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双探头符合成像系统的分辨率及其影响因素 被引量:4
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作者 耿建华 陈英茂 +4 位作者 陈盛祖 司宏伟 张雯杰 郑容 田嘉禾 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第2期180-183,共4页
研究双探头符合成像系统的分辨率及其影响因素。采用Hawkeye双探头符合成像设备,对Toshiba椭圆柱分辨率模型成像。用X线透射扫描进行衰减校正,在不同的活度下做18次扫描。OS-EM算法选择4种后滤波截止频率重建图像。计算线源横断层面上... 研究双探头符合成像系统的分辨率及其影响因素。采用Hawkeye双探头符合成像设备,对Toshiba椭圆柱分辨率模型成像。用X线透射扫描进行衰减校正,在不同的活度下做18次扫描。OS-EM算法选择4种后滤波截止频率重建图像。计算线源横断层面上扩展函数的半高宽(FWHM)。在视野中活度较低时(<101.00MBq),FWHM基本不随活度变化;但在较高的活度区,FWHM随视野中活度的增加而缓慢增加;在视野中心至横向12cm范围内,视野中心区径向FWHMx最大,越靠边缘越小,而切向FWHMy基本不随位置变化;FWHM随重建算法中后滤波截止频率的增加而减小。结论是视野中的总活度、位置及重建算法均影响双探头符合成像系统的分辨率。 展开更多
关键词 分辨率 双探头符合成像 活度 重建算法 位置
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双探头SPECT符合线路衰减校正对图像分辨率及计数影响的模型研究 被引量:7
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作者 耿建华 陈英茂 +3 位作者 陈盛祖 郑容 张雯杰 田嘉禾 《中国医学影像技术》 CSCD 北大核心 2005年第1期124-126,共3页
目的 研究衰减校正对双探头符合成像系统分辨率及图像计数的影响。方法 采用GEHawkeye双探头符合成像设备 ,对分辨率模型成像 ,用X线透射扫描进行衰减校正。计算有、无衰减校正时线源扩展函数的半高宽 (FWHM )及线源峰值计数。结果 ... 目的 研究衰减校正对双探头符合成像系统分辨率及图像计数的影响。方法 采用GEHawkeye双探头符合成像设备 ,对分辨率模型成像 ,用X线透射扫描进行衰减校正。计算有、无衰减校正时线源扩展函数的半高宽 (FWHM )及线源峰值计数。结果 有衰减校正时FWHM显著高于无衰减校正时FWHM ,其差值在中心处最大 ,且线源计数大于无衰减校正时计数 ,越靠中心其差值越大。结论 衰减校正在补偿计数衰减的同时 ,会使分辨率降低。 展开更多
关键词 衰减校正 分辨率 双探头符合成像
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