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应用相移干涉云纹检测变线距光栅密度
被引量：
2
1
作者
王铷
唐欣
+2 位作者
张天林
王迪
何世平
《中国科学技术大学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第5期568-574,共7页
相移干涉云纹法被用于检测变线距全息光栅线密度的全场分布 .首先求出全场每个像素点的条纹级数 ,再利用最小二乘法将全场实验数据拟合成光滑的二维曲面 ,进而求出光栅密度的全场二维分布 .介绍了二维光栅密度的表述方法、相移干涉云纹...
相移干涉云纹法被用于检测变线距全息光栅线密度的全场分布 .首先求出全场每个像素点的条纹级数 ,再利用最小二乘法将全场实验数据拟合成光滑的二维曲面 ,进而求出光栅密度的全场二维分布 .介绍了二维光栅密度的表述方法、相移干涉云纹法的检测原理及实验数据的处理步骤 ,推导出了相应的公式 .文中用不同的检测方法对同一个光栅的线密度进行了检测 。
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关键词
变线距全息光栅
线密度
相移干涉云纹
条纹图处理
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职称材料
题名
应用相移干涉云纹检测变线距光栅密度
被引量：
2
1
作者
王铷
唐欣
张天林
王迪
何世平
机构
中国科学技术大学力学和机械工程系
出处
《中国科学技术大学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第5期568-574,共7页
基金
国家自然科学基金 (10 2 72 0 98)资助项目
文摘
相移干涉云纹法被用于检测变线距全息光栅线密度的全场分布 .首先求出全场每个像素点的条纹级数 ,再利用最小二乘法将全场实验数据拟合成光滑的二维曲面 ,进而求出光栅密度的全场二维分布 .介绍了二维光栅密度的表述方法、相移干涉云纹法的检测原理及实验数据的处理步骤 ,推导出了相应的公式 .文中用不同的检测方法对同一个光栅的线密度进行了检测 。
关键词
变线距全息光栅
线密度
相移干涉云纹
条纹图处理
Keywords
varied-line-space gratings holographically recorded
line density
phase-shift
Moiréinterferometry
fringe image process.
分类号
TH741 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
应用相移干涉云纹检测变线距光栅密度
王铷
唐欣
张天林
王迪
何世平
《中国科学技术大学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004
2
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