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复杂系统测试性设计与故障诊断策略研究进展 被引量:1
1
作者 陆宁云 李洋 +2 位作者 姜斌 黄守金 马坤 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 北大核心 2024年第7期2359-2373,共15页
测试性设计是提高系统可靠性、安全性、维修性、保障性的重要前沿技术,决定了系统故障检测率和隔离率,直接影响系统的维护(测试)成本。系统测试性设计包含结构化设计、模型化设计、数据驱动设计等多种设计策略。其中,数据驱动设计于近... 测试性设计是提高系统可靠性、安全性、维修性、保障性的重要前沿技术,决定了系统故障检测率和隔离率,直接影响系统的维护(测试)成本。系统测试性设计包含结构化设计、模型化设计、数据驱动设计等多种设计策略。其中,数据驱动设计于近年逐渐兴起并成为重要发展方向之一,该类方法通过对系统测试与故障之间的关系进行建模,依据测试结果进行故障推理,形成故障诊断方案。首先,简要回顾了系统测试性设计的发展历程;其次,重点介绍了测试性设计的研究进展,分析总结了结构化、模型化、数据驱动3类测试方案;然后,介绍了测试性诊断策略构建,根据测试方案中的建模方法确定诊断策略的构建技术,并总结归纳了每类技术的研究特点和适用性;最后,探讨了当前复杂系统测试性设计面临的挑战性问题和可能的未来研究方向。 展开更多
关键词 测试设计 模型化设计 数据驱动 测试诊断策略
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航天器可测试性设计研究 被引量:7
2
作者 李彬 张强 +1 位作者 任焜 唐宁 《空间控制技术与应用》 2010年第5期13-17,共5页
在调研国内外可测试性技术发展历程的基础上,分析中国航天器可测试性设计技术与国外的差距,探讨其发展的前提条件和规划方法,提出适合中国航天器的可测试性设计的技术实现途径.
关键词 航天器 可测试设计(dft) IEEE1149标准 内部测试(BIT)
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SOC可测试性设计与测试技术 被引量:42
3
作者 胡瑜 韩银和 李晓维 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2005年第1期153-162,共10页
超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性... 超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩/解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向. 展开更多
关键词 芯片系统 可测试设计 测试资源划分 测试资源优化
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基于结构模型的测试性设计与分析技术研究 被引量:9
4
作者 连光耀 黄考利 +1 位作者 郭瑞 姜玉海 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 北大核心 2007年第10期1777-1780,共4页
为了解决因系统信息获取困难导致装备早期测试性设计和维修诊断工作难度增加的问题,提出了一种基于系统结构模型的测试性设计与分析方法。该方法借助图论的数学工具对系统进行数学建模,通过定量分析完成系统的模块划分;在此基础上,建立... 为了解决因系统信息获取困难导致装备早期测试性设计和维修诊断工作难度增加的问题,提出了一种基于系统结构模型的测试性设计与分析方法。该方法借助图论的数学工具对系统进行数学建模,通过定量分析完成系统的模块划分;在此基础上,建立测试相关性矩阵,以最小测试代价为优化目标函数,应用Huffman信息编码方法生成系统的故障诊断树。与其他方法相比,该方法不仅结果更加优化,而且对系统的内部信息依赖相对较少,可以有效应用于设备的早期测试性设计以及使用过程中的维修诊断工作。 展开更多
关键词 测试设计 测试分析 故障传播有向图 故障诊断
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基于合约的构件易测试性设计支撑工具的设计与实现 被引量:5
5
作者 单锦辉 姜瑛 +2 位作者 刘江红 辛国茂 侯姗姗 《北京大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第5期815-819,共5页
构件技术的新特点为构件测试带来挑战。合约式设计是一种重要的软件易测试性设计方法。基于合约的构件易测试性设计为构件测试提供了一种有效的手段。设计并实现了一种新的合约式设计工具(PKUJDBCT),为构件的易测试性设计提供有力的支撑... 构件技术的新特点为构件测试带来挑战。合约式设计是一种重要的软件易测试性设计方法。基于合约的构件易测试性设计为构件测试提供了一种有效的手段。设计并实现了一种新的合约式设计工具(PKUJDBCT),为构件的易测试性设计提供有力的支撑,并为今后进一步研究基于合约的构件易测试性设计方法打下了良好的基础。 展开更多
关键词 软件测试 软件的易测试 构件 合约式设计
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电子装备固有测试性分析系统设计 被引量:4
6
作者 姜为学 程远增 +1 位作者 李鸣 肖志伟 《弹箭与制导学报》 CSCD 北大核心 2009年第3期205-208,共4页
