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X射线光电子能谱(XPS)/紫外光电子能谱(UPS)/反光电子能谱(IPES)测定半导体薄膜材料全能级结构
1
作者
王珊珊
彭绍春
+3 位作者
高培峰
刘燕斐
范志凯
杜建新
《中国无机分析化学》
北大核心
2025年第1期33-43,共11页
近年来,半导体材料在光电转化、光热转化、电池储能等方面的优势展现出了广阔应用前景而迅速发展。随着研究的深入,界面形成机理、电子结构、电荷转移过程的构效关系成为设计新型半导体器件、新材料研究的热点,支持能源催化、界面功能...
近年来,半导体材料在光电转化、光热转化、电池储能等方面的优势展现出了广阔应用前景而迅速发展。随着研究的深入,界面形成机理、电子结构、电荷转移过程的构效关系成为设计新型半导体器件、新材料研究的热点,支持能源催化、界面功能构筑和芯片器件等重大领域的发展,因此准确测量半导体薄膜材料的能级结构非常重要。测量半导体薄膜材料全能级结构常用X射线光电子能谱(XPS)、紫外光电子能谱(UPS)以及反光电子能谱(IPES)三种表征方法,重点介绍了三种表征方法的研究对象、理论基础与测量原理、测量方法与能级结构识别的方法对半导体薄膜材料全能级结构的测量。最后通过实际案例进行了数据分析和讨论。三种表征技术具有互补性,可以从能量角度给出更有效的信息,这对半导体薄膜材料制备、杂质掺杂、功能和性能优化具有重要意义。
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关键词
X射线
光电子
能谱
(XPS)
紫外
光电子
能谱
(UPS)
反
光电子
能谱
(
ipes
)
能级结构
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职称材料
反光电子谱的自动化测量及数据处理
2
作者
葛毓青
李喆深
+1 位作者
胡际璜
戴道宣
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990年第2期188-191,共4页
首次建成了国产反光电子谱仪的自动化数据采集及处理系统。整个测量装置由Apple Ⅱ微机、计数器、PIO 和A/D、D/A 卡等电路组成。
关键词
反
光电子
谱
仪
自动化测量
数据处理
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职称材料
题名
X射线光电子能谱(XPS)/紫外光电子能谱(UPS)/反光电子能谱(IPES)测定半导体薄膜材料全能级结构
1
作者
王珊珊
彭绍春
高培峰
刘燕斐
范志凯
杜建新
机构
北京理工大学分析测试中心
北京理工大学机械与车辆学院
出处
《中国无机分析化学》
北大核心
2025年第1期33-43,共11页
基金
国家自然科学基金面上基金资助项目(52475176)。
文摘
近年来,半导体材料在光电转化、光热转化、电池储能等方面的优势展现出了广阔应用前景而迅速发展。随着研究的深入,界面形成机理、电子结构、电荷转移过程的构效关系成为设计新型半导体器件、新材料研究的热点,支持能源催化、界面功能构筑和芯片器件等重大领域的发展,因此准确测量半导体薄膜材料的能级结构非常重要。测量半导体薄膜材料全能级结构常用X射线光电子能谱(XPS)、紫外光电子能谱(UPS)以及反光电子能谱(IPES)三种表征方法,重点介绍了三种表征方法的研究对象、理论基础与测量原理、测量方法与能级结构识别的方法对半导体薄膜材料全能级结构的测量。最后通过实际案例进行了数据分析和讨论。三种表征技术具有互补性,可以从能量角度给出更有效的信息,这对半导体薄膜材料制备、杂质掺杂、功能和性能优化具有重要意义。
关键词
X射线
光电子
能谱
(XPS)
紫外
光电子
能谱
(UPS)
反
光电子
能谱
(
ipes
)
能级结构
Keywords
X-ray photoelectron spectroscopy(XPS)
ultraviolet photoelectron spectroscopy(UPS)
inverse photoemission spectroscopy(
ipes
)
energy level alignment
分类号
O657.62 [理学—分析化学]
O434.1 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
反光电子谱的自动化测量及数据处理
2
作者
葛毓青
李喆深
胡际璜
戴道宣
机构
复旦大学
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990年第2期188-191,共4页
基金
国家自然科学基金
文摘
首次建成了国产反光电子谱仪的自动化数据采集及处理系统。整个测量装置由Apple Ⅱ微机、计数器、PIO 和A/D、D/A 卡等电路组成。
关键词
反
光电子
谱
仪
自动化测量
数据处理
分类号
TH744.1 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
X射线光电子能谱(XPS)/紫外光电子能谱(UPS)/反光电子能谱(IPES)测定半导体薄膜材料全能级结构
王珊珊
彭绍春
高培峰
刘燕斐
范志凯
杜建新
《中国无机分析化学》
北大核心
2025
0
在线阅读
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职称材料
2
反光电子谱的自动化测量及数据处理
葛毓青
李喆深
胡际璜
戴道宣
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990
0
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职称材料
已选择
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参考文献
引证文献
统计分析
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