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组合电路门时滞故障的可测性分析 被引量:3
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作者 王勇 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第1期58-61,共4页
根据时滞故障测试的特点,定义了一种门时滞故障的可测性测度(即上升沿和下降沿门时滞故障的可控制性和可观测性),并提出了相应的计算方法,为基于门时滞故障的电路可测性论计提供了理论依据。
关键词 门时滞故障 可测性测度 可控制性 可观测性 VLSI
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一种基于可测性的寄存器分配算法
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作者 徐敬波 薄亚明 郑明 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2003年第4期79-80,142,共3页
提出了一种在高层次综合的寄存器分配过程中考虑可测性的算法。该算法在将一个调度好的CDFG(Control Data Flow Graph)的变量分配到相应的寄存器的过程中,通过对未能分配复用到输入、输出寄存器的变量进行可测性处理,达到提高设计可... 提出了一种在高层次综合的寄存器分配过程中考虑可测性的算法。该算法在将一个调度好的CDFG(Control Data Flow Graph)的变量分配到相应的寄存器的过程中,通过对未能分配复用到输入、输出寄存器的变量进行可测性处理,达到提高设计可测性的目的。同时在进行可测性处理的时候,定义了CDFG的节点的可测性测度方法。 展开更多
关键词 可测性 寄存器分配算法 超大规模集成电路 可测性测度
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模拟集成电路的测试节点选择 被引量:16
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作者 孙秀斌 陈光(?) 谢永乐 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2004年第4期645-650,共6页
如何寻求一个最佳的测试节点或测试矢量集是模拟集成电路的故障诊断中的重要问题。该文提出了一种基于可测性测度计算的测试节点选择方法。利用行列式判决图,可以有效而准确地求得被测电路传输函数的符号表达式和计算出其可测性测度。... 如何寻求一个最佳的测试节点或测试矢量集是模拟集成电路的故障诊断中的重要问题。该文提出了一种基于可测性测度计算的测试节点选择方法。利用行列式判决图,可以有效而准确地求得被测电路传输函数的符号表达式和计算出其可测性测度。该方法完全消除了由数字方法引入的不可避免的舍入误差,并能处理中、大规模的集成电路. 展开更多
关键词 模拟集成电路 故障诊断 可测性测度 行列式判决图 测试节点
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