智能型半导体器件测试系统的抗干扰措施

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作者 焦阳 李雪莉 《河北科技大学学报》 CAS 2000年第2期64-66,共3页

针对智能型半导体器件测试系统的主要干扰源作了详细的理论分析，并从硬件、软件两个方面介绍了一些提高整个系统可靠性的抗干扰措施。实际运行表明，这些抗干扰措施为该系统的可靠、稳定运行提供了有力的保证。

关键词 微机控制系统 抗干扰 半导体器件测试系统

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元器件测试筛选先后次序的决定原则 被引量：5

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作者 朱瑜 《电子工程师》 2008年第3期9-11,共3页

从元器件失效的原理出发,叙述了分析元器件失效的具体失效模式与引起各种元器件失效的失效模式之间的相互关联性、各种元器件测试筛选方法可能引发的元器件失效模式,以及不同元器件测试筛选先后次序对最终测试结果的影响,从理论上推导... 从元器件失效的原理出发,叙述了分析元器件失效的具体失效模式与引起各种元器件失效的失效模式之间的相互关联性、各种元器件测试筛选方法可能引发的元器件失效模式,以及不同元器件测试筛选先后次序对最终测试结果的影响,从理论上推导出一种较好的决定元器件测试筛选先后次序的原则。实践表明,应用这种原则,可以最大限度提高测试筛选的有效性和经济性,在最短时间内迅速找出有有缺陷、质量不符合要求的产品,而且失效模式定位准确,为查明失效的产生机理提供数据支持,是一种有效的安排元器件测试筛选先后次序的原则。 展开更多

关键词 元器件测试 测试筛选 失效模式

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吉时利针对先进半导体器件测试发布新版功能增强型脉冲与脉冲I-V测试解决方案 被引量：1

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《电子与电脑》 2007年第5期54-54,共1页

美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本．本次升级引入4200-SCS新一代脉冲测试功能。实验室系统的应用将集成直流和脉冲测量功能与完整的应用工具包结合．为用户提供完整解决方案... 美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本．本次升级引入4200-SCS新一代脉冲测试功能。实验室系统的应用将集成直流和脉冲测量功能与完整的应用工具包结合．为用户提供完整解决方案。功能增强的脉；中发生器插卡和新型的示波器插卡．为半导体技术生产和研究者们提供强大新功能。新升级版本不仅增强了吉时利4200-PIV工具包功能．还提供两种新版应用解决方案． 展开更多

关键词 半导体技术 测试解决方案 吉时利 脉冲 器件测试 4200-SCS I-V 增强型

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元器件测试实验室样品管理的特点与实施方案

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作者 常炜 《电子质量》 2021年第6期102-105,共4页

测试实验室样品管理如同一根看不见的线,把整个检测工作串联起来,使得实验室各项工作环环相扣,有条不紊展开。文章首先介绍了样品管理的基本原则,元器件测试实验室的特点,进而提出一套切实可行的样品管理流程,详细叙述流程的各个环节的... 测试实验室样品管理如同一根看不见的线,把整个检测工作串联起来,使得实验室各项工作环环相扣,有条不紊展开。文章首先介绍了样品管理的基本原则,元器件测试实验室的特点,进而提出一套切实可行的样品管理流程,详细叙述流程的各个环节的工作要求,以及关键环节的注意事项。还重点介绍了检测流程卡的制作和条件保证盒的作用。 展开更多

关键词 样品管理 元器件测试实验室 流程卡 条件保证盒

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能同时完成多个器件测试的多位置插座

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《电子产品世界》 2004年第05B期33-33,共1页

关键词 CSP多位置插座 器件测试 Wells-CTI 蛤壳式 浮动板 压垫

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用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10 来自科利登的测试经济化革新

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《中国集成电路》 2005年第10期14-17,共4页

消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命；电话、PDA整合多种功能；玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能；基于铝铁等金属的汽车也与现代电脑结合得愈来愈紧密。这些多元化的... 消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命；电话、PDA整合多种功能；玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能；基于铝铁等金属的汽车也与现代电脑结合得愈来愈紧密。这些多元化的应用驱使IC需求在未来三年内急速增长（IC insights 2005）。 展开更多

关键词 消费类 器件测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 PDA 多元化

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整机企业电子元器件测试系统选型

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作者 孙铣 《中国集成电路》 2002年第3期94-101,共8页

文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和"小而全"测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和... 文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和"小而全"测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了看法。 展开更多

关键词 模拟测试系统 系统选型 电子元器件 元器件测试 测试软件 企业 整机 技术支持 运算放大器 测试程序

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基于内嵌XADC的FPGA可靠性测试技术分析

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作者 王国力 马成英 +1 位作者 张金凤 杨超 《集成电路应用》 2025年第1期77-79,共3页

