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一种行为级可测试性综合方法
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作者 李瑛 高德远 张盛兵 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2004年第10期51-53,共3页
伴随着高层次综合技术的普及和深入,高层次可测试性综合技术引起了广泛的关注。在简单介绍当前可测试性综合技术的现状后,提出了采用"VHDL进,VHDL出"的方式进行行为级可测试性综合的流程,并提出了一个新的行为级可测试性分析... 伴随着高层次综合技术的普及和深入,高层次可测试性综合技术引起了广泛的关注。在简单介绍当前可测试性综合技术的现状后,提出了采用"VHDL进,VHDL出"的方式进行行为级可测试性综合的流程,并提出了一个新的行为级可测试性分析算法,然后讨论了测试点的选择、可测试结构的规范化描述和自动插入的技术与方法。 展开更多
关键词 测试 可测试性分析 可测试性综合 行为级综合
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基于DSPN的航天器系统级可测试性指标确定方法 被引量:8
2
作者 白力舸 王华茂 闫金栋 《航天器工程》 2013年第6期127-133,共7页
为确定航天器系统级可测试性设计的指标要求,对一种基于确定与随机Petri网(Deterministic and Stochastic Petri Net,DSPN)模型的可测试性指标确定方法进行了研究。通过对航天器系统测试过程的DSPN建模,建立起系统级可测试性设计指标与... 为确定航天器系统级可测试性设计的指标要求,对一种基于确定与随机Petri网(Deterministic and Stochastic Petri Net,DSPN)模型的可测试性指标确定方法进行了研究。通过对航天器系统测试过程的DSPN建模,建立起系统级可测试性设计指标与其约束的联系,并利用求解模型同构的马尔科夫链来确定上述关系,文章同时给出了建模设计实例,进行了指标分析和验证。 展开更多
关键词 航天器 确定与随机PETRI网 可测试性设计 系统级可测试性指标
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SOC可测试性设计与测试技术 被引量:42
3
作者 胡瑜 韩银和 李晓维 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2005年第1期153-162,共10页
超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性... 超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩/解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向. 展开更多
关键词 芯片系统 可测试性设计 测试资源划分 测试资源优化
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基于内部1553B总线的航天器控制系统可测试性框架设计与验证 被引量:4
4
作者 王海博 袁利 《空间控制技术与应用》 2014年第2期26-30,共5页
可测试性设计是提升系统研制效率和测试品质的重要方法.给出基于内部1553B总线的航天器控制系统可测试性设计的分层递阶结构,建立可测试性设计的模型框架,并对基于1553B总线的航天器控制系统可测试性设计的技术实现进行了分析.最后利用T... 可测试性设计是提升系统研制效率和测试品质的重要方法.给出基于内部1553B总线的航天器控制系统可测试性设计的分层递阶结构,建立可测试性设计的模型框架,并对基于1553B总线的航天器控制系统可测试性设计的技术实现进行了分析.最后利用TEAMS软件结合实例进行可测试性设计仿真评估,评估结果证明了这种可测试性设计方法的有效性. 展开更多
关键词 可测试性设计 可测试性标准 基于总线的体系结构 航天器控制系统
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可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 被引量:5
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作者 李华伟 李晓维 +2 位作者 尹志刚 吕涛 何蓉晖 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2002年第16期191-194,共4页
可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,... 可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,为提高芯片的易测性而采取的各种可测试性设计技术,主要包括扫描设计(ScanDesign)、存储器内建自测试(Build-in-self-test,简称BIST)以及与IEEE1149.1标准兼容的边界扫描设计(BoundaryScanDesign,简称BSD)等技术。这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。 展开更多
关键词 可测试性设计 CPU芯片 扫描设计 TEEE1149.1标准
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可测试性技术中的图论问题及其求解 被引量:7
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作者 胡政 黎琼炜 温熙森 《国防科技大学学报》 EI CAS CSCD 2000年第6期105-108,共4页
近 2 0年来 ,为了解决结构日益复杂的电路测试问题 ,可测试性技术得到了迅速发展。在可测试性技术中 ,针对不同的测试对象 ,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化 ,降低总体代价 ,是亟待解决的问题。为了解决这两类典型的优化问... 近 2 0年来 ,为了解决结构日益复杂的电路测试问题 ,可测试性技术得到了迅速发展。在可测试性技术中 ,针对不同的测试对象 ,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化 ,降低总体代价 ,是亟待解决的问题。为了解决这两类典型的优化问题 ,首先应用图论方法建立问题的拓扑描述模型 ,然后通过构造相应的逻辑求解函数 ,给出问题最优解的求解算法 。 展开更多
