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有机源载气对MOCVD生长InGaN薄膜的影响研究
1
作者
王立
李述体
+3 位作者
彭学新
熊传兵
李鹏
江凤益
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第3期213-217,共5页
采用MOCVD技术以Al2 O3 为衬底在GaN膜上生长了InxGa1-xN薄膜。以卢瑟福背散射 /沟道技术和光致发光技术对InxGa1-xN/GaN/Al2 O3 样品进行了测试。获得了合金层的组分、厚度、结晶品质及发光性能等信息。研究表明 :在以N2 作主载气的情...
采用MOCVD技术以Al2 O3 为衬底在GaN膜上生长了InxGa1-xN薄膜。以卢瑟福背散射 /沟道技术和光致发光技术对InxGa1-xN/GaN/Al2 O3 样品进行了测试。获得了合金层的组分、厚度、结晶品质及发光性能等信息。研究表明 :在以N2 作主载气的情况下 ,有机源的载气对InxGa1-xN膜的In组分和生长速率影响很大。生长温度为 76 0℃时 ,以 70ml/min的N2 作有机源载气得到的InxGa1-xN膜的In组分为 0 10 ,生长速率为 6 0nm/min ;而以 70ml/min的H2 作有机源载气得到的InxGa1-xN薄膜的In组分为 0 0 6 ,生长速率为10 6nm/min。本文首次报导了载气中含有少量H2 能增大InxGa1-xN薄膜的生长速率的现象。
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关键词
MOCVD
卢瑟福背散射/沟道
技术
光致发光
LnGaN薄膜
铟镓氮化合物
有机源载气
薄膜生长
GAN
氮化镓半导体
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职称材料
未掺杂GaN外延膜的结晶特性与蓝带发光关系的研究
2
作者
李述体
江风益
+3 位作者
范广涵
王立
莫春兰
方文卿
《量子电子学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第3期366-370,共5页
采用卢瑟福背散射/沟道技术, X射线双晶衍射技术和光致发光技术对几个以MOCVD技术生长的蓝带发光差异明显的未掺杂GaN外延膜和GaN:Mg外延膜进行了测试。结果表明,未掺杂GaN薄膜中出现的2.9 eV左右的蓝带发光与薄膜的结晶品质密切相关。...
采用卢瑟福背散射/沟道技术, X射线双晶衍射技术和光致发光技术对几个以MOCVD技术生长的蓝带发光差异明显的未掺杂GaN外延膜和GaN:Mg外延膜进行了测试。结果表明,未掺杂GaN薄膜中出现的2.9 eV左右的蓝带发光与薄膜的结晶品质密切相关。随未掺杂GaN的蓝带强度与带边强度之比增大, GaN的卢瑟福背散射/沟道谱最低产额增大, X射线双晶衍射峰半高宽增大。未掺杂GaN薄膜的蓝带发光与薄膜中的某种本征缺陷有关。研究还表明,未掺杂GaN中出现的蓝带与GaN:Mg外延膜中出现的2.9 eV左右的发光峰的发光机理不同。
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关键词
GAN
卢瑟福背散射/沟道
X射线双晶衍射
光致发光
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职称材料
题名
有机源载气对MOCVD生长InGaN薄膜的影响研究
1
作者
王立
李述体
彭学新
熊传兵
李鹏
江凤益
机构
南昌大学材料科学研究所
出处
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第3期213-217,共5页
基金
国家"8 6 3"新材料领域 ( 715 -0 0 1-0 0 12 )
国家自然科学基金 ( 6 96 76 0 19)
江西省跨世纪人才
文摘
采用MOCVD技术以Al2 O3 为衬底在GaN膜上生长了InxGa1-xN薄膜。以卢瑟福背散射 /沟道技术和光致发光技术对InxGa1-xN/GaN/Al2 O3 样品进行了测试。获得了合金层的组分、厚度、结晶品质及发光性能等信息。研究表明 :在以N2 作主载气的情况下 ,有机源的载气对InxGa1-xN膜的In组分和生长速率影响很大。生长温度为 76 0℃时 ,以 70ml/min的N2 作有机源载气得到的InxGa1-xN膜的In组分为 0 10 ,生长速率为 6 0nm/min ;而以 70ml/min的H2 作有机源载气得到的InxGa1-xN薄膜的In组分为 0 0 6 ,生长速率为10 6nm/min。本文首次报导了载气中含有少量H2 能增大InxGa1-xN薄膜的生长速率的现象。
关键词
MOCVD
卢瑟福背散射/沟道
技术
光致发光
LnGaN薄膜
铟镓氮化合物
有机源载气
薄膜生长
GAN
氮化镓半导体
Keywords
MOCVD
InGaN
Rutherford backscattering and ion channeling
photoluminescence
分类号
TN304.205 [电子电信—物理电子学]
O472.3 [理学—半导体物理]
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职称材料
题名
未掺杂GaN外延膜的结晶特性与蓝带发光关系的研究
2
作者
李述体
江风益
范广涵
王立
莫春兰
方文卿
机构
华南师范大学光电子材料与技术研究所
南昌大学材料科学研究所
出处
《量子电子学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第3期366-370,共5页
文摘
采用卢瑟福背散射/沟道技术, X射线双晶衍射技术和光致发光技术对几个以MOCVD技术生长的蓝带发光差异明显的未掺杂GaN外延膜和GaN:Mg外延膜进行了测试。结果表明,未掺杂GaN薄膜中出现的2.9 eV左右的蓝带发光与薄膜的结晶品质密切相关。随未掺杂GaN的蓝带强度与带边强度之比增大, GaN的卢瑟福背散射/沟道谱最低产额增大, X射线双晶衍射峰半高宽增大。未掺杂GaN薄膜的蓝带发光与薄膜中的某种本征缺陷有关。研究还表明,未掺杂GaN中出现的蓝带与GaN:Mg外延膜中出现的2.9 eV左右的发光峰的发光机理不同。
关键词
GAN
卢瑟福背散射/沟道
X射线双晶衍射
光致发光
Keywords
film optics
GaN
rutherford backscattering and ion channeling
double crystal X-ray diffraction
photoluminescence
分类号
TN304.23 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
有机源载气对MOCVD生长InGaN薄膜的影响研究
王立
李述体
彭学新
熊传兵
李鹏
江凤益
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001
0
在线阅读
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职称材料
2
未掺杂GaN外延膜的结晶特性与蓝带发光关系的研究
李述体
江风益
范广涵
王立
莫春兰
方文卿
《量子电子学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004
0
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职称材料
已选择
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引证文献
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