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基于常规X射线光电子能谱(XPS)和X射线衍射(XRD)技术的透明柔性导电膜薄膜厚度表征
1
作者 张少鸿 莫家媚 苏秋成 《中国无机分析化学》 北大核心 2025年第1期118-125,共8页
X射线光电子能谱仪(XPS)和X射线衍射仪(XRD)已越来越成为实验室的常规必备设备。XPS是一种表面分析技术,典型的分析深度约为10 nm,主要用于表征材料表面元素及其化学状态,并可利用刻蚀离子枪对材料元素及其化学态纵深分布进行研究。XRD... X射线光电子能谱仪(XPS)和X射线衍射仪(XRD)已越来越成为实验室的常规必备设备。XPS是一种表面分析技术,典型的分析深度约为10 nm,主要用于表征材料表面元素及其化学状态,并可利用刻蚀离子枪对材料元素及其化学态纵深分布进行研究。XRD主要利用晶体对X射线的衍射测定材料的晶体结构;同时可利用材料表面、界面对X射线的反射,研究材料的物性,包括密度、厚度、粗糙度等。利用实验室常规的XPS和XRD联合表征多层薄膜厚度;结合两者各自的优势,通过简单、便捷的方法实现多层薄膜的结构表征。通过XRD测试多层薄膜的反射干涉条纹,运用快速傅里叶变换(FFT)方法得到其厚度信息;通过XPS深度剖析得到膜层组分及其纵向分布的信息,从而完整表征了多层薄膜的结构。所表征的样品为组成和结构未知的透明柔性导电膜。结合XPS和XRD分析得到结果:薄膜为三层复合膜结构,首层由SnO_(2)、In_(2)O_(3)、TiO_(2)和ZnO组成,厚度为42.6 nm;中间为19.2 nm Ag纳米线;靠近基底层由ZnO、In_(2)O_(3)和TiO_(2)组成,厚度为59.0 nm。建立的方法完全避免了建模的繁杂过程和不确定性,方便、快速地得到薄膜结构组成,包括:每层薄膜厚度、组成成分、层间堆叠顺序等。方法在薄膜研究、生产过程质量控制等方面应用都有十分重要意义。 展开更多
关键词 x射线光电子能谱(xPS) x射线衍射(xrd) 薄膜厚度 深度剖析 x射线反射率(xRR) 快速傅里叶变换(FFT)
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基于定量XRD的碱激发胶凝材料分子动力学模拟
2
作者 王晴 李赫维 +2 位作者 丁兆洋 张强 赵明宇 《建筑材料学报》 北大核心 2025年第5期483-490,共8页
提出了一种碱激发胶凝材料分子模型搭建方法,采用Rietveld精修和内标法定量X射线衍射技术(QXRD)分析了碱激发胶凝材料的晶相成分,并与X射线荧光分析(XRF)结果对照分析了非晶相化学成分,采用X射线衍射(XRD)分峰法得到碱激发胶凝材料非晶... 提出了一种碱激发胶凝材料分子模型搭建方法,采用Rietveld精修和内标法定量X射线衍射技术(QXRD)分析了碱激发胶凝材料的晶相成分,并与X射线荧光分析(XRF)结果对照分析了非晶相化学成分,采用X射线衍射(XRD)分峰法得到碱激发胶凝材料非晶相的近程有序结构,利用Materials Studio软件搭建了水化硅铝酸钠(N‑A‑S‑H)和水化硅铝酸钙(C‑A‑S‑H)的结构,并通过分子动力学模拟径向分布函数和体积模量进行了验证.结果表明:N‑A‑S‑H凝胶的近程有序结构与方钠石接近;C‑A‑S‑H凝胶的近程有序结构与水化钙铝黄长石接近.通过径向分布函数与体积模量验证了搭建模型的准确性.本文的模型搭建方法基于真实样品的XRD测试结果,与单一采用软件模拟的方法相比具有更好的真实性和创新性. 展开更多
关键词 碱激发胶凝材料 反应产物 x射线衍射 RIETVELD精修 xrd分峰法 分子动力学模拟
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微波法制备纳米银晶及X射线衍射分析 被引量：15
3
作者 李梅 赵景琨 +4 位作者 韩莉 张卫 陈虹锦 李世雄 钱雪峰 《实验室研究与探索》 CAS 2006年第1期24-25,40,共3页
开发了一个新的综合实验,采用微波法制备了纳米银晶,利用X射线衍射分析了纳米银晶的晶型组成和粒径等结构特征,研究了反应时间、反应物配比等因素对纳米银晶制备的影响,探讨了将其用于学生实验的可行性。