关键词 可测试性 优化 图论 算法 电子设备
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SoC的可测试性设计技术 被引量:4
7
作者 王永生 肖立伊 +1 位作者 毛志刚 叶以正 《同济大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第10期1271-1276,共6页
基于可复用的嵌入式IP(intellectualproperty)模块的系统级芯片 (SoC)设计方法使测试面临新的挑战 ,需要研究开发新的测试方法和策略 .结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术 ... 基于可复用的嵌入式IP(intellectualproperty)模块的系统级芯片 (SoC)设计方法使测试面临新的挑战 ,需要研究开发新的测试方法和策略 .结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术 ,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点 ,着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案 :IEEEP15 0 0和虚拟插座接口联盟 (VSIA)测试访问结构 . 展开更多
关键词 SOC 系统级芯片 可测试性设计 测试访问结构 芯片设计 芯片测试 嵌入式IP模块
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软件可测试性检测技术研究 被引量:5
8
作者 钱红兵 赵巍 程杜平 《计算机应用》 CSCD 北大核心 2004年第4期16-19,共4页
软件的可测试性表示软件中故障检测的难易程度,是重要的软件质量特性之一。文章介绍相关的故障/失效模型和RELAY错误检测模型。提出了一个完整的软件故障检测过程:执行过程、传染过程、传播过程。对程序结构,最小表达式错误产生、计算... 软件的可测试性表示软件中故障检测的难易程度,是重要的软件质量特性之一。文章介绍相关的故障/失效模型和RELAY错误检测模型。提出了一个完整的软件故障检测过程:执行过程、传染过程、传播过程。对程序结构,最小表达式错误产生、计算转移、信息流转移等进行分析。提出了一种通过概率进行度量的可测试性静态检测方法,即整个程序可测试性由其包含的所有语句可测试性均值得到。 展开更多
关键词 可测试性 故障检测 故障 失效 传染 传播
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机载光电成像设备的可测试性系统设计 被引量:4
9
作者 刘晶红 孙辉 +1 位作者 沈宏海 李仕 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第12期2435-2440,共6页
为提高机载光电成像系统的可测试性,对该设备进行了全面的可测试性系统设计。可测试性系统由自测试系统、测试信息口、外部测试系统3部分组成。采用模糊理论与专家系统相结合的方法,解决了目前产品普遍存在的可测试性设计考虑不足、自... 为提高机载光电成像系统的可测试性,对该设备进行了全面的可测试性系统设计。可测试性系统由自测试系统、测试信息口、外部测试系统3部分组成。采用模糊理论与专家系统相结合的方法,解决了目前产品普遍存在的可测试性设计考虑不足、自动化程度不高、故障诊断不到位等问题。实验显示,可测试性系统设计的设备故障诊断率达97%以上,说明在可测试性设计中采用模糊理论与专家系统相结合的方法是行之有效的。 展开更多
关键词 机载设备 光电成像设备 可测试性 故障诊断
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可测试性在光电雷达检测设备中的应用 被引量:5
10
作者 黄晓晴 缪永生 于盛林 《哈尔滨工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第3期161-164,共4页
简要分析了某型飞机光电雷达的工作过程,给出了基于虚拟仪器技术的光电雷达综合参数检测设备的软、硬件设计,重点阐述了可测试性设计在系统设计中的一般过程,以及在本设备中的应用.机内测试技术(B IT)在本设备中的应用,使设备内部具备... 简要分析了某型飞机光电雷达的工作过程,给出了基于虚拟仪器技术的光电雷达综合参数检测设备的软、硬件设计,重点阐述了可测试性设计在系统设计中的一般过程,以及在本设备中的应用.机内测试技术(B IT)在本设备中的应用,使设备内部具备检测和隔离故障的自动测试能力,从而有效地提高研制设备的可维修性、可用性、可靠性. 展开更多
关键词 可测试性 机内测试 光电雷达 虚拟仪器 检测设备
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“存储+逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计 被引量:6
11
作者 叶靖 郭瑞峰 +4 位作者 胡瑜 郑武东 黄宇 赖李洋 李晓维 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2014年第1期146-153,共8页
为了缩短硅通孔的测试时间,针对符合JESD229和IEEE1149.1边界扫描协议的"存储+逻辑"3D集成电路,提出一种硅通孔可测试性设计.首先在逻辑晶片上增加控制模块,用于控制存储晶片的边界扫描链;然后通过修改逻辑晶片上原有边界扫... 为了缩短硅通孔的测试时间,针对符合JESD229和IEEE1149.1边界扫描协议的"存储+逻辑"3D集成电路,提出一种硅通孔可测试性设计.首先在逻辑晶片上增加控制模块,用于控制存储晶片的边界扫描链;然后通过修改逻辑晶片上原有边界扫描链结构,实现串联和并联2种与存储晶片边界扫描链连接的模式;最后在逻辑晶片上增加寄存器,以保存测试过程所使用的配置比特,控制整体测试流程.实验数据表明,该设计仅比原有的IEEE1149.1边界扫描电路增加了0.4%的面积开销,而测试时间缩短为已有工作的1?6. 展开更多
关键词 3D集成电路 硅通孔 可测试性设计 JEDEC协议JESD229 IEEE 1149 1协议
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一种并发程序可测试性分析框架 被引量:3
