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中子辐射损伤HPGe探测器的修复系统 被引量:1
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作者 雷祥国 郭应祥 +5 位作者 刘忠 孙相富 周小红 陈新峰 金寒涓 罗亦孝 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 1996年第3期182-184,共3页
在束γ实验中,锗探测器因受中子辐射损伤而性能变差、能量分辨率变坏。本文介绍了自建的锗γ探测器中子辐射损伤修复系统的组成和工作情况。用该系统已成功地修复了4台N型HPGe探测器。
关键词 在束γ实验测量 辐射损伤 Γ探测器 HPGE
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