关键词 纳米银晶 微波法 x射线衍射(xrd)
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X射线衍射分析非晶二氧化硅结构及其物化性质的研究 被引量：20
4
作者 王国光 水淼 岳林海 《无机化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2002年第10期991-996,共6页
研究用不同水玻璃浓度合成的4个非晶沉淀二氧化硅样品的物化性质、近红外、热重差热行为。并用X射线衍射手段分析了非晶二氧化硅的结构参数,结果表明样品的短程有序范围在5～6个原子距离。最近邻配位数与最近邻原子距离的变化与样品的... 研究用不同水玻璃浓度合成的4个非晶沉淀二氧化硅样品的物化性质、近红外、热重差热行为。并用X射线衍射手段分析了非晶二氧化硅的结构参数,结果表明样品的短程有序范围在5～6个原子距离。最近邻配位数与最近邻原子距离的变化与样品的吸油值相一致,一定程度上反映了样品结构的紧密程度。 展开更多
关键词 x射线衍射分析 非晶二氧化硅 结构 非晶结构参数 xrd 热重-差热 近红外光谱
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X射线粉末衍射仪在实验教学中的应用 被引量：16
5
作者 毛宏志 印志磊 许效红 《实验技术与管理》 CAS 2006年第11期30-32,共3页
利用x射线粉末衍射仪（XRD）对TiO2粉末试样进行物相分析，把该仪器用于实验教学中，使学生了解x射线粉末衍射分析仪的工作原理，熟悉D8 ADVANCE型x射线衍射仪的使用方法以及培养学生对科研的兴趣和锻炼学生创造性思维都有其重要的意义。
关键词 x射线粉末衍射(xrd) TIO2 物相分析 实验教学
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大气可吸入颗粒物(PM_10)中矿物组分的X射线衍射研究 被引量：18
6
作者 吕森林 邵龙义 时宗波 《中国环境监测》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期9-12,8,共5页
利用X射线衍射技术对北京2002春季和夏季的可吸入颗粒物进行了研究。结果表明,北京春季和夏季可吸入颗粒物的矿物组成明显不同,春季可吸入颗粒物中的矿物以硅铝酸盐为主,同时存在碳酸盐、硫酸盐、硫化物、铁的氧化物、粘土矿物以及难以... 利用X射线衍射技术对北京2002春季和夏季的可吸入颗粒物进行了研究。结果表明,北京春季和夏季可吸入颗粒物的矿物组成明显不同,春季可吸入颗粒物中的矿物以硅铝酸盐为主,同时存在碳酸盐、硫酸盐、硫化物、铁的氧化物、粘土矿物以及难以鉴定的矿物;在夏季的样品中,矿物的种类有所减少,却有新的物种出现,如氯化氨、硫酸氨等。XRD定量分析显示,在沙尘天气时,可吸入颗粒物中石英和粘土矿物以及非晶质分别占到24.1%、28.5%和20%,斜长石和方解石分别占到10.4%和8.1%,其他矿物总共不到10%。矿物组分的确定对可吸入颗粒物来源的识别有一定的指导作用。 展开更多
关键词 x射线衍射(xrd) 可吸入颗粒物(PM10 矿物组分
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纳米Cu固体材料的X射线衍射与正电子湮没研究 被引量：7
7
作者 楚广 罗江山 +3 位作者 刘伟 唐永建 雷海乐 杨世源 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第1期160-164,共5页
采用自悬浮-冷压法,在不同压力下制得纳米Cu固体材料并对其在不同温度和保温时间下进行退火,利用X射线衍射(XRD)和正电子湮没寿命谱(PAS)分析对材料的结构和微观缺陷进行了表征。XRD分析表明,压制而得的样品晶粒度为20 nm,低于300℃退火... 采用自悬浮-冷压法,在不同压力下制得纳米Cu固体材料并对其在不同温度和保温时间下进行退火,利用X射线衍射(XRD)和正电子湮没寿命谱(PAS)分析对材料的结构和微观缺陷进行了表征。XRD分析表明,压制而得的样品晶粒度为20 nm,低于300℃退火3 h后并未发现晶粒显著长大;PAS分析表明,压制后的样品缺陷主要为单空位和空位团,大空隙很少,随着退火温度的升高和退火时间的延长,单空位通过扩散结合成空位团,大空隙也在温度较高时分解为空位团,导致空位团的含量增加,而单空位和大空隙的含量降低。 展开更多
