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逻辑表达式图的实现及其在集成电路故障可测性中的应用
1
作者
陈世平
陈光(礻禹)
《四川大学学报（工程科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第2期151-154,共4页
数字电路的可靠性有着至关重要的影响,测试是其重要保证,测试向量的自动生成(ATPG)在数字电路的测试中占有重要地位;逻辑表达式图(Boolean Expression Diagrams,BED)是用于逻辑函数与逻辑电路表达与运算一种数据结构,能够将逻辑电路在...
数字电路的可靠性有着至关重要的影响,测试是其重要保证,测试向量的自动生成(ATPG)在数字电路的测试中占有重要地位;逻辑表达式图(Boolean Expression Diagrams,BED)是用于逻辑函数与逻辑电路表达与运算一种数据结构,能够将逻辑电路在线性空间复杂度内表达,是二元判决图(Binary Decision Diagrams,BDD)在概念上的推广且保留着BDD的许多有用的性质。讨论了BED的性质与实现方法,并将BED用于逻辑电路呆滞型故障测试向量的自动生成中,基于BED的测试算法直接将原电路与故障电路做异或运算后用BED表达再化简或判断其可满足性,算法能充分使用逻辑代数的化简规则和利用电路与故障电路的相似性。实验结果表明,基于BED的测试方法具有较低的复杂度。
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关键词
逻辑表达式图
二元判决图
呆滞型故障
测试
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职称材料
题名
逻辑表达式图的实现及其在集成电路故障可测性中的应用
1
作者
陈世平
陈光(礻禹)
机构
电子科技大学自动化学院
出处
《四川大学学报（工程科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第2期151-154,共4页
文摘
数字电路的可靠性有着至关重要的影响,测试是其重要保证,测试向量的自动生成(ATPG)在数字电路的测试中占有重要地位;逻辑表达式图(Boolean Expression Diagrams,BED)是用于逻辑函数与逻辑电路表达与运算一种数据结构,能够将逻辑电路在线性空间复杂度内表达,是二元判决图(Binary Decision Diagrams,BDD)在概念上的推广且保留着BDD的许多有用的性质。讨论了BED的性质与实现方法,并将BED用于逻辑电路呆滞型故障测试向量的自动生成中,基于BED的测试算法直接将原电路与故障电路做异或运算后用BED表达再化简或判断其可满足性,算法能充分使用逻辑代数的化简规则和利用电路与故障电路的相似性。实验结果表明,基于BED的测试方法具有较低的复杂度。
关键词
逻辑表达式图
二元判决图
呆滞型故障
测试
Keywords
Boolean Expression Diagrams
Binary Decision Diagrams
stuck-at faults
testing
分类号
TP206 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名
作者
出处
发文年
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1
逻辑表达式图的实现及其在集成电路故障可测性中的应用
陈世平
陈光(礻禹)
《四川大学学报（工程科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006
0
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