12
作者 陈振强 徐宝文 +1 位作者 许蕾 张斌 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2003年第12期1685-1689,共5页
软件可测试性是对测试软件难易程度的预测 ,在测试、度量等许多领域中得到了广泛应用 .由于并发程序执行的不确定性 ,其可测试性分析尚有很多难点有待解决 .该文提出了一种并发程序可测试性分析框架 .在充分分析程序内部数据流、控制流... 软件可测试性是对测试软件难易程度的预测 ,在测试、度量等许多领域中得到了广泛应用 .由于并发程序执行的不确定性 ,其可测试性分析尚有很多难点有待解决 .该文提出了一种并发程序可测试性分析框架 .在充分分析程序内部数据流、控制流以及并发和同步对数据流和控制流影响的基础上 ,从单个并发单元、并发因素、共享变量因素及通信关系 4个方面对并发程序的可测试性进行了分析 ,为综合度量并发程序的可测试性提供了依据 . 展开更多
关键词 并发程序 可测试性分析 软件测试 软件分析 软件开发
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一种基于模糊评估分层模型的构件可测试性评价方法 被引量:7
13
作者 刘哲 张为群 肖魏娜 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2011年第5期113-115,共3页
分析了构件可测试性研究的情况,提出了一个基于模糊评估分层模型的构件可测试性评价方法。该方法按照模糊综合评价的原理建立指标集和评价集,并且提出了AHP,SCTFCE和MCTFCE 3个算法,以对构件的可测试性作出一个较准确的评估结果。仿真... 分析了构件可测试性研究的情况,提出了一个基于模糊评估分层模型的构件可测试性评价方法。该方法按照模糊综合评价的原理建立指标集和评价集,并且提出了AHP,SCTFCE和MCTFCE 3个算法,以对构件的可测试性作出一个较准确的评估结果。仿真实验表明,这是一种有效的评价方法。 展开更多
关键词 构件 可测试性 模糊综合评价
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可测试性设计中的优化问题及求解算法 被引量:4
14
作者 胡 政 温熙森 钱彦岭 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2000年第11期42-44,共3页
近20年来,为了解决结构日益复杂的VLSI电路的测试问题,可测试性设计技术得到了迅速发展.在可测试性设计中,如何针对不同的对象及测试需求进行优化设计,以尽可能降低总体设计代价,是一个非常重要且亟待解决的问题.文章应用图论对可测试... 近20年来,为了解决结构日益复杂的VLSI电路的测试问题,可测试性设计技术得到了迅速发展.在可测试性设计中,如何针对不同的对象及测试需求进行优化设计,以尽可能降低总体设计代价,是一个非常重要且亟待解决的问题.文章应用图论对可测试性设计中的两种典型优化问题进行了数学描述,并构造了相应的可行求解算法. 展开更多
关键词 可测试性设计 优化问题 求解算法 集成电路
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NRS4000微处理器的可测试性设计 被引量:4
15
作者 张盛兵 高德远 《西北工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第3期344-349,共6页
现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,又有寄存器堆、 Cache等嵌入式部件,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。本文简要讨论了 N R S4000 微... 现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,又有寄存器堆、 Cache等嵌入式部件,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。本文简要讨论了 N R S4000 微处理器芯片的以边界扫描测试为主体,以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍了芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器 P L A 和微程序 R O M 以及采用内嵌 R A M 结构的指令 Cache 和寄存器堆的内建自测试设计。结果表明,这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。 展开更多
关键词 微处理器 测试 边界扫描 可测试性设计 NRS4000
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星载软件可测试性设计方法 被引量:4
16
作者 袁利 王磊 《中国空间科学技术》 EI CSCD 北大核心 2010年第4期31-37,共7页
随着星载软件复杂度的增加,提高软件测试效率对保证软件质量越来越重要,软件的可测试性设计成为提高软件测试效率的关键手段。文中针对星载软件的可测试性设计提出了四种方法:设计可测试的分层体系结构可将软件故障限制在层次范围内;合... 随着星载软件复杂度的增加,提高软件测试效率对保证软件质量越来越重要,软件的可测试性设计成为提高软件测试效率的关键手段。文中针对星载软件的可测试性设计提出了四种方法:设计可测试的分层体系结构可将软件故障限制在层次范围内;合约式任务模板可规范任务的输入输出,降低任务间的耦合性;状态序列编码可用于动态指示软件的切换与流向;多任务调度记录与堆栈使用记录可用于静态复现一段时间内软件的详细工作过程。可测试性设计方法应用在某项目的软件研制中,软件测试效率有明显提高,证明方法可行有效。 展开更多
关键词 星载软件 可测试性设计 软件体系结构 任务模板 状态序列 航天器
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航天器可测试性设计研究 被引量:7
17
作者 李彬 张强 +1 位作者 任焜 唐宁 《空间控制技术与应用》 2010年第5期13-17,共5页
在调研国内外可测试性技术发展历程的基础上,分析中国航天器可测试性设计技术与国外的差距,探讨其发展的前提条件和规划方法,提出适合中国航天器的可测试性设计的技术实现途径.