关键词 自悬浮-冷压法 纳米Cu x射线衍射(xrd) 正电子湮没谱(PAS)ICF靶材料
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AB_5储氢合金微观结构X射线衍射正确表征 被引量：2
8
作者 汪保国 李志林 +2 位作者 杨传铮 黄铁生 夏保佳 《电源技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第12期1013-1016,共4页
在研究现代X射线衍射仪实验条件、参数和数据处理方法对衍射线峰位、强度和半高宽的影响之后,提出了测定和表征AB5储氢合金微观结构参数的X射线衍射(XRD)方法,并用这些方法表征初始AB5粉末的结构特征,研究了活化前后和循环前后AB5微结... 在研究现代X射线衍射仪实验条件、参数和数据处理方法对衍射线峰位、强度和半高宽的影响之后,提出了测定和表征AB5储氢合金微观结构参数的X射线衍射(XRD)方法,并用这些方法表征初始AB5粉末的结构特征,研究了活化前后和循环前后AB5微结构的变化。这些研究包括:不同成分合金的相结构、点阵参数与权重原子半径的关系;成分相同、制备方法不同的合金的微结构,其微晶大小和残余应变状态与工艺条件的关系;MH-Ni电池负极中AB5合金粉充放电活化前后微结构的变化,发现活化后其晶粒明显细化,残余应变却增加了一个量级;由循环寿命实验前后对比研究可知,充放电循环使晶粒进一步细化,细化进程和微应变值与循环实验条件有关。 展开更多
关键词 AB5合金 微结构 x射线衍射(xrd)
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密堆六方纳米ZnO的X射线衍射表征与研究 被引量：2
9
作者 程国峰 杨传铮 黄月鸿 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2008年第1期199-202,共4页
X射线衍射(XRD)实验发现密堆六方纳米ZnO的hkO、h-k=3n的衍射线,仅存在微晶宽化,而h-k=3n±1的衍射线,无l=偶数、l=奇数的层错选择宽化效应.为了表征这种纳米ZnO的晶粒大小和层错几率,提出了分解纳米ZnO微晶-层错二重宽化效应的最... X射线衍射(XRD)实验发现密堆六方纳米ZnO的hkO、h-k=3n的衍射线,仅存在微晶宽化,而h-k=3n±1的衍射线,无l=偶数、l=奇数的层错选择宽化效应.为了表征这种纳米ZnO的晶粒大小和层错几率,提出了分解纳米ZnO微晶-层错二重宽化效应的最小二乘法.计算结果表明:密堆六方纳米ZnO的晶粒大小和层错几率与制备方法、原料配比等有关. 展开更多
关键词 ZNO 晶粒大小 层错几率 x射线衍射(xrd)
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RF-PECVD制备微晶硅薄膜的X射线衍射研究 被引量：3
10
作者 蔡宏琨 张德贤 +4 位作者 何青 赵飞 陶科 席强 孙云 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第3期545-549,共5页
采用X射线衍射(XRD)技术连续扫描法和薄膜衍射法对RF-PECVD制备的微晶硅薄膜结构进行了研究。改变硅烷浓度和反应功率,控制薄膜的生长速率,已达到制备不同材料的目的。根据硅基薄膜的电学特性和XRD测试,随着反应功率的增加,硅基薄膜的... 采用X射线衍射(XRD)技术连续扫描法和薄膜衍射法对RF-PECVD制备的微晶硅薄膜结构进行了研究。改变硅烷浓度和反应功率,控制薄膜的生长速率,已达到制备不同材料的目的。根据硅基薄膜的电学特性和XRD测试,随着反应功率的增加,硅基薄膜的生长速率不断提高,微晶硅薄膜的晶化程度不断增大。 展开更多
关键词 x射线衍射(xrd) 氢化非晶硅(a-Si:H)薄膜 氢化微晶硅(μc-Si:H)薄膜 晶粒尺寸
