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基于FPGA自适应滤波器的磁轴承位移传感器故障信号处理分析
被引量：
9
1
作者
宗鸣
冯超
郑安琪
《电气工程学报》
2018年第8期1-6,共6页
针对采用差动方式测量位移的主动磁悬浮轴承控制系统,研究了电涡流位移传感器故障信号与控制器输出信号之间的关系,分析了不同探头发生故障时位移传感器输出和控制器输出的特征,介绍了自适应滤波的工作原理,进而提出了基于自适应滤波的...
针对采用差动方式测量位移的主动磁悬浮轴承控制系统,研究了电涡流位移传感器故障信号与控制器输出信号之间的关系,分析了不同探头发生故障时位移传感器输出和控制器输出的特征,介绍了自适应滤波的工作原理,进而提出了基于自适应滤波的传感器故障诊断方法。该方法以两传感器输出信号的差值为参考信号对控制器的输出信号进行滤波,得到控制器输出信号与两传感器输出差值信号之间的相关系数,从而根据相关系数的极性准确判断出现故障的传感器。最后应用Matlab对其进行仿真,并结合基于可编程序门阵列（FPGA）的自适应滤波器对故障信号进行实验验证。结果表明,该方法可以准确地检测到传感器故障并识别故障传感器。
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关键词
电涡流位移传感器
可编程序门阵列
自适应滤波
故障诊断
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职称材料
符合ISO/IEC 15693协议的专用RFID并行晶圆测试系统设计
被引量：
2
2
作者
范巍
景为平
《实验室研究与探索》
CAS
北大核心
2017年第11期130-134,154,共6页
针对遵循ISO/IEC 15693协议的RFID(radio frequency identification)晶圆测试效率低下的问题,提出了一种16通道并行测试系统的方法,选用FPGA(field programmable gate array)作为逻辑处理器,使用并行处理的方法高效地实现逻辑功能;设计...
针对遵循ISO/IEC 15693协议的RFID(radio frequency identification)晶圆测试效率低下的问题,提出了一种16通道并行测试系统的方法,选用FPGA(field programmable gate array)作为逻辑处理器,使用并行处理的方法高效地实现逻辑功能;设计专用硬件测试电路,成本低、针对性强;采用16通道并行测试方法,大幅度提高测试效率;采用射频耦合式测试方法,完全模拟芯片的实际工作状态,保证测试结果与实际应用结果一致。实际测试中,测试晶圆为8 in(203 mm)。如果采用单通道串行测试系统,整片测试时间为36 h;采用16通道并行测试系统,测试时间为2.26 h。结果表明采用16通道并行测试的方法可以节约93.8%的时间,大大提高了测试效率,缩短了测试时间。
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关键词
射频识别
现场
可编程序门阵列
测试效率
晶圆
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职称材料
题名
基于FPGA自适应滤波器的磁轴承位移传感器故障信号处理分析
被引量：
9
1
作者
宗鸣
冯超
郑安琪
机构
沈阳工业大学电气工程学院
出处
《电气工程学报》
2018年第8期1-6,共6页
文摘
针对采用差动方式测量位移的主动磁悬浮轴承控制系统,研究了电涡流位移传感器故障信号与控制器输出信号之间的关系,分析了不同探头发生故障时位移传感器输出和控制器输出的特征,介绍了自适应滤波的工作原理,进而提出了基于自适应滤波的传感器故障诊断方法。该方法以两传感器输出信号的差值为参考信号对控制器的输出信号进行滤波,得到控制器输出信号与两传感器输出差值信号之间的相关系数,从而根据相关系数的极性准确判断出现故障的传感器。最后应用Matlab对其进行仿真,并结合基于可编程序门阵列（FPGA）的自适应滤波器对故障信号进行实验验证。结果表明,该方法可以准确地检测到传感器故障并识别故障传感器。
关键词
电涡流位移传感器
可编程序门阵列
自适应滤波
故障诊断
Keywords
Eddy current displacement sensor
field-programmable gate array
adaptive filtering
fault diagnosis
分类号
TM571 [电气工程—电器]
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职称材料
题名
符合ISO/IEC 15693协议的专用RFID并行晶圆测试系统设计
被引量：
2
2
作者
范巍
景为平
机构
南通大学江苏省集成电路设计重点实验室
出处
《实验室研究与探索》
CAS
北大核心
2017年第11期130-134,154,共6页
基金
低功耗射频识别标签研发(BE2013008-3)
江苏省产学研联合创新资金-前瞻性联合研究项目(BY2013042-03)
文摘
针对遵循ISO/IEC 15693协议的RFID(radio frequency identification)晶圆测试效率低下的问题,提出了一种16通道并行测试系统的方法,选用FPGA(field programmable gate array)作为逻辑处理器,使用并行处理的方法高效地实现逻辑功能;设计专用硬件测试电路,成本低、针对性强;采用16通道并行测试方法,大幅度提高测试效率;采用射频耦合式测试方法,完全模拟芯片的实际工作状态,保证测试结果与实际应用结果一致。实际测试中,测试晶圆为8 in(203 mm)。如果采用单通道串行测试系统,整片测试时间为36 h;采用16通道并行测试系统,测试时间为2.26 h。结果表明采用16通道并行测试的方法可以节约93.8%的时间,大大提高了测试效率,缩短了测试时间。
关键词
射频识别
现场
可编程序门阵列
测试效率
晶圆
Keywords
radio frequency identification （RFID）
field programmable gate array（FPGA）
test efficiency
wafer
分类号
TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于FPGA自适应滤波器的磁轴承位移传感器故障信号处理分析
宗鸣
冯超
郑安琪
《电气工程学报》
2018
9
在线阅读
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职称材料
2
符合ISO/IEC 15693协议的专用RFID并行晶圆测试系统设计
范巍
景为平
《实验室研究与探索》
CAS
北大核心
2017
2
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职称材料
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