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存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用
被引量：
1
1
作者
殷弼君
黄伟平
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第B09期122-124,共3页
针对SoC芯片中存储器模块的测试问题,在结合设计工具的基础上,提出了存储器的测试结构和方法,并且讨论了存储器模型的应用与调试。
关键词
可测性设计
存储器内建自测试
双端口寄存器堆文件
在线阅读
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职称材料
题名
存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用
被引量：
1
1
作者
殷弼君
黄伟平
机构
华东计算技术研究所
出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第B09期122-124,共3页
文摘
针对SoC芯片中存储器模块的测试问题,在结合设计工具的基础上,提出了存储器的测试结构和方法,并且讨论了存储器模型的应用与调试。
关键词
可测性设计
存储器内建自测试
双端口寄存器堆文件
Keywords
Design For Testability（DFT）
memory Build-In-Self-Test（BIST）
two-port register file
分类号
TP391 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用
殷弼君
黄伟平
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2008
1
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