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集成电路高层故障模型间关系分析方法: 1; 作者杨修涛鲁巍李晓维《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2006年第2期350-355,共6页; 集成电路的测试变得日益重要,传统的门级测试虽然效果很好,但是随着电路规模的增大而面临着测试时间太长的困境·高层测试可以很好地缓解测试时间过长的问题,但最大的困难是缺少恰当的故障模型·通过对高层故障模型与门级固定... 展开更多; 关键词高层故障模型固定型故障模型统计故障模型序列; 在线阅读下载PDF 职称材料

基于极小碰集求解算法的测试向量集约简被引量：3: 2; 作者欧阳丹彤陈晓艳 +2 位作者叶靖邓召勇张立明《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2019年第11期2448-2457,共10页; 自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短... 展开更多; 关键词电路测试自动测试向量生成测试向量集约简故障覆盖率极小碰集固定型故障; 在线阅读下载PDF 职称材料

一种新的小时延测试向量筛选方法被引量：2: 3; 作者皮霄林邝继顺张玲《电子测量与仪器学报》 CSCD 2012年第3期242-247,共6页; 随着集成电路工艺尺寸不断缩小,电路规模不断增大,小时延测试所需的测试向量越来越多,因此小时延测试的成本越来越高。为降低测试成本提出了一种新的小时延测试向量筛选方法。提出的方法用固定型测试向量的组合来检测小时延故障,从组合... 展开更多; 关键词小时延故障跳变故障固定型故障向量筛选; 在线阅读下载PDF 职称材料

PLAUD-Ⅱ:一个全自动MOS PLA的设计系统: 4; 作者严晓浪朱彭遐 +2 位作者胡建萍董云耀董晨皓《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 1991年第2期18-26,共9页; 可编程逻辑阵列(PLA)的自动设计是80年代以来迅速发展起来的,用以优化设计大规模数字系统的设计技术。PLAUD-Ⅱ是我国第二级IC-CAD系统的PLA自动设计子系统,它在国内首次实现了MOSPLA从逻辑输入到版图生成的自动设计。该系统的研制完成... 展开更多; 关键词数字系统逻辑输入可编程逻辑阵列逻辑部件测试生成 MOS PLA PLAUD 方体单元库固定型故障; 在线阅读下载PDF 职称材料

