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二维正弦调制靶的图形转移研究 被引量:3
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作者 孙骐 周斌 +5 位作者 黄耀东 沈军 吴广明 唐伟星 杨帆 王珏 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 2002年第4期327-330,共4页
根据惯性约束聚变分解实验的要求 ,通过激光干涉法在光刻胶表面制备正弦起伏图形 ,结合电镀图形转移工艺 ,获得了波长 2 0~ 10 0 μm、振幅 0 2~ 3 5 μm的一系列Ni基图形转移模板 ,并进一步将正弦起伏图形转移到聚苯乙烯薄膜表面 ... 根据惯性约束聚变分解实验的要求 ,通过激光干涉法在光刻胶表面制备正弦起伏图形 ,结合电镀图形转移工艺 ,获得了波长 2 0~ 10 0 μm、振幅 0 2~ 3 5 μm的一系列Ni基图形转移模板 ,并进一步将正弦起伏图形转移到聚苯乙烯薄膜表面 ,制备出聚苯乙烯二维调制箔靶。研究了图形的精确转移工艺 ,特别是深振幅样品的脱模工艺 ,对工艺参数的优化进行了讨论。采用台阶仪和原子力显微镜监控图形转移过程 ,比较了光刻胶表面图形和一次、二次电镀转移图形以及转移到聚苯乙烯薄膜上图形的形貌 。 展开更多
关键词 二维正弦调制靶 平面调制靶 电镀 图形转移工艺 惯性约束聚变
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