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可吸入颗粒物中非晶质含量的原样XRD分析 被引量：4
11
作者 范二平 王河锦 《中国环境科学》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第12期1951-1957,共7页
为了获取尽可能完整的样品信息,直接利用采集的大气PM10原样进行非晶质X射线衍射(XRD)的定量分析.按照实际PM10的构成用玻璃纤维滤膜采集人为模拟大气结晶颗粒物样品,结合实验拟合得到的滤膜衍射图,推导出根据空白滤膜衍射强度计算不同... 为了获取尽可能完整的样品信息,直接利用采集的大气PM10原样进行非晶质X射线衍射(XRD)的定量分析.按照实际PM10的构成用玻璃纤维滤膜采集人为模拟大气结晶颗粒物样品,结合实验拟合得到的滤膜衍射图,推导出根据空白滤膜衍射强度计算不同样品载量时滤膜的衍射强度公式,从而消除了滤膜的基底效应的影响,并计算出实际大气样品中非晶质的衍射强度.采用无定形碳模拟大气中的非晶质,通过测定纯碳的衍射强度,得到纯碳比空白玻璃纤维滤膜的参比强度K为0.59,类比绝热法求出非晶质的质量百分比.应用该方法对北京市2010年冬季采集到的一组大气可吸入颗粒物样品进行了原样XRD分析,得出其非晶质含量分别为10.44%、13.83%、15.12%、15.88%和11.96%. 展开更多
关键词 原样x射线衍射(xrd) 可吸入颗粒物(PM10) 玻璃纤维滤膜 非晶质 定量分析
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Si内标-X射线衍射法定量测定铁矿中Fe_(3)O_(4)、Fe_(2)O_(3)和SiO_(2) 被引量：5
12
作者 乔柱 郑建明 +2 位作者 宋见峰 朱晓东 封亚辉 《中国无机分析化学》 CAS 北大核心 2023年第5期463-468,共6页
铁矿物相的准确定量对矿物价值评价及选冶工艺研究有重要作用,现有化学法流程复杂、效率低,X射线衍射全谱拟合法可溯源性差,结果准确性难以评价和验证。对制样条件、扫描参数、内标物选择、积分方式、重叠峰校正等进行优化选择,建立了... 铁矿物相的准确定量对矿物价值评价及选冶工艺研究有重要作用,现有化学法流程复杂、效率低,X射线衍射全谱拟合法可溯源性差,结果准确性难以评价和验证。对制样条件、扫描参数、内标物选择、积分方式、重叠峰校正等进行优化选择,建立了以Si为内标,以Cu靶X射线为辐射光源,步进扫描方式获得衍射谱图,以待测相含量为横坐标,待测相与内标相峰面积比值为纵坐标的校准曲线,以曲线对铁矿中Fe_(3)O_(4)、Fe_(2)O_(3)和SiO_(2)物相进行定量的方法。结果表明,试样全部通过45μm标准筛,Si内标比例为10%,步进长度0.01°,步进时间30 s,选择对Fe_(3)O_(4)(311)、Fe_(2)O_(3)(104)、SiO_(2)(011)和Si(111)的衍射峰进行积分强度计算,可获得最优结果。在选定工作条件下,Fe_(3)O_(4)在1.07%~100%范围内线性相关系数(R2)为0.995 3,相对标准偏差(RSD)1.1%~13.2%(n=6),加标回收率99.7%~115%,检出限(LOD)4.29%;Fe_(2)O_(3)在1.51%~100%范围内线性相关系数(R2)为0.999 1,相对标准偏差(RSD)2.8%~10.6%(n=6),加标回收率87.1%~112%,检出限(LOD)2.56%;SiO_(2)在0.79%~29.72%范围内线性相关系数(R2)为0.995 7,相对标准偏差(RSD)3.2%~10.3%(n=6),加标回收率86.6%~98.9%,检出限(LOD)0.68%。方法易溯源、准确性易评价和验证,适合开展标准化检测和应用。 展开更多
关键词 铁矿 物相 定量分析 内标法 x射线衍射(xrd)
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激光晶化多晶硅的制备与XRD谱 被引量：17
13
作者 廖燕平 黄金英 +4 位作者 郜峰利 邵喜斌 付国柱 荆海 缪国庆 《吉林大学学报（理学版）》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期99-102,共4页
