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1
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基于遗传算法的分割可测试设计 |
李宇飞
余宙
付宇卓
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《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2007 |
0 |
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2
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基于嵌入式内核SOC I_(DDQ)可测试设计方法 |
冯建华
孙义和
李树国
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《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
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2003 |
0 |
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3
|
SOC可测试性设计与测试技术 |
胡瑜
韩银和
李晓维
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《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
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2005 |
42
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4
|
可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 |
李华伟
李晓维
尹志刚
吕涛
何蓉晖
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《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
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2002 |
5
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5
|
SoC的可测试性设计技术 |
王永生
肖立伊
毛志刚
叶以正
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《同济大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2002 |
4
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6
|
可测试性设计中的优化问题及求解算法 |
胡 政
温熙森
钱彦岭
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《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
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2000 |
4
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7
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“存储＋逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计 |
叶靖
郭瑞峰
胡瑜
郑武东
黄宇
赖李洋
李晓维
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《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
|
2014 |
6
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8
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NRS4000微处理器的可测试性设计 |
张盛兵
高德远
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《西北工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1999 |
4
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9
|
一种适用于Chiplet测试的通用测试访问端口控制器电路设计 |
蔡志匡
周国鹏
宋健
王子轩
郭宇锋
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《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
|
2023 |
2
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10
|
星载软件可测试性设计方法 |
袁利
王磊
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《中国空间科学技术》
EI
CSCD
北大核心
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2010 |
4
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11
|
航天器可测试性设计研究 |
李彬
张强
任焜
唐宁
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《空间控制技术与应用》
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2010 |
7
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12
|
SoC设计中的扫描测试技术 |
徐勇军
张伸
张志敏
李晓维
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《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
|
2005 |
1
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13
|
故障测试结构与调试结构的一体化设计 |
李少青
邓勤学
|
《计算机工程与科学》
CSCD
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2006 |
4
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14
|
用作模拟可测试性设计的奇佳辨识 |
赵国南
张福洪
程林滨
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《同济大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2002 |
1
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15
|
混合技术PCB可测试性设计优化方法 |
胡政
温熙森
刘冠军
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《电子测量技术》
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1999 |
1
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16
|
新颖综合可测试性设计优化算法 |
胡政
温熙森
刘冠军
|
《电子测量技术》
|
2000 |
1
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17
|
支持边界扫描测试的电路设计 |
李鑫
刘伟
|
《无线电通信技术》
|
2009 |
3
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18
|
空间电子设备电路板可靠性可测试性设计检查 |
曲利新
|
《现代电子技术》
|
2011 |
4
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19
|
基于LASAR的数字电路可测试性设计仿真 |
毛磊
唐华
|
《中国测试技术》
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2007 |
2
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20
|
一种低功耗系统芯片的可测试性设计方案 |
徐太龙
鲁世斌
代广珍
孟坚
陈军宁
|
《计算机工程》
CAS
CSCD
|
2014 |
0 |
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