传统电子装备的固有测试性分析需要大量的试验和统计,费时费力。利用电路仿真故障注入的办法,可以使大量的试验在计算机上模拟进行,能方便快捷地给出结论。文中验证了该方法的可行性,并以其为基础,探讨了某电子装备固有测试性分析系统... 传统电子装备的固有测试性分析需要大量的试验和统计,费时费力。利用电路仿真故障注入的办法,可以使大量的试验在计算机上模拟进行,能方便快捷地给出结论。文中验证了该方法的可行性,并以其为基础,探讨了某电子装备固有测试性分析系统的设计。 展开更多
关键词 测试 测试分析 电子装备 设计
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装备测试性设计关键技术研究 被引量:5
7
作者 连光耀 黄考利 +1 位作者 陈建辉 高凤岐 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第z2期1196-1197,共2页
从CAD的发展入手,对电子装备测试性设计技术进行分析和总结。依照“并行工程”的思想,给出了装备测试性智能设计系统的层次结构和模型,阐述了测试性设计与装备其他设计属性的关系,最后从知识的表示方法、知识的获取途径和知识的应用三... 从CAD的发展入手,对电子装备测试性设计技术进行分析和总结。依照“并行工程”的思想,给出了装备测试性智能设计系统的层次结构和模型,阐述了测试性设计与装备其他设计属性的关系,最后从知识的表示方法、知识的获取途径和知识的应用三个方面对实现测试性智能设计的关键技术进行了研究。 展开更多
关键词 智能设计 测试设计 设计自动化 智能工程
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SoC的可测试性设计技术 被引量:4
8
作者 王永生 肖立伊 +1 位作者 毛志刚 叶以正 《同济大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第10期1271-1276,共6页
基于可复用的嵌入式IP(intellectualproperty)模块的系统级芯片 (SoC)设计方法使测试面临新的挑战 ,需要研究开发新的测试方法和策略 .结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术 ... 基于可复用的嵌入式IP(intellectualproperty)模块的系统级芯片 (SoC)设计方法使测试面临新的挑战 ,需要研究开发新的测试方法和策略 .结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术 ,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点 ,着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案 :IEEEP15 0 0和虚拟插座接口联盟 (VSIA)测试访问结构 . 展开更多
关键词 SOC 系统级芯片 可测试设计 测试访问结构 芯片设计 芯片测试 嵌入式IP模块
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可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 被引量:5
9
作者 李华伟 李晓维 +2 位作者 尹志刚 吕涛 何蓉晖 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2002年第16期191-194,共4页
可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,... 可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,为提高芯片的易测性而采取的各种可测试性设计技术,主要包括扫描设计(ScanDesign)、存储器内建自测试(Build-in-self-test,简称BIST)以及与IEEE1149.1标准兼容的边界扫描设计(BoundaryScanDesign,简称BSD)等技术。这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。 展开更多
关键词 可测试设计 CPU芯片 扫描设计 TEEE1149.1标准
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基于混合诊断模型的复杂系统测试性设计与分析 被引量:8
10
作者 吕晓明 黄考利 +1 位作者 连光耀 薛凯旋 《弹箭与制导学报》 CSCD 北大核心 2008年第6期283-286,共4页
测试性设计的关键是要寻求一种良好的测试性模型。混合诊断模型是一种将功能模型和故障模式模型建立在一个系统模型中测试性设计与分析模型,它通过对测试的定义,有效地描述了测试、故障模式和功能三者之间的关系。并且,该模型已经在DSI... 测试性设计的关键是要寻求一种良好的测试性模型。混合诊断模型是一种将功能模型和故障模式模型建立在一个系统模型中测试性设计与分析模型,它通过对测试的定义,有效地描述了测试、故障模式和功能三者之间的关系。并且,该模型已经在DSI公司的eXpress软件中得到实现。最后,应用放大器实例,在eX-press软件中进行混合诊断建模,通过诊断学习,得到诊断策略和测试性设计的指标,验证了模型的有效性。事实证明,混合诊断模型是一种有效的测试性模型。 展开更多
关键词 测试设计 混合诊断模型 EXPRESS软件
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基于弹上总线的导弹装备测试性设计方法 被引量:6
11
作者 胥辉旗 田燕妮 陈望达 《兵工自动化》 2012年第1期1-3,共3页