对氢化非晶硅(a-Si:H)进行了脱氢和不同能量密度的准分子激光晶化多晶硅的实验,对所得样品用X射线衍射表征.针对多晶硅(111)面特征峰的强度、晶面间距和宽化信息,分析了激光功率密度对晶化多晶硅结晶度和应力的影响,根据谢乐公式(Scherr... 对氢化非晶硅(a-Si:H)进行了脱氢和不同能量密度的准分子激光晶化多晶硅的实验,对所得样品用X射线衍射表征.针对多晶硅(111)面特征峰的强度、晶面间距和宽化信息,分析了激光功率密度对晶化多晶硅结晶度和应力的影响,根据谢乐公式(Scherrer)估算了晶粒的大小,得到用准分子激光晶化多晶硅的较佳工艺参数,并且验证了激光辐射对薄膜材料作用的3种情况. 展开更多
关键词 氢化非晶硅 脱氢 激光晶化 多晶硅 x射线衍射 半宽度 制备 xrd谱 薄膜材料
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XRD研究芳基乙炔聚合物炭化过程中的结构变化 被引量：5
14
作者 丁学文 陈东 +3 位作者 曹建华 庄元其 王俊 焦扬声 《高分子材料科学与工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第2期127-130,共4页
根据热失重曲线、元素分析和 X射线衍射分析了芳基乙炔聚合物炭化过程中的结构变化。结果表明 ,芳基乙炔聚合物在 90 0℃炭化时 ,成碳率高达 84 % ;随着炭化温度的升高 ,碳含量增加 ,H/ C比减小。在 6 0 0℃以前 ,随着炭化温度的升高 ,... 根据热失重曲线、元素分析和 X射线衍射分析了芳基乙炔聚合物炭化过程中的结构变化。结果表明 ,芳基乙炔聚合物在 90 0℃炭化时 ,成碳率高达 84 % ;随着炭化温度的升高 ,碳含量增加 ,H/ C比减小。在 6 0 0℃以前 ,随着炭化温度的升高 ,聚合物原有的序态结构逐渐被破坏 ;6 0 0℃以后 ,随着炭化温度的升高 。 展开更多
关键词 芳基乙炔聚合物 炭化过程 x射线衍射 结构 xrd
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XRD测定炭素材料的石墨化度 被引量：30
15
作者 钱崇梁 周桂芝 黄启忠 《中南工业大学学报》 CSCD 北大核心 2001年第3期285-288,共4页
研究了用X射线衍射 (XRD)测定炭素材料石墨化度的原理和方法 ,指出其本质是精确测定炭石墨六方晶格的C轴点阵常数值 ,为此 ,用高纯硅粉作内标以校准测量误差 .为提高测量精度 ,选用高角度的C( 0 0 4 ) -Si( 311) 衍射线对 ;当试样的石... 研究了用X射线衍射 (XRD)测定炭素材料石墨化度的原理和方法 ,指出其本质是精确测定炭石墨六方晶格的C轴点阵常数值 ,为此 ,用高纯硅粉作内标以校准测量误差 .为提高测量精度 ,选用高角度的C( 0 0 4 ) -Si( 311) 衍射线对 ;当试样的石墨化度较低时 ,因C( 0 0 4 ) 衍射线强度太小 ,选用C( 0 0 2 ) -Si( 331) 线对 .将它们分别进行Kα1,Kα2 双线分离处理后 ,以Kα1峰的半高宽之中心点定峰位并据此计算石墨化度 .实验结果表明 :在碳 /碳复合材料中 ,由于采用了多种原材料 ,经高温热处理后形成石墨化的程度不尽相同 ,即试样中含有不同石墨化度的组分 ,致使炭石墨的衍射线呈现明显的不对称性 ,此时必须进行多重峰分离处理 ,分离出的子峰通常无需再进行双线分离 ,即可直接用来计算各组分的石墨化度 ;由各子峰的积分强度可计算不同石墨化度组分的相对含量 ,以此进行权重计算所得的平均石墨化度更合理地反映了试样内部石墨化度的实际情况 . 展开更多
关键词 xrd 石墨化度 炭素材料 x射线衍射 晶体结构
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基于XRD与FTIR的碱钢渣胶凝材料复合激发机理研究 被引量：15
16
作者 张浩 王林 龙红明 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2018年第7期2302-2306,共5页
