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考虑单粒子多瞬态故障的数字电路失效概率评估
被引量：
3
1
作者
梁华国
袁德冉
+1 位作者
闫爱斌
黄正峰
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2016年第3期505-512,共8页
为了准确评估电路的失效概率,提出一种考虑单粒子多瞬态(SEMT)的数字电路失效概率评估方法.该方法通过解析电路门级网表提取SEMT故障位置对;使用双指数电流源模型模拟故障注入,通过SEMT脉冲复合模型将SEMT脉冲转化为复合的SET脉冲并沿...
为了准确评估电路的失效概率,提出一种考虑单粒子多瞬态(SEMT)的数字电路失效概率评估方法.该方法通过解析电路门级网表提取SEMT故障位置对;使用双指数电流源模型模拟故障注入,通过SEMT脉冲复合模型将SEMT脉冲转化为复合的SET脉冲并沿数据通路向下游传播;在脉冲传播过程中,使用SEMT脉冲屏蔽模型评估逻辑屏蔽、电气屏蔽与时窗屏蔽效应,使用电路失效概率计算方法得到电路总体失效概率.实验结果表明,与同类方法相比,文中方法计算结果更为精确;与基于统计的蒙特卡罗方法相比,该方法的相对误差仅为2%,能够有效地指导集成电路容错设计.
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关键词
失效概率
软错误
单粒子多瞬态
信号概率
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职称材料
题名
考虑单粒子多瞬态故障的数字电路失效概率评估
被引量：
3
1
作者
梁华国
袁德冉
闫爱斌
黄正峰
机构
合肥工业大学电子科学与应用物理学院
合肥工业大学计算机与信息学院
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2016年第3期505-512,共8页
基金
国家自然科学基金(61274036
61574052
+2 种基金
61371025
61106038)
安徽省高校省级自然科学研究重大项目(KJ2014ZD12)
文摘
为了准确评估电路的失效概率,提出一种考虑单粒子多瞬态(SEMT)的数字电路失效概率评估方法.该方法通过解析电路门级网表提取SEMT故障位置对;使用双指数电流源模型模拟故障注入,通过SEMT脉冲复合模型将SEMT脉冲转化为复合的SET脉冲并沿数据通路向下游传播;在脉冲传播过程中,使用SEMT脉冲屏蔽模型评估逻辑屏蔽、电气屏蔽与时窗屏蔽效应,使用电路失效概率计算方法得到电路总体失效概率.实验结果表明,与同类方法相比,文中方法计算结果更为精确;与基于统计的蒙特卡罗方法相比,该方法的相对误差仅为2%,能够有效地指导集成电路容错设计.
关键词
失效概率
软错误
单粒子多瞬态
信号概率
Keywords
failure probability
soft error
single event multiple transients
signal probability
分类号
TP391.72 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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1
考虑单粒子多瞬态故障的数字电路失效概率评估
梁华国
袁德冉
闫爱斌
黄正峰
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2016
3
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