阐述Virtex-7 FPGA内嵌XADC模块的结构、工作原理及功能,结合Virtex-7 FPGA的测试,给出XADC在测试过程中应用以及设计方案。该方案基于Vivado设计开发软件及ATE测试系统,运用XADC模块的温度监控和电压监控功能对测试过程进行监测,并对... 阐述Virtex-7 FPGA内嵌XADC模块的结构、工作原理及功能,结合Virtex-7 FPGA的测试,给出XADC在测试过程中应用以及设计方案。该方案基于Vivado设计开发软件及ATE测试系统,运用XADC模块的温度监控和电压监控功能对测试过程进行监测,并对器件内嵌的XADC进行基于应用性的功能验证。 展开更多

关键词 器件测试 FPGA 测试可靠性 XADC

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一种电流型运放动态参数测试方案设计

9

作者 张厚政 陈覃 +1 位作者 申晓杰 赵波 《集成电路应用》 2025年第1期80-83,共4页

阐述电流型运放内部的信号放大和传输采用的是电流信号而非传统的电压信号,不仅可以同时保证高增益和高带宽,还具有较大的压摆率,广泛地应用于高速信号处理场景中,其筛选成为一个重点任务。为此,分析电流型运放动态参数的测试方法,介绍T... 阐述电流型运放内部的信号放大和传输采用的是电流信号而非传统的电压信号,不仅可以同时保证高增益和高带宽,还具有较大的压摆率,广泛地应用于高速信号处理场景中,其筛选成为一个重点任务。为此,分析电流型运放动态参数的测试方法,介绍TI公司的一款电流型运放OPA2691,并给出这款电流型运放动态参数的测试方案。 展开更多

关键词 器件测试 电流型运放 动态参数 测试方案

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OLED器件光电性能集成测试系统研制 被引量：10

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作者 刘健 谢文法 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2013年第1期132-137,共6页

为方便对OLED器件的各项性能进行测试,研发了一种OLED器件光电性能集成测试系统,实现了在同一个软件下的OLED器件的电压、电流、亮度、光谱、色坐标和寿命等特性的集成测试。介绍了计算机与各测试设备的通信方法,通过计算机控制测量仪器... 为方便对OLED器件的各项性能进行测试,研发了一种OLED器件光电性能集成测试系统,实现了在同一个软件下的OLED器件的电压、电流、亮度、光谱、色坐标和寿命等特性的集成测试。介绍了计算机与各测试设备的通信方法,通过计算机控制测量仪器对OLED器件进行测量。使用了Microsoft Visual 2005开发工具,利用MFC(Microsoft Foundation Classes)开发出了图形用户界面下的应用程序。利用TeeChart(西班牙Steema公司研发的图表控件)控件实现了OLED器件性能特性曲线的实时动态显示,并能够对不同器件的测试结果进行性能曲线的对比。编写了色坐标助手软件,实现对测试软件测试的光谱数据的分析显示功能。 展开更多

关键词 有机发光器件 集成系统 器件测试

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电子元器件的可靠性测试与评估技术分析 被引量：3

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作者 申德玮 刘涛 刘小建 《集成电路应用》 2023年第12期383-385,共3页

阐述电子器件的可靠性评估指标,加速寿命测试、退化度量、失效分析的可靠性测试技术方法。探讨可靠性评估技术,包括基于概率统计和物理可靠性的评估方法、可靠性分析软件,提出电子元器件的可靠性测试与评估实践。

关键词 电子器件 可靠性 器件测试 评估技术

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ETS-200T/FT:Teradyne公司的分立器件成品测试解决方案

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作者 Steve Price 《中国集成电路》 2011年第12期90-91,共2页

ETS-200T/FT（成品测试）是专为分立器件测试而设计的,特别针对在旋转式和其它转位并行式的机械分选机上测试的功率场效应管（Power FET）。ETS-200T/FT是使用Eagle提供的转位并行架构来提供功率场效应管的测试方案,最多支持5个测试站,... ETS-200T/FT（成品测试）是专为分立器件测试而设计的,特别针对在旋转式和其它转位并行式的机械分选机上测试的功率场效应管（Power FET）。ETS-200T/FT是使用Eagle提供的转位并行架构来提供功率场效应管的测试方案,最多支持5个测试站,每个测试站可以测试不同的测试项目,并且能够覆盖直流参数、交流参数、 展开更多

关键词 测试解决方案 分立器件 成品 功率场效应管 EAGLE 器件测试 测试方案 测试项目

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声表面波MEMS器件的设计和制作工艺 被引量：2

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作者 高爱华 鲍帅 刘欢 《西安工业大学学报》 CAS 2012年第10期785-788,810,共5页

为了探索声表面波器件制作工艺,在压电器件工作原理的基础上,通过设计声表面波器件的工作频率、叉指宽度、间隙及对数等器件参数,绘制了掩模板,对制作的声表面波器件进行测试,制作了不同叉指对数、孔径长度、中心距离的电极.实验结果表... 为了探索声表面波器件制作工艺,在压电器件工作原理的基础上,通过设计声表面波器件的工作频率、叉指宽度、间隙及对数等器件参数,绘制了掩模板,对制作的声表面波器件进行测试,制作了不同叉指对数、孔径长度、中心距离的电极.实验结果表明:以石英为基底,使用EPG533型光刻胶在前烘温度为105℃,曝光时间为8s,显影时间为50s时获得了较理想电极图形和稳定的实验参数. 展开更多

