TB851 96063967可凝性气体对低温光学元件表面污染的测试设备=Measurement equipment for studyingcryodeposite of condensable vapour on opticalsurfaces[刊,中]/郭晴,裴云天(中科院上海技物所.上海(200083)),蓝增瑞(上海卫星工程研...TB851 96063967可凝性气体对低温光学元件表面污染的测试设备=Measurement equipment for studyingcryodeposite of condensable vapour on opticalsurfaces[刊,中]/郭晴,裴云天(中科院上海技物所.上海(200083)),蓝增瑞(上海卫星工程研究所.上海(200240)),孟宪华,杨雪梅,王爱斌(上海计量技术研究所.上海(200040))//中国空间科学技术.—1995,(1).—53—59,66介绍了某些可凝性气体对低温光学元件表面污染测试设备的基本原理。对其主要性能进行了实验测定,并给出了系统误差分析。图4表2参4(方舟)展开更多
文摘TB851 96063967可凝性气体对低温光学元件表面污染的测试设备=Measurement equipment for studyingcryodeposite of condensable vapour on opticalsurfaces[刊,中]/郭晴,裴云天(中科院上海技物所.上海(200083)),蓝增瑞(上海卫星工程研究所.上海(200240)),孟宪华,杨雪梅,王爱斌(上海计量技术研究所.上海(200040))//中国空间科学技术.—1995,(1).—53—59,66介绍了某些可凝性气体对低温光学元件表面污染测试设备的基本原理。对其主要性能进行了实验测定,并给出了系统误差分析。图4表2参4(方舟)
