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题名基于变游程编码的测试数据压缩算法
被引量：33
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作者
彭喜元
俞洋
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机构
哈尔滨工业大学自动化测试与控制系
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出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第2期197-201,共5页
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文摘
基于IP核的设计思想推动了SOC设计技术的发展,却使SOC的测试数据成几何级数增长.针对这一问题,本文提出了一种有效的测试数据压缩算法———变游程(Variable-Run-Length)编码算法来减少测试数据量、降低测试成本.该算法编码时同时考虑游程0和游程1两种游程,大大减小了测试数据中长度较短游程的数量,提高了编码效率.理论分析和实验数据表明,变游程编码能取得较同类编码算法更高的压缩效率,能够显著减少测试时间、降低测试功耗和测试成本.
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关键词
变游程编码
测试压缩
测试功耗
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Keywords
variable-run-length code
test compression
test power dissipation
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分类号
TP391.76
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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题名基于部分向量复用和变游程编码的二级SoC测试压缩
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作者
邵晶波
马光胜
张瑞雪
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机构
哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院
哈尔滨金融高等专科学校计算机系
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出处
《计算机应用》
CSCD
北大核心
2008年第3期776-778,共3页
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基金
国家自然科学基金资助项目(60273081)
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文摘
提出了一种适用于基于核的SoC测试数据压缩的新方法,先将不同待测核对应的测试集中的测试向量部分重叠起来,形成一个重叠向量,对这个重叠向量进行变游程编码(VRL),以进一步压缩测试向量。由于测试应用时间与重叠向量的长度成正比,而重叠向量的长度要远小于原始测试向量的长度总和,从而减少了测试时间。变游程编码最大化了压缩效率。实验结果表明,与已有的算法相比,该方法减少了测试应用的时间,提高了数据的压缩率。
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关键词
部分向量复用
变游程编码
重叠向量
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Keywords
partial test vector reuse
Variable-Run-Length （VRL） coding
overlapped test vector
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分类号
TP391.76
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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