以Na_2SiO_3、NaOH和Ca(OH)_2制备碱溶液,然后利用碱溶液对钢渣进行活化处理。分别研究Na_2SiO_3用量、NaOH用量和Ca(OH)_2用量对碱钢渣胶凝材料的力学性能影响,获得最优力学性能的碱钢渣胶凝材料。采用XRD,FTIR和SEM对最优力学性能的... 以Na_2SiO_3、NaOH和Ca(OH)_2制备碱溶液,然后利用碱溶液对钢渣进行活化处理。分别研究Na_2SiO_3用量、NaOH用量和Ca(OH)_2用量对碱钢渣胶凝材料的力学性能影响,获得最优力学性能的碱钢渣胶凝材料。采用XRD,FTIR和SEM对最优力学性能的碱钢渣胶凝材料进行表征。结果表明,当NaOH用量为4.50g、Na2SiO_3用量为11.25g和Ca(OH)_2用量为6.75g时,碱钢渣胶凝材料的力学性能最优。Na_2SiO_3对碱钢渣胶凝材料的7d抗压强度影响显著,NaOH对碱钢渣胶凝材料的3d抗压强度影响显著,Ca(OH)2对碱钢渣胶凝材料的28d抗压强度影响显著。Na_2SiO_3,NaOH和Ca(OH)_2碱性物质的加入促使钢渣形成稳定的C-S-H凝胶与沸石类相。 展开更多
关键词 x射线衍射(xrd) 傅里叶变换红外光谱(FTIR) 碱钢渣胶凝材料 钢渣 复合激发机理
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3003铝合金X射线法表面残余应力的检测 被引量：7
17
作者 段能全 任建亮 +1 位作者 庞瑞强 吴昊天 《中国表面工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第6期79-84,共6页
采用X射线衍射法测量铝合金3003基体材料表面残余应力中用到的衍射角。试验中,将等强度梁加载后表面产生的应力假设为"表面残余应力",用传统电测法和X射线法分别测量加载后铝合金3003等强度梁的应力值。以电测值为参照,考察X... 采用X射线衍射法测量铝合金3003基体材料表面残余应力中用到的衍射角。试验中,将等强度梁加载后表面产生的应力假设为"表面残余应力",用传统电测法和X射线法分别测量加载后铝合金3003等强度梁的应力值。以电测值为参照,考察X射线法在衍射角为142°和156°时的应力测量值,并对其进行对比分析。试验表明,衍射角为142°时的测量结果存在非测量不当引起的测量非线性点。因此,X射线测铝合金3003宏观表面残余应力的最佳衍射角为156°。 展开更多
关键词 表面残余应力 基体材料 x射线法(xrd) 衍射角 铝合金
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X射线在棕榈藤纤维细胞壁结构研究上的应用 被引量：5
18
作者 汪佑宏 张菲菲 +3 位作者 薛夏 季必超 李担 张利萍 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2020年第5期1442-1446,共5页
棕榈藤(rattan)是热带森林中仅次于木材和竹材、重要的非木材林产品,具有很高的经济价值和开发前景。由于目前对棕榈藤的细胞结构,尤其是藤纤维的细胞壁结构知之甚少,严重限制了对棕榈藤材的研究和加工利用。因此,为构建棕榈藤材纤维细... 棕榈藤(rattan)是热带森林中仅次于木材和竹材、重要的非木材林产品,具有很高的经济价值和开发前景。由于目前对棕榈藤的细胞结构,尤其是藤纤维的细胞壁结构知之甚少,严重限制了对棕榈藤材的研究和加工利用。因此,为构建棕榈藤材纤维细胞壁结构模型、探索棕榈藤强韧机理,选择高地钩叶藤为研究对象,采用X射线衍射法(XRD),分别测量并计算藤纤维微纤丝角、结晶度及微晶体尺寸等结晶参数;其中微纤丝角计算选用0.4 T法。微纤丝角测试时,试样沿直径方向由一侧藤皮开始依次切取尺寸为L(长)×T(厚)×W(宽)=25 mm×0.5 mm×W的试件8片,然后放置在温度为(20±2)℃、相对湿度为65%±5%的调温调湿箱中平衡处理至少一周。结晶度及微晶体尺寸测试时,每个试样再分藤皮、藤中和藤芯三个部分,使用球磨机磨成粉末后放入烘箱中在(103±2)℃下烘至绝干。研究结果表明:高地钩叶藤微纤丝角在22.53°~49.47°间变异,平均值为36.50°。