为克服传统测试方法在测试数字电路板时的技术障碍,提出基于弹上总线及边界扫描的弹上设备机内自测试设计方案。在介绍IM总线(module test and maintenance bus,TM Bus)和边界扫描的基础上,论述系统测试性设计的基本概念,搭建测试试验系... 为克服传统测试方法在测试数字电路板时的技术障碍,提出基于弹上总线及边界扫描的弹上设备机内自测试设计方案。在介绍IM总线(module test and maintenance bus,TM Bus)和边界扫描的基础上,论述系统测试性设计的基本概念,搭建测试试验系统,并对系统测试性设计概念和主要考核指标进行演示、验证。结果表明:该设计能简化导弹的测试流程,提高导弹武器系统的可靠性、维修性和测试性。 展开更多
关键词 导弹 测试设计 机内测试 边界扫描
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复杂电子装备智能测试性设计技术 被引量:3
12
作者 连光耀 黄考利 +1 位作者 陈建辉 高凤岐 《兵工自动化》 2006年第8期71-72,共2页
电子装备测试性设计技术的分析,从CAD的发展入手。依照“并行工程”的思想,建立装备测试性智能设计系统层次结构和模型。测试性智能设计的关键技术,包括知识表示方法、知识获取途径和知识应用三方面。
关键词 智能设计 测试设计 设计自动化 智能工程
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软件测试性设计综述 被引量:5
13
作者 付剑平 陆民燕 《计算机应用》 CSCD 北大核心 2008年第11期2915-2918,共4页
软件测试性设计分为四类:设计时应当遵循的测试性设计原则,通过改变设计或代码提高软件测试性的专用测试性设计技术,为软件增加专门测试结构的结构化测试性设计技术和在软件开发全周期考虑软件测试的测试性设计综合技术。软件测试性设... 软件测试性设计分为四类:设计时应当遵循的测试性设计原则,通过改变设计或代码提高软件测试性的专用测试性设计技术,为软件增加专门测试结构的结构化测试性设计技术和在软件开发全周期考虑软件测试的测试性设计综合技术。软件测试性设计方法借用了很多硬件测试性设计思想,但在许多方面还能进一步发展。 展开更多
关键词 软件测试设计 软件测试 软件开发周期
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基于边界扫描的电路板测试性优化设计 被引量:6
14
作者 刘冠军 温熙森 易晓山 《计算机工程与科学》 CSCD 2002年第2期73-76,共4页
基于边界扫描的电路板测试性设计中 ,迫切需要解决“测试性改善程度一定时 ,如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题。本文首先深入分析了该问题 ,证明它是一个NP 完全问题 ,然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明 ... 基于边界扫描的电路板测试性设计中 ,迫切需要解决“测试性改善程度一定时 ,如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题。本文首先深入分析了该问题 ,证明它是一个NP 完全问题 ,然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明 ,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案。 展开更多
关键词 边界扫描 电路板 测试优化设计 贪婪策略
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可测试性设计中的优化问题及求解算法 被引量:4
15
作者 胡 政 温熙森 钱彦岭 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2000年第11期42-44,共3页
近20年来,为了解决结构日益复杂的VLSI电路的测试问题,可测试性设计技术得到了迅速发展.在可测试性设计中,如何针对不同的对象及测试需求进行优化设计,以尽可能降低总体设计代价,是一个非常重要且亟待解决的问题.文章应用图论对可测试... 近20年来,为了解决结构日益复杂的VLSI电路的测试问题,可测试性设计技术得到了迅速发展.在可测试性设计中,如何针对不同的对象及测试需求进行优化设计,以尽可能降低总体设计代价,是一个非常重要且亟待解决的问题.文章应用图论对可测试性设计中的两种典型优化问题进行了数学描述,并构造了相应的可行求解算法. 展开更多
关键词 可测试设计 优化问题 求解算法 集成电路
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NRS4000微处理器的可测试性设计 被引量:4
16
作者 张盛兵 高德远 《西北工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第3期344-349,共6页
