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一起SVC一相可控硅全部击穿的原因分析
1
作者
胡建农
《江苏电机工程》
2014年第2期61-63,68,共4页
静止型动态无功补偿(SVC)装置在钢铁企业已得到广泛使用,稳定运行尤其重要。本文对两大类典型触发装置在电气设备放电时的抗干扰性能分析,找到SVC一相可控硅全部击穿的原因。建议一般工业用户注意电气设备放电对触发装置的影响。
关键词
集中脉冲触发
单
阀
脉冲触发
污闪现象
可控硅阀的部分开通
在线阅读
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职称材料
题名
一起SVC一相可控硅全部击穿的原因分析
1
作者
胡建农
机构
上海梅山钢铁股份有限公司能源环保部
出处
《江苏电机工程》
2014年第2期61-63,68,共4页
文摘
静止型动态无功补偿(SVC)装置在钢铁企业已得到广泛使用,稳定运行尤其重要。本文对两大类典型触发装置在电气设备放电时的抗干扰性能分析,找到SVC一相可控硅全部击穿的原因。建议一般工业用户注意电气设备放电对触发装置的影响。
关键词
集中脉冲触发
单
阀
脉冲触发
污闪现象
可控硅阀的部分开通
Keywords
concentrated pulse trigger
single valve trigger pulse
flash-over phenomenon
thyristor
分类号
TN34 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
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1
一起SVC一相可控硅全部击穿的原因分析
胡建农
《江苏电机工程》
2014
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