多值逻辑电路测试的敏化路径法研究: 5; 作者潘中良《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期60-61,共2页; 多值逻辑和多值逻辑电路近年来得到了越来越多的应用,研究多值逻辑电路的测试,给出了采用敏化路径法计算给定故障测试矢量的方法,并对多故障的测试生成进行了研究。结果表明若同时对故障位置的多条路径进行敏化,则可以方便地求出故障的... 展开更多; 关键词多值逻辑电路固定型故障测试生成路径敏化; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名集成电路高层故障模型间关系分析方法: 1; 作者杨修涛鲁巍李晓维; 机构中国科学院计算技术研究所信息网络研究室; 出处《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2006年第2期350-355,共6页; 基金国家自然科学基金项目(90207002 60242001) 中国科学院计算技术研究所基础研究基金项目(20036160)~~; 文摘集成电路的测试变得日益重要,传统的门级测试虽然效果很好,但是随着电路规模的增大而面临着测试时间太长的困境·高层测试可以很好地缓解测试时间过长的问题,但最大的困难是缺少恰当的故障模型·通过对高层故障模型与门级固定型故障模型间关系可以建立高层故障模型的评估规则,在该规则下可以再对高层故障模型间关系进行分析,以确定彼此间的覆盖关系·归纳模型间的互相覆盖以确定彼此是否包含,这有助于对高层故障模型进行评估,寻找能够对应逼近门级固定型(stuck-at)故障模型的高层故障模型序列,该模型序列有望指导新的测试生成·最后,以对ITC99中标准时序电路的实验来说明该理论方法·; 关键词高层故障模型固定型故障模型统计故障模型序列; Keywords high-level fault model stuck-at fault model statistics fault models series; 分类号 TP391.7 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于极小碰集求解算法的测试向量集约简被引量：3: 2; 作者欧阳丹彤陈晓艳叶靖邓召勇张立明; 机构吉林大学计算机科学与技术学院计算机体系结构国家重点实验室(中国科学院计算技术研究所) 符号计算与知识工程教育部重点实验室(吉林大学) 中国科学院计算技术研究所; 出处《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2019年第11期2448-2457,共10页; 基金国家自然科学基金项目(61672261,61502199,61402196,61872159,61704174)~~; 文摘自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法,通过对测试向量集约简问题重新建模,利用极小碰集求解算法对TetraMAX ATPG 2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模,且保证其故障覆盖率不变,对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障,结果表明:该算法具有良好的约简效果,而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量.; 关键词电路测试自动测试向量生成测试向量集约简故障覆盖率极小碰集固定型故障; Keywords circuit test automatic test pattern generation(ATPG) test pattern set reduction fault coverage minimal hitting set stuck-at fault; 分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学] TP306 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名一种新的小时延测试向量筛选方法被引量：2: 3; 作者皮霄林邝继顺张玲; 机构湖南大学信息科学与工程学院计算机系; 出处《电子测量与仪器学报》 CSCD 2012年第3期242-247,共6页; 基金国家自然科学基金(60673085 60773207) 中国科学院计算机系统结构重点实验室开放课题; 文摘随着集成电路工艺尺寸不断缩小,电路规模不断增大,小时延测试所需的测试向量越来越多,因此小时延测试的成本越来越高。为降低测试成本提出了一种新的小时延测试向量筛选方法。提出的方法用固定型测试向量的组合来检测小时延故障,从组合的测试集中筛选出具有高小时延故障覆盖率的测试向量。最后仅用一个测试集就能同时对固定型故障、跳变故障、小时延故障进行有效的检测,从而大大节省了向量的存储空间。在ISCAS’85和ISCAS’89基准电路上用MinTest测试集进行的实验表明,提出的方法不但有很高的小时延故障覆盖率,而且向量个数的减少最高达到61倍。; 关键词小时延故障跳变故障固定型故障向量筛选; Keywords small-delay faults transition faults stack-at faults pattern selection; 分类号 TP306.2 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名PLAUD-Ⅱ:一个全自动MOS PLA的设计系统: 4; 作者严晓浪朱彭遐胡建萍董云耀董晨皓; 机构杭州电子工业学院微电子CAD研究所; 出处《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 1991年第2期18-26,共9页; 文摘可编程逻辑阵列(PLA)的自动设计是80年代以来迅速发展起来的,用以优化设计大规模数字系统的设计技术。PLAUD-Ⅱ是我国第二级IC-CAD系统的PLA自动设计子系统,它在国内首次实现了MOSPLA从逻辑输入到版图生成的自动设计。该系统的研制完成为大规模数字系统的控制逻辑部件的设计自动化打下了良好的基础。; 关键词数字系统逻辑输入可编程逻辑阵列逻辑部件测试生成 MOS PLA PLAUD 方体单元库固定型故障; 分类号 TP391.72 [自动化与计算机技术—计算机应用技术] TP391.41 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名多值逻辑电路测试的敏化路径法研究: 5; 作者潘中良; 机构华南师范大学物理与电信工程学院; 出处《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期60-61,共2页; 基金国家自然科学基金(60006002) 广东省教育厅自然科学研究(02019)资助项目。; 文摘多值逻辑和多值逻辑电路近年来得到了越来越多的应用,研究多值逻辑电路的测试,给出了采用敏化路径法计算给定故障测试矢量的方法,并对多故障的测试生成进行了研究。结果表明若同时对故障位置的多条路径进行敏化,则可以方便地求出故障的测试矢量。; 关键词多值逻辑电路固定型故障测试生成路径敏化; Keywords Multiple-valued logic circuits Stuck-at faults Test pattern generation Path sensitizing; 分类号 TH7-55 [机械工程—精密仪器及机械]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	集成电路高层故障模型间关系分析方法	杨修涛鲁巍李晓维	《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心	2006	0	在线阅读下载PDF 职称材料
2	基于极小碰集求解算法的测试向量集约简	欧阳丹彤陈晓艳叶靖邓召勇张立明	《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心	2019	3	在线阅读下载PDF 职称材料
3	一种新的小时延测试向量筛选方法	皮霄林邝继顺张玲	《电子测量与仪器学报》 CSCD	2012	2	在线阅读下载PDF 职称材料
4	PLAUD-Ⅱ:一个全自动MOS PLA的设计系统	严晓浪朱彭遐胡建萍董云耀董晨皓	《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD	1991	0	在线阅读下载PDF 职称材料
5	多值逻辑电路测试的敏化路径法研究	潘中良	《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心	2004	0	在线阅读下载PDF 职称材料