关键词 航天器 可测试性设计(DFT) IEEE1149标准 内部测试(BIT)
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基于单组件信号模型的系统可测试性分析 被引量:4
18
作者 唐小峰 曾庆华 《中国测试》 CAS 2010年第6期86-90,共5页
针对系统可测试性分析方法的研究,采用概率分布方法、面向对象方法和蒙特卡罗方法等多种手段对判读信号状态、建立单组件信号逻辑关系、构建系统面向对象的结构模型、检测回路和系统简化、建立系统逻辑关联模型以及进行可测试性分析等... 针对系统可测试性分析方法的研究,采用概率分布方法、面向对象方法和蒙特卡罗方法等多种手段对判读信号状态、建立单组件信号逻辑关系、构建系统面向对象的结构模型、检测回路和系统简化、建立系统逻辑关联模型以及进行可测试性分析等一系列问题进行了详细的探讨,并最终得到系统可测试性的定量指标。结果表明该方法能够较好地解决可测试性分析问题,具有建模简单、适用范围广和便于计算机处理等特点。 展开更多
关键词 可测试性分析 信号判读 回路检测 逻辑关联模型 诊断树
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基于目标语句占优关系的软件可测试性转化 被引量:2
19
作者 姚香娟 巩敦卫 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第12期2523-2528,共6页
标记变量问题是基于搜索的软件测试数据生成的关键问题之一.本文提出一种基于目标语句占优关系的软件可测试性转化理论与方法,思想是:对于涉及标记变量问题的目标语句,如果存在另一目标语句(集),使得该目标语句(集)占优原有目标语句,则... 标记变量问题是基于搜索的软件测试数据生成的关键问题之一.本文提出一种基于目标语句占优关系的软件可测试性转化理论与方法,思想是:对于涉及标记变量问题的目标语句,如果存在另一目标语句(集),使得该目标语句(集)占优原有目标语句,则用新的目标语句(集)代替原有目标语句生成测试数据,从而消除标记变量的不利影响.将本文方法应用于典型被测程序,实验结果表明,该方法可以有效解决标记变量问题,从而提高测试数据的生成效率. 展开更多
关键词 测试数据生成 标记变量 可测试性转化 遗传算法
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可测试性技术中的图论问题及其求解 被引量:1
20
作者 胡政 黎琼炜 温熙森 《工程数学学报》 CSCD 北大核心 2003年第3期31-35,124,共6页
近20年来,为了解决结构日益复杂的电路测试问题,可测试性技术得到了迅速发展。在可测试性技术中,针对不同的测试对象,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化,降低总体代价,是非常重要且亟待解决的问题。本文应用图论对可测试性技... 近20年来,为了解决结构日益复杂的电路测试问题,可测试性技术得到了迅速发展。在可测试性技术中,针对不同的测试对象,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化,降低总体代价,是非常重要且亟待解决的问题。本文应用图论对可测试性技术中的两类典型优化问题进行了描述,并讨论了其最优解的求解过程。鉴于最优解的求解过程过于复杂,为便于工程应用,本文基于"贪婪"策略,分别构造了求解两类问题快速解法,并通过简单实例予以了验证。 展开更多
关键词 可测试性 优化 图论 算法
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