现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,又有寄存器堆、 Cache等嵌入式部件,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。本文简要讨论了 N R S4000 微... 现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,又有寄存器堆、 Cache等嵌入式部件,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。本文简要讨论了 N R S4000 微处理器芯片的以边界扫描测试为主体,以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍了芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器 P L A 和微程序 R O M 以及采用内嵌 R A M 结构的指令 Cache 和寄存器堆的内建自测试设计。结果表明,这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。 展开更多
关键词 微处理器 测试 边界扫描 可测试设计 NRS4000
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基于多信号模型的火控系统测试性优化设计 被引量:5
17
作者 陈春良 邵思杰 《火炮发射与控制学报》 北大核心 2010年第4期95-98,共4页
测试性设计是要保证武器系统具有良好的测试性。在以往的武器系统中,测试性设计的优劣往往在实装试验验证后才能做出评价。基于系统测试性模型的测试性设计,可以通过仿真验证不断地改进,从而优化和提高武器系统的测试性。分析了某坦克... 测试性设计是要保证武器系统具有良好的测试性。在以往的武器系统中,测试性设计的优劣往往在实装试验验证后才能做出评价。基于系统测试性模型的测试性设计,可以通过仿真验证不断地改进,从而优化和提高武器系统的测试性。分析了某坦克火控系统控制信号的传递关系,建立了该系统的TEAMS仿真模型,利用TEAMS DFT Feedback诊断策略,采用增加测试点的方式优化系统的测试性设计。结果表明,优化设计后火控系统测试性显著提高。 展开更多
关键词 信息处理技术 多信号模型 测试设计 TEAMS
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“存储+逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计 被引量:6
18
作者 叶靖 郭瑞峰 +4 位作者 胡瑜 郑武东 黄宇 赖李洋 李晓维 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2014年第1期146-153,共8页
为了缩短硅通孔的测试时间,针对符合JESD229和IEEE1149.1边界扫描协议的"存储+逻辑"3D集成电路,提出一种硅通孔可测试性设计.首先在逻辑晶片上增加控制模块,用于控制存储晶片的边界扫描链;然后通过修改逻辑晶片上原有边界扫... 为了缩短硅通孔的测试时间,针对符合JESD229和IEEE1149.1边界扫描协议的"存储+逻辑"3D集成电路,提出一种硅通孔可测试性设计.首先在逻辑晶片上增加控制模块,用于控制存储晶片的边界扫描链;然后通过修改逻辑晶片上原有边界扫描链结构,实现串联和并联2种与存储晶片边界扫描链连接的模式;最后在逻辑晶片上增加寄存器,以保存测试过程所使用的配置比特,控制整体测试流程.实验数据表明,该设计仅比原有的IEEE1149.1边界扫描电路增加了0.4%的面积开销,而测试时间缩短为已有工作的1?6. 展开更多
关键词 3D集成电路 硅通孔 可测试设计 JEDEC协议JESD229 IEEE 1149 1协议
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计算机辅助测试性设计中的测试性改善最大化问题研究 被引量:1
19
作者 刘冠军 易晓山 柳新民 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2002年第17期16-17,51,共3页
基于边界扫描的计算机辅助电路板测试性设计中,面临着“设计复杂性一定时,如何权衡设计使得测试性改善最大”的问题。文章首先建立了该问题的数学描述,然后提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性... 基于边界扫描的计算机辅助电路板测试性设计中,面临着“设计复杂性一定时,如何权衡设计使得测试性改善最大”的问题。文章首先建立了该问题的数学描述,然后提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案。 展开更多
关键词 最大化问题 计算机辅助测试设计 边界扫描 测试优化设计 电路板
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星载软件可测试性设计方法 被引量:4
20
作者 袁利 王磊 《中国空间科学技术》 EI CSCD 北大核心 2010年第4期31-37,共7页
随着星载软件复杂度的增加,提高软件测试效率对保证软件质量越来越重要,软件的可测试性设计成为提高软件测试效率的关键手段。文中针对星载软件的可测试性设计提出了四种方法:设计可测试的分层体系结构可将软件故障限制在层次范围内;合... 随着星载软件复杂度的增加,提高软件测试效率对保证软件质量越来越重要,软件的可测试性设计成为提高软件测试效率的关键手段。文中针对星载软件的可测试性设计提出了四种方法:设计可测试的分层体系结构可将软件故障限制在层次范围内;合约式任务模板可规范任务的输入输出,降低任务间的耦合性;状态序列编码可用于动态指示软件的切换与流向;多任务调度记录与堆栈使用记录可用于静态复现一段时间内软件的详细工作过程。可测试性设计方法应用在某项目的软件研制中,软件测试效率有明显提高,证明方法可行有效。 展开更多
关键词 星载软件 可测试设计 软件体系结构 任务模板 状态序列 航天器
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