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双管显微镜测量表面粗糙度评定参数的处理程序设计
被引量：
1
1
作者
蒋大文
王志远
+2 位作者
谢驰
王晓辉
杨大磊
《四川大学学报（工程科学版）》
EI
CAS
CSCD
2001年第5期98-101,共4页
介绍了用双管显微镜测量轮廓线坐标值的方法 ,同时 ,设计了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序。从而 ,扩大了只用于测量单参数的表面粗糙度检查仪的使用功能 ,以满足表面粗糙度国家标准所规定的评定参数的要求。还给出了程序流...
介绍了用双管显微镜测量轮廓线坐标值的方法 ,同时 ,设计了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序。从而 ,扩大了只用于测量单参数的表面粗糙度检查仪的使用功能 ,以满足表面粗糙度国家标准所规定的评定参数的要求。还给出了程序流程图。实验表明 。
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关键词
表面粗糙度
双管显微镜
评定参数
微机处理
程序设计
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职称材料
题名
双管显微镜测量表面粗糙度评定参数的处理程序设计
被引量：
1
1
作者
蒋大文
王志远
谢驰
王晓辉
杨大磊
机构
四川大学测试技术与控制工程系
出处
《四川大学学报（工程科学版）》
EI
CAS
CSCD
2001年第5期98-101,共4页
文摘
介绍了用双管显微镜测量轮廓线坐标值的方法 ,同时 ,设计了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序。从而 ,扩大了只用于测量单参数的表面粗糙度检查仪的使用功能 ,以满足表面粗糙度国家标准所规定的评定参数的要求。还给出了程序流程图。实验表明 。
关键词
表面粗糙度
双管显微镜
评定参数
微机处理
程序设计
Keywords
roughness evaluation
dual microscope
roughness evaluation parameter
分类号
TH741.3 [机械工程—光学工程]
TP311 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
双管显微镜测量表面粗糙度评定参数的处理程序设计
蒋大文
王志远
谢驰
王晓辉
杨大磊
《四川大学学报（工程科学版）》
EI
CAS
CSCD
2001
1
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职称材料
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