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题名基于变周期重播种LFSR的测试生成
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作者
包清明
潘红兵
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机构
海军工程大学电子工程学院
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出处
《电光与控制》
北大核心
2012年第4期93-96,共4页
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文摘
基于重播种的LFSR结构的伪随机测试生成中包含的冗余测试序列较多,因而其测试序列长度仍较长,耗费测试时间长,测试效率不高。针对此状况,提出基于变周期重播种的LFSR结构的测试生成方法。该方法可以有效地跳过伪随机测试生成中的大量冗余测试序列。在保证电路测试故障覆盖率不变的条件下,缩短总测试序列的长度。分析结果表明,同定长重播种方法相比,该方法能以较少的硬件开销实现测试序列的精简,加快了测试的速度,提高了电路测试诊断的效率。
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关键词
故障诊断
内建自测试
变周期重播种
测试生成
LFSR
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Keywords
fault diagnosis
Built-in Self Test（BIST）
variable-cycle reseeding
test generation
LFSR
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分类号
V271.4
[航空宇航科学与技术—飞行器设计]
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