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题名基于TDDB的数字隔离器寿命测试系统
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作者
李梓腾
王进军
陈炫宇
王凯
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机构
陕西科技大学电子信息与人工智能学院
西安翔腾微电子科技有限公司
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出处
《现代电子技术》
北大核心
2025年第6期39-44,共6页
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基金
陕西省教育厅科研计划专项项目:AlGaN/GaN HEMT电力电子器件的优化与性能研究(18JK0103)。
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文摘
为评估数字隔离器在长期使用过程中的稳定性和寿命,提出一种基于经时击穿(TDDB)的寿命测试系统,通过自动化和多路并行测试来提升测试效率。具体方法包括设计一个支持16路同时进行测试的系统,使用DSP控制程序和上位机软件进行数据处理,并通过增加电压应力来加速老化测试。实验结果表明:该系统能够在检测到失效时立即终止测试,并自动记录失效时间;同时通过模拟工作电压环境,提高了测试结果的可靠性。与传统方法相比,所设计系统显著减少了人工干预,提高了测试效率和可靠性,并且能够提前预警潜在故障,为电气系统的稳定运行提供了有力保障。该研究对于提高数字隔离器的可靠性和寿命,以及保障电气系统的安全运行具有一定的理论和实践意义。
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关键词
数字隔离器
经时击穿
寿命测试
可靠性评估
栅氧化层击穿
回路电流监测
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Keywords
digital isolator
time-dependent dielectric breakdown
lifespan testing
reliability assessment
gate oxide layer breakdown
loop current monitoring
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分类号
TN761-34
[电子电信—电路与系统]
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