径向上藤皮处微纤丝角最小,藤芯处微纤丝角最大,说明藤皮强度比藤芯好;轴向上微纤丝角为2 m处>梢部>中部>基部,微纤丝角与藤龄间规律性不强。藤茎结晶度在21.40%~36.45%间变异,平均值为29.99%。径向上纤维素结晶度为藤皮>藤中>藤芯;轴向向上随藤龄减小,结晶度呈先升后降变化趋势,且最大值在中部、最小值在基部。纤维素微晶体宽度在5.72~6.19 nm间变异,平均值为6.03 nm。藤皮处微晶体宽度最小,藤芯最大;藤茎平均微晶体宽度与藤中、藤芯一样,随着藤茎高度的升高呈先下降后至中部达最小值后又上升的变化趋势。微晶体长度在13.07~19.34 nm间变异,平均值为15.59 nm。径向上微晶体长度为藤皮>藤芯>藤中;微晶体长度轴向随着藤茎高度上升,均呈"降-升-降"趋势,总体上微晶体长度基部高于梢部,呈下降趋势。高地钩叶藤藤茎中段比基部和梢部材质好、藤皮比藤芯质量高。 展开更多
关键词 高地钩叶藤 x射线衍射法(xrd) 微纤丝角 结晶度 微晶体宽度 微晶体长度
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PLS-XRD快速测量S Zorb再生剂中尖晶石含量 被引量：8
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作者 付颖 张欣 +1 位作者 邹亢 徐广通 《石油学报（石油加工）》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第3期453-458,共6页
为快速测定S Zorb再生剂中非活性含锌尖晶石物相(硅锌矿和锌铝尖晶石)的含量,首次运用偏最小二乘(PLS)化学计量学的方法,将XRD谱图信息与Rietveld物相定量方法获得的物相含量数据相关联,建立了针对SZorb再生剂中含锌尖晶石物相的定量校... 为快速测定S Zorb再生剂中非活性含锌尖晶石物相(硅锌矿和锌铝尖晶石)的含量,首次运用偏最小二乘(PLS)化学计量学的方法,将XRD谱图信息与Rietveld物相定量方法获得的物相含量数据相关联,建立了针对SZorb再生剂中含锌尖晶石物相的定量校正模型,优化了影响模型质量的参数如谱图预处理方法和特征衍射峰的选取,并用未知样品验证了模型的准确性。此方法解决了利用Rietveld方法进行S Zorb吸附剂定量谱图解析时耗时较长、且依赖专家经验的问题,有助于及时监测装置运行过程中吸附剂的活性变化,进而保障工业装置平稳运行。 展开更多
关键词 S Zorb再生剂 含锌尖晶石 x射线衍射(xrd) Rietveld物相定量分析(RPA) 偏最小二乘法(PLS) 化学计量学
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基于XRD的径向分布函数法研究碳纤维制备过程中的结构演变 被引量：2
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作者 林雪 王成国 +3 位作者 于美杰 徐勇 林治涛 张姗 《航空材料学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第1期72-77,共6页
采用X射线和径向分布函数研究分析了聚丙烯腈(PAN)基碳纤维制备过程中的结构演变。结果表明,PAN原丝中存在着与石墨类似的结构,该结构是石墨微晶结构形成的重要基础;PAN大分子链最近邻链间间距为0.688nm;碳化温度在500～1250℃范围内的... 采用X射线和径向分布函数研究分析了聚丙烯腈(PAN)基碳纤维制备过程中的结构演变。结果表明,PAN原丝中存在着与石墨类似的结构,该结构是石墨微晶结构形成的重要基础;PAN大分子链最近邻链间间距为0.688nm;碳化温度在500～1250℃范围内的碳化纤维中的第三近邻距离均大于石墨晶体的第三近邻距离,表明碳纤维中没有形成平面构型的六元环石墨烯层片;在整个碳纤维的制备过程中,纤维结构经历了长程有序-长程无序、短程有序-长程有序的演变。 展开更多
关键词 碳纤维 聚丙烯腈 x射线衍射(xrd) 径向分布函数 结构
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