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可测试性设计技术
1
作者
蒋敬旗
《中国集成电路》
2002年第8期41-46,共6页
本文阐述了测试和可测试性设计的重要性,并对故障模型进行了分析,着重强调了内建自测试技术的组成方法和设计中需要考虑的问题,同时也指出了可测试性设计中进行功耗优化的发展方向。
关键词
可测试性设计技术
时序电路
故障模型
自动
测试
设备
确定
性
测试
生成
物理故障
内建自
测试
集成电路
设计
与开发
功耗优化
在线阅读
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职称材料
题名
可测试性设计技术
1
作者
蒋敬旗
机构
中国科学院计算技术研究所
出处
《中国集成电路》
2002年第8期41-46,共6页
文摘
本文阐述了测试和可测试性设计的重要性,并对故障模型进行了分析,着重强调了内建自测试技术的组成方法和设计中需要考虑的问题,同时也指出了可测试性设计中进行功耗优化的发展方向。
关键词
可测试性设计技术
时序电路
故障模型
自动
测试
设备
确定
性
测试
生成
物理故障
内建自
测试
集成电路
设计
与开发
功耗优化
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
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作者
出处
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1
可测试性设计技术
蒋敬旗
《中国集成电路》
2002
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