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用固体径迹探测器测定无限厚裂变源的自吸收因子 被引量:1
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作者 史永谦 兰义正 +1 位作者 李富民 郑伍钦 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第3期80-82,共3页
在固体径迹探测器的应用中,裂变源总有一定厚度。裂变源厚度对固体径迹探测器探测效率的影响是一个重要参数。如果定义探测器效率为:蚀刻后在探测器上观察到的径迹数目与入射到探测器上的碎片数目之比,那么探测器的效率应是一个常数。... 在固体径迹探测器的应用中,裂变源总有一定厚度。裂变源厚度对固体径迹探测器探测效率的影响是一个重要参数。如果定义探测器效率为:蚀刻后在探测器上观察到的径迹数目与入射到探测器上的碎片数目之比,那么探测器的效率应是一个常数。裂变碎片能否入射到探测器上,与裂变源的厚度有关,因为在裂变源中,各向同性发射的裂变碎片,必然有一部分完全停止在裂变物质中。由于这种自吸收的存在。 展开更多
关键词 固体径变探测器 无限厚裂 自吸收 因子
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