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测定单晶体同族多级衍射的简易方法
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作者 刘来保 《人工晶体学报》 CSCD 1991年第3期452-452,共1页
无论多晶还是单晶体同族多级衍射的存在及其规律性是判断晶体结构特性及方位的重要依据。人们可以利用多晶粉末作X射线衍射线谱图,找出多级衍射存在的规律性,但由于粉末样品衍射强度有限(特别高角度弱强度的晶面),往往很多应出现的衍射... 无论多晶还是单晶体同族多级衍射的存在及其规律性是判断晶体结构特性及方位的重要依据。人们可以利用多晶粉末作X射线衍射线谱图,找出多级衍射存在的规律性,但由于粉末样品衍射强度有限(特别高角度弱强度的晶面),往往很多应出现的衍射峰被掩盖而漏掉,所以JCPDS粉末卡上的很多数据是不全的,有时也是多余的。 展开更多
关键词 X射线衍射 简易方法 同族多级衍射 单晶体
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