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题名X射线荧光光谱法测定含金石英石中7种成分
被引量：4
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作者
刘艳
曾静
胡军凯
李玉琴
冯朝军
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机构
大冶有色金属公司分析测试中心
湖北省鄂东南地质大队
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出处
《岩矿测试》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第5期580-583,共4页
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文摘
采用粉末直接压片,波长色散多道荧光光谱法快速测定含金石英石样品中SiO2、Al2O3、TFe2O3、CaO、MgO、Pb、Zn等7种成分。根据含金石英石中SiO2的含量范围,选取了与试样基体相匹配的含金石英生产样作为校准样品,采用化学法准确定值,确定了仪器的最佳分析参数。对于Si和Al轻元素,荧光强度随粒度变化较为显著;制作的校准样品应密封保存,粉末压片后需马上进行测试。方法操作简单,成本低,测定范围宽,灵敏度高,精密度(RSD,n=11)均小于2.5%。与化学法对照,结果符合较好。
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关键词
粉末压片法
X射线荧光光谱法
含金石英石
二氧化硅
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Keywords
pressed powder pellet
X-ray fluorescence spectrometry
Au-bearing quartz
SiO2
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分类号
TQ170.6
[化学工程—硅酸盐工业]
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