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题名材料缺陷的拉曼微探针研究
被引量：1
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作者
薛理辉
孙振亚
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机构
武汉工业大学材料研究与测试中心
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出处
《硅酸盐通报》
CAS
CSCD
北大核心
1994年第4期60-63,56,共5页
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文摘
本文利用拉曼微探针对某些硅酸盐材料的缺陷进行了组分与结构研究,并初步探讨了它们的成因.现有证据表明,平板玻璃中的微晶质体的出现多与气泡密切相关,气泡在玻璃熔制过程中起着微绝热体的作用,且其内部温度大约在825℃左右.另外,在陶瓷中发现伴有针孔的黑斑缺陷多为单质硅,这是由陶瓷粘土原料中的碳所致.
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关键词
缺陷
喇曼微探针
半透膜
硅酸盐
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Keywords
material defect, Raman microprobe, semitransparent film
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分类号
TQ170.7
[化学工程—硅酸盐工业]
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