关键词 声表面波 微机电系统技术 器件制作 器件测试

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集成电路测试技术与应用 被引量：12

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作者 谷健 田延军 +1 位作者 史文 张晓黎 《中国惯性技术学报》 EI CSCD 2002年第1期60-64,共5页

通过对IMS公司生产的集成电路测试系统ATS的描述,讨论了集成电路(IC)的测试技术及其在ATS上的应用方法,并以大规模集成电路芯片8255为例,给出一种芯片在该集成电路测试系统上从功能分析到具体测试的使用过程。

关键词 集成电路 测试 芯片8255 元器件老化筛选测试

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测试失误引起的集成电路失效分析及预防措施 被引量：1

15

作者 陈鄞琛 张宇韬 《电子产品可靠性与环境试验》 2022年第S01期33-36,共4页

器件测试是发现集成电路潜在缺陷的关键步骤,但由于操作不当,也有可能引入新的失效。通过一个典型的失效案例,分析了器件测试过程中操作人员的不正确操作对器件失效的影响。通过分析器件测试过程中的各个环节因素,识别出器件测试过程中... 器件测试是发现集成电路潜在缺陷的关键步骤,但由于操作不当,也有可能引入新的失效。通过一个典型的失效案例,分析了器件测试过程中操作人员的不正确操作对器件失效的影响。通过分析器件测试过程中的各个环节因素,识别出器件测试过程中带电操作和使用金属镊子等不合规操作对器件的损伤,阐述了由此引起的器件过电应力失效机理,并提出了预防和控制此类失效的有效措施,对于提高器件的可靠性具有重要的意义。 展开更多

关键词 集成电路 器件测试 失效机理 失效分析 过电应力

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IGBT模块的双脉冲测试分析 被引量：3

16

作者 刘金节 《集成电路应用》 2022年第4期12-13,共2页

阐述一种使用双脉冲实验测试功率模块中IGBT性能时遇到的问题,解决方法,包括双脉冲电路原理、双脉冲实验器件的电压和电流特性。

关键词 器件测试 IGBT 双脉冲电路

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挑战无线测试的极限

17

作者 本刊编辑部 《电子科技》 2009年第9期63-63,共1页

关键词 无线测试 极限 动态范围 合二为一 网络分析 器件测试 功率计 NRP

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是德科技“模块化测试与测量解决方案”亚洲巡展,最新模块化产品齐亮相

18

作者 韩霜 《世界电子元器件》 2014年第10期51-52,共2页

2014年九月,北京,作为是德科技＂模块化测试与测量解决方案＂亚洲巡展的一站,是德科技中国通信产品中心市场战略经理Liz Ruetsch、元器件测试事业部市场开发经理黄思族、微波通信分部资深产品规划师刘刚、数字与光学测试事业部市场发展... 2014年九月,北京,作为是德科技＂模块化测试与测量解决方案＂亚洲巡展的一站,是德科技中国通信产品中心市场战略经理Liz Ruetsch、元器件测试事业部市场开发经理黄思族、微波通信分部资深产品规划师刘刚、数字与光学测试事业部市场发展经理阚先胜、软件和模块化解决方案事业部亚太区市场开发经理徐正平等多名负责人出席巡展,向新闻媒体行业的代表推介其阵容日趋扩大的模块化仪器。 展开更多

关键词 模块化产品 器件测试 科技 亚洲 测量 市场开发 模块化仪器 市场战略

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LTE设计验证与一致性测试系统安捷伦

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《通讯世界》 2011年第4期78-78,共1页

安捷伦科技公司日前宣布推出新的LTE设计验证和一致性测试系统。3款新系统将扩展Agilent GS－8800手机设计验证和一致性测试系列，帮助工程师进行LTE器件测试，以确保产品符合TS36．521－1标准。3款系统的核心信令引擎均为Agilent E6621... 安捷伦科技公司日前宣布推出新的LTE设计验证和一致性测试系统。3款新系统将扩展Agilent GS－8800手机设计验证和一致性测试系列，帮助工程师进行LTE器件测试，以确保产品符合TS36．521－1标准。3款系统的核心信令引擎均为Agilent E6621A PXT无线通信测试仪。 展开更多

关键词 一致性测试系统 安捷伦科技公司 设计验证 LTE 无线通信测试仪 器件测试 工程师 手机

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嵌入式存储器测试

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作者 Goh Swee Heng Toh Ser Chye Wong Kok Sun 《集成电路应用》 2008年第9期46-48,共3页

随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,... 随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,如SCAN〔扫描〕、MBIST(存储器内建自测试)以及BISR(内建自修复)。 展开更多

关键词 嵌入式存储器 器件测试 存储器内建自测试 SOC系统 可测性设计 MBIST 制造技术 测试技术

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