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固体发射光谱法测定地球化学样品中的高含量锡 被引量:20
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作者 姚建贞 郝志红 +3 位作者 唐瑞玲 李晓静 李文阁 张勤 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2013年第11期3124-3127,共4页
介绍了一种固体发射光谱法测定地球化学样品中高含量锡的分析方法。研制了一套专用高含量锡光谱标准系列,以K2S202,NaF,A12O3,碳粉为缓冲剂,Ge为内标,样品、基物、缓冲剂比例为l:1:2。以弱灵敏线(Sn242.1700nm)作为分析线,... 介绍了一种固体发射光谱法测定地球化学样品中高含量锡的分析方法。研制了一套专用高含量锡光谱标准系列,以K2S202,NaF,A12O3,碳粉为缓冲剂,Ge为内标,样品、基物、缓冲剂比例为l:1:2。以弱灵敏线(Sn242.1700nm)作为分析线,采用垂直电极法,交流电弧重叠摄谱,截取曝光,计算机定量译谱,同时扣除分析线和内标线背景。方法测定范围为:100~22350船·g-1,检出限为:16.64昭·g^-1精密度为(RSD,n-12):4.11%~6.46%。测定了国家一级标准物质,结果与认定值符合。本方法可不用稀释直接测定地球化学样品中的高含量锡,提高了固体发射光谱法测定锡的检出上限,具有一定的实用价值。 展开更多
关键词 固体发射光谱法 地球化学样品 高含量锡
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