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有机电致发光器件材料的椭偏研究
1
作者
谢文法
赵毅
+1 位作者
侯晶莹
刘式墉
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第0Z2期93-98,共6页
本文报道了用可变入射角椭圆偏振仪（Variable angle incidence Spectroscopic Ellipsometer）测量Alq3,NPB,CuPc,Rubrene薄膜的光学常数，我们采用真空蒸镀法在硅衬底上分别制备了以上四种薄膜，然后我们用可变入射角椭圆偏振仪对四种...
本文报道了用可变入射角椭圆偏振仪（Variable angle incidence Spectroscopic Ellipsometer）测量Alq3,NPB,CuPc,Rubrene薄膜的光学常数，我们采用真空蒸镀法在硅衬底上分别制备了以上四种薄膜，然后我们用可变入射角椭圆偏振仪对四种薄膜进行了测量，测量在大气中进行，光谱范围从200到1000nm（或1.24到5cV），测量角度为65℃、70℃、75℃、80℃，接着，用Wvase32软件对四种薄膜的光学常数随波长（光子能量）的变化函数进行拟合，通过拟合我们得到了真空蒸镀的Alq3,NPB,CuPc,薄膜的光学常数随波长的变化函数及曲线，并且从材料吸收谱的吸收边，我们还得到了这些材料的光学禁带宽度。
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关键词
有机电致发光器件
可变入射角椭圆偏振仪
光学常数
光学禁带宽度
薄膜测量
光谱分析
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职称材料
题名
有机电致发光器件材料的椭偏研究
1
作者
谢文法
赵毅
侯晶莹
刘式墉
机构
吉林大学集成光电子国家重点实验室
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第0Z2期93-98,共6页
文摘
本文报道了用可变入射角椭圆偏振仪（Variable angle incidence Spectroscopic Ellipsometer）测量Alq3,NPB,CuPc,Rubrene薄膜的光学常数，我们采用真空蒸镀法在硅衬底上分别制备了以上四种薄膜，然后我们用可变入射角椭圆偏振仪对四种薄膜进行了测量，测量在大气中进行，光谱范围从200到1000nm（或1.24到5cV），测量角度为65℃、70℃、75℃、80℃，接着，用Wvase32软件对四种薄膜的光学常数随波长（光子能量）的变化函数进行拟合，通过拟合我们得到了真空蒸镀的Alq3,NPB,CuPc,薄膜的光学常数随波长的变化函数及曲线，并且从材料吸收谱的吸收边，我们还得到了这些材料的光学禁带宽度。
关键词
有机电致发光器件
可变入射角椭圆偏振仪
光学常数
光学禁带宽度
薄膜测量
光谱分析
分类号
TN383.1 [电子电信—物理电子学]
O484 [理学—固体物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
有机电致发光器件材料的椭偏研究
谢文法
赵毅
侯晶莹
刘式墉
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
0
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职称材料
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