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题名双曝光数字全息三维变形测试
被引量：5
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作者
范俊叶
尹博超
王文生
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机构
长春理工大学光电工程学院
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出处
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2014年第5期1582-1586,共5页
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基金
总装备部预研基金(9140A17060306BQ0303)
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文摘
全息三维变形测试在军事、工业测试中有重要意义,而传统的全息术由于记录、显影、定影、再现、复位等条件使其应用受到限制。文中应用CCD实现了数字全息,不仅避免了传统全息显影、定影等过程,也避免了全息材料非线性记录等缺点,并基于双曝光全息干涉术和四步相移法原理,实现了数字相移,取代了传统的应用压电位移器等机械相移法,实现了物体的三维变形测试。由物体变形的二维等高线图和三维立体图,可判读物体变形的大小、变形的方向和变形的形状。大量的实验表明,该方法不仅简化了全息干涉测试的光学装置,而且具有操作简单,测试精度高,其精度容易达到1/10波长。
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关键词
三维变形测试
双曝光全息干涉术
数字全息
四步数字相移法
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Keywords
three-dimensional deformation tests
double exposure holographic interferometry
digital holography
four-step digital phase shifting method
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分类号
TN26
[电子电信—物理电子学]
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