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半正弦脉冲激励下双线性包装系统位移损坏边界确定的解析方法 被引量:1
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作者 廖鹰翔 宋超 《包装工程》 CAS CSCD 北大核心 2003年第3期19-21,29,共4页
运用包装动力学中的位移损坏边界新理论 ,选择简化自典型缓冲系统的双线性动力学模型 ,用解析方法首次获得了半正弦脉冲激励下的位移损坏边界。论文的分析思路与方法 。
关键词 半正弦脉冲激励 双线性包装系统 位移损坏边界 解析方法 包装动力学 缓冲包装
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