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基于图像预处理的光学元件表面粗糙度测量系统
被引量：
1
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作者
沈红伟
付苗苗
《激光杂志》
CAS
北大核心
2024年第5期252-256,共5页
在测量光学元件表面粗糙度时,测量结果往往比较片面,为此设计基于图像预处理技术的光学元件表面粗糙度测量系统。获取原始元件表面粗糙度干涉图像,通过对表面形貌图像实施图像去噪处理与倾斜校正处理获取滤波结果,通过自适应中值滤波算...
在测量光学元件表面粗糙度时,测量结果往往比较片面,为此设计基于图像预处理技术的光学元件表面粗糙度测量系统。获取原始元件表面粗糙度干涉图像,通过对表面形貌图像实施图像去噪处理与倾斜校正处理获取滤波结果,通过自适应中值滤波算法实施图像的去噪处理。在粗糙度参数评定模块中,根据取样长度对评定长度下定义,实施光学元件表面粗糙度的全面评定。利用设计系统测量三种光学元件的表面粗糙度。实验结果表明:通过设计系统能够获取高成像质量的表面粗糙度干涉图像,实现多种元件表面粗糙度的全面测量,具有一定应用价值。
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关键词
图像预见处理技术
压电陶瓷晶体
半导体激光器
光学元件
表面粗糙度测量
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职称材料
题名
基于图像预处理的光学元件表面粗糙度测量系统
被引量：
1
1
作者
沈红伟
付苗苗
机构
沧州师范学院
出处
《激光杂志》
CAS
北大核心
2024年第5期252-256,共5页
基金
河北省“三三三人才工程”资助项目(No.A202001101)。
文摘
在测量光学元件表面粗糙度时,测量结果往往比较片面,为此设计基于图像预处理技术的光学元件表面粗糙度测量系统。获取原始元件表面粗糙度干涉图像,通过对表面形貌图像实施图像去噪处理与倾斜校正处理获取滤波结果,通过自适应中值滤波算法实施图像的去噪处理。在粗糙度参数评定模块中,根据取样长度对评定长度下定义,实施光学元件表面粗糙度的全面评定。利用设计系统测量三种光学元件的表面粗糙度。实验结果表明:通过设计系统能够获取高成像质量的表面粗糙度干涉图像,实现多种元件表面粗糙度的全面测量,具有一定应用价值。
关键词
图像预见处理技术
压电陶瓷晶体
半导体激光器
光学元件
表面粗糙度测量
Keywords
image preview processing technology
piezoelectric ceramic crystals
semiconductor laser
optical components
surface roughness measurement
分类号
TN84 [电子电信—信息与通信工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于图像预处理的光学元件表面粗糙度测量系统
沈红伟
付苗苗
《激光杂志》
CAS
北大核心
2024
1
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