龙
王杰义
林刘亮
杨丹丹
《强激光与粒子束》
北大核心
2025年第10期64-72,共9页
空间辐射环境对航天电子器件的可靠性影响显著,其中单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)是最具代表性的瞬态辐射效应之一。基于在轨静态随机存取存储器(SRAM)SEU监测数据,系统分析了SEU与空间环境参数的相关性。结果表明,97.5%的SEU事...
空间辐射环境对航天电子器件的可靠性影响显著,其中单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)是最具代表性的瞬态辐射效应之一。基于在轨静态随机存取存储器(SRAM)SEU监测数据,系统分析了SEU与空间环境参数的相关性。结果表明,97.5%的SEU事件集中发生在南大西洋异常区(SAA),并在磁壳层L≈1.24~1.25处出现峰值,其空间分布与≥10 MeV质子通量增强区高度一致。≥10 MeV质子通量与在轨软错误率(SER)呈显著幂律正相关(R≈0.73),表明高能质子是驱动SEU的主要因素。基于地面质子辐照试验截面和在轨能谱估算的理论SER与观测值在1个数量级内一致,但整体偏低,需扩展能谱范围以提高预测精度。在轨期间经历的3次小型太阳质子事件均未触发SEU,而地磁暴期间Dst指数下降伴随SER显著降低,表明地磁暴引发SAA区域质子通量衰减使得SEU发生频率降低。研究结果揭示了在轨SRAM器件SEU的空间分布规律及其驱动机理,为辐射效应建模、抗辐射设计和任务可靠性评估提供参考。
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关键词
空间辐射环境
南大西洋异常区
辐射环境效应
单粒子翻转
在轨错误率
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职称材料
题名
空间混合辐射环境器件单粒子在轨错误率预估及不确定度分析方法
被引量：
1
1
作者
张付强
张峥
肖舒颜
龚毅豪
韩金华
陈启明
曾传滨
郭刚
机构
中国原子能科学研究院
中国科学院微电子研究所
出处
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2024年第4期945-951,共7页
文摘
针对空间混合辐射对器件单粒子在轨错误率的影响,基于典型静态随机存储器利用中国原子能科学研究院HI-13串列加速器以及钴源总剂量模拟辐照试验装置开展协合效应研究,发展了一种器件在混合辐射环境下的单粒子在轨错误率计算方法。并利用该方法计算了协合效应影响下的航天器典型任务周期器件的在轨错误率,同时分析了器件在轨错误率计算中的不确定度来源并计算了在轨错误率不确定度。结果表明,对于该类型器件,空间混合辐射场导致的协合效应将降低器件单粒子在轨错误率。
关键词
单粒子
在轨错误率
协合效应
不确定度分析
混合辐射
Keywords
single event upset induced soft error rate
synergistic effects
uncertainty analysis
mixed beam environment
分类号
TL99 [核科学技术—核技术及应用]
O571.1 [理学—粒子物理与原子核物理]
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职称材料
题名
基于SRAM在轨监测的单粒子翻转事件特征与空间环境响应关系研究
2
作者
徐小恒
马英起
张龙龙
王杰义
林刘亮
杨丹丹
机构
中国科学院国家空间科学中心太阳活动与空间天气全国重点实验室
中国科学院大学
出处
《强激光与粒子束》
北大核心
2025年第10期64-72,共9页
基金
中国科学院B类先导专项(XDB1200200)
中国科学院青年创新促进会优秀会员人才基金项目(Y2022057)
+2 种基金
国家自然科学基金项目(U2241280)
太阳活动与空间天气全国重点实验室专项基金资助项目(E52621A0)
北京市自然科学基金项目(L252102)。
文摘
空间辐射环境对航天电子器件的可靠性影响显著,其中单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)是最具代表性的瞬态辐射效应之一。基于在轨静态随机存取存储器(SRAM)SEU监测数据,系统分析了SEU与空间环境参数的相关性。结果表明,97.5%的SEU事件集中发生在南大西洋异常区(SAA),并在磁壳层L≈1.24~1.25处出现峰值,其空间分布与≥10 MeV质子通量增强区高度一致。≥10 MeV质子通量与在轨软错误率(SER)呈显著幂律正相关(R≈0.73),表明高能质子是驱动SEU的主要因素。基于地面质子辐照试验截面和在轨能谱估算的理论SER与观测值在1个数量级内一致,但整体偏低,需扩展能谱范围以提高预测精度。在轨期间经历的3次小型太阳质子事件均未触发SEU,而地磁暴期间Dst指数下降伴随SER显著降低,表明地磁暴引发SAA区域质子通量衰减使得SEU发生频率降低。研究结果揭示了在轨SRAM器件SEU的空间分布规律及其驱动机理,为辐射效应建模、抗辐射设计和任务可靠性评估提供参考。
关键词
空间辐射环境
南大西洋异常区
辐射环境效应
单粒子翻转
在轨错误率
Keywords
space radiation environment
south atlantic anomaly
radiation environment effects
single eventupset
soft error rate
分类号
P353.4 [天文地球—空间物理学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
空间混合辐射环境器件单粒子在轨错误率预估及不确定度分析方法
张付强
张峥
肖舒颜
龚毅豪
韩金华
陈启明
曾传滨
郭刚
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2024
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
基于SRAM在轨监测的单粒子翻转事件特征与空间环境响应关系研究
徐小恒
马英起
张龙龙
王杰义
林刘亮
杨丹丹
《强激光与粒子束》
北大核心
2025
0
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职称材料
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