爱德万测试T2000ISS图像传感器测试(image sensor test solution)平台上的全新高速模块可从单个芯片到大规模量产阶段对CMOS图像传感器进行大规模并行测试,从而降低测试成本。随着装有摄像头的消费电子产品种类的不断扩展一从智能手...爱德万测试T2000ISS图像传感器测试(image sensor test solution)平台上的全新高速模块可从单个芯片到大规模量产阶段对CMOS图像传感器进行大规模并行测试,从而降低测试成本。随着装有摄像头的消费电子产品种类的不断扩展一从智能手机、平板电脑到数码摄像机和车载可视系统-图像尺寸及像素数量也在不断提高。爱德万测试的3GICAP与T2000ISS测试平台完全兼容,具有很高的图像采集速度,可对多达64个D—PHY和M—PHY接口芯片进行高效率并行测试,正是这一类芯片带动了目前图像传感器市场的增长。展开更多
文摘爱德万测试T2000ISS图像传感器测试(image sensor test solution)平台上的全新高速模块可从单个芯片到大规模量产阶段对CMOS图像传感器进行大规模并行测试,从而降低测试成本。随着装有摄像头的消费电子产品种类的不断扩展一从智能手机、平板电脑到数码摄像机和车载可视系统-图像尺寸及像素数量也在不断提高。爱德万测试的3GICAP与T2000ISS测试平台完全兼容,具有很高的图像采集速度,可对多达64个D—PHY和M—PHY接口芯片进行高效率并行测试,正是这一类芯片带动了目前图像传感器市场的增长。