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显微热成像系统的噪声等效温差和噪声等效辐射率差模型及其分析
被引量：
6
1
作者
高美静
金伟其
+3 位作者
王霞
王岭雪
陈翼男
杜书春
《北京理工大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第1期50-54,共5页
提出一种可用于大规模集成芯片、生物医学和科学研究等显微热诊断的显微热成像设计方案.研究了显微热成像系统的噪声等效温差(NETD)和噪声等效辐射率差(NEED)模型,分析了显微热成像与望远模式热成像的差异.针对理想光子探测器和理想热...
提出一种可用于大规模集成芯片、生物医学和科学研究等显微热诊断的显微热成像设计方案.研究了显微热成像系统的噪声等效温差(NETD)和噪声等效辐射率差(NEED)模型,分析了显微热成像与望远模式热成像的差异.针对理想光子探测器和理想热探测器,探讨了显微热成像系统的NETD和NEED的关系.理论推导及仿真结果表明二者是以背景温度为函数的非线性关系.从理论上给出了提高显微热成像质量的一些建议.
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关键词
显微热成像
噪声等
效
温
差
数学模型
噪声等效辐射率差
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职称材料
电子器件无损检测光学微扫描显微热成像系统
被引量：
4
2
作者
高美静
范祥瑞
+1 位作者
顾海华
吴伟龙
《激光与红外》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第7期779-784,共6页
为了给半导体器件、印刷电路板和功率器件等电子器件提供细微热分析的手段,完成电子电路的故障检测、失效分析和可靠性检测等,本文基于非制冷焦平面探测器设计了一种新型的光学微扫描显微热像仪。介绍了系统的工作原理、系统构成、工作...
为了给半导体器件、印刷电路板和功率器件等电子器件提供细微热分析的手段,完成电子电路的故障检测、失效分析和可靠性检测等,本文基于非制冷焦平面探测器设计了一种新型的光学微扫描显微热像仪。介绍了系统的工作原理、系统构成、工作过程,研究推导了系统噪声等效温差(NETD)和噪声等效辐射率差(NEED)模型,为系统的设计提供了理论指导,基于Matlab完成了整个系统的图像采集处理界面设计。实际图像采集和处理结果表明了本系统设计的合理性。随着产品化,本系统将会用到其他需要显微热分析的场合,具有广泛的应用前景。
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关键词
光学工程
光学微扫描显微热像仪
噪声等
效
温
差
噪声等效辐射率差
电子器件
故障检测
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职称材料
题名
显微热成像系统的噪声等效温差和噪声等效辐射率差模型及其分析
被引量：
6
1
作者
高美静
金伟其
王霞
王岭雪
陈翼男
杜书春
机构
北京理工大学信息科学技术学院光电工程系
出处
《北京理工大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第1期50-54,共5页
基金
北京市自然科学基金资助项目(4062029)
文摘
提出一种可用于大规模集成芯片、生物医学和科学研究等显微热诊断的显微热成像设计方案.研究了显微热成像系统的噪声等效温差(NETD)和噪声等效辐射率差(NEED)模型,分析了显微热成像与望远模式热成像的差异.针对理想光子探测器和理想热探测器,探讨了显微热成像系统的NETD和NEED的关系.理论推导及仿真结果表明二者是以背景温度为函数的非线性关系.从理论上给出了提高显微热成像质量的一些建议.
关键词
显微热成像
噪声等
效
温
差
数学模型
噪声等效辐射率差
Keywords
micro thermal imaging
noise equivalent temperature difference
mathematical model
noise equivalent eradiation difference
分类号
TN211 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
电子器件无损检测光学微扫描显微热成像系统
被引量：
4
2
作者
高美静
范祥瑞
顾海华
吴伟龙
机构
燕山大学信息科学与工程学院
东北大学秦皇岛分校计算机与通信工程学院
出处
《激光与红外》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第7期779-784,共6页
基金
河北省科学技术研究与发展计划应用基础研究计划重点研究基础项目(No.11963545D)
河北省自然科学基金(No.F2010001268
+1 种基金
No.F2010001286)
燕山大学博士基金(No.B431)项目资助
文摘
为了给半导体器件、印刷电路板和功率器件等电子器件提供细微热分析的手段,完成电子电路的故障检测、失效分析和可靠性检测等,本文基于非制冷焦平面探测器设计了一种新型的光学微扫描显微热像仪。介绍了系统的工作原理、系统构成、工作过程,研究推导了系统噪声等效温差(NETD)和噪声等效辐射率差(NEED)模型,为系统的设计提供了理论指导,基于Matlab完成了整个系统的图像采集处理界面设计。实际图像采集和处理结果表明了本系统设计的合理性。随着产品化,本系统将会用到其他需要显微热分析的场合,具有广泛的应用前景。
关键词
光学工程
光学微扫描显微热像仪
噪声等
效
温
差
噪声等效辐射率差
电子器件
故障检测
Keywords
optical engneering
optical microscanning thermal microscope
noise equivalent temperature difference（NETD）
noise equivalent eradiation difference~ NEED）
electronic device
failure testing
分类号
TN211 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
显微热成像系统的噪声等效温差和噪声等效辐射率差模型及其分析
高美静
金伟其
王霞
王岭雪
陈翼男
杜书春
《北京理工大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
6
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
电子器件无损检测光学微扫描显微热成像系统
高美静
范祥瑞
顾海华
吴伟龙
《激光与红外》
CAS
CSCD
北大核心
2013
4
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职称材料
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