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CCD用于光学三角法测量金属板厚 被引量:6
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作者 杨齐民 王翊 +3 位作者 钟丽云 宫爱玲 佘灿麟 张文碧 《激光杂志》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第2期32-34,37,共4页
利用激光束斜入射到金属板上,再用透镜将激光金属板上的激光光斑成像到CCD上,当金属板发生位移时,CCD上激光光斑的像也将发生位移。通过对光班像位移的测量,就可计算出金属板的位移量。此法也可推广到金属板的厚度测量中。由... 利用激光束斜入射到金属板上,再用透镜将激光金属板上的激光光斑成像到CCD上,当金属板发生位移时,CCD上激光光斑的像也将发生位移。通过对光班像位移的测量,就可计算出金属板的位移量。此法也可推广到金属板的厚度测量中。由于金属板表面反射率变化会对测量带来影响,我们已考虑到对此作了修正。此测量方法不但是无接触的,可不受测量对象、不利环境对传感头的影响。故可用于生产过程进行实时监测。 展开更多
关键词 光学三角法 CCD 固定摄像器件 金属板 测量
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