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不同雪崩冲击模式下SiC MOSFET的失效机理
被引量：
5
1
作者
李辉
钟懿
+5 位作者
王少刚
于仁泽
陈显平
姚然
王晓
龙海洋
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2019年第19期5595-5603,共9页
在高开关速度di/dt和寄生电感的耦合下,SiC MOSFET器件极易进入雪崩工作模式。针对现有单一实验失效分析难以揭示不同雪崩冲击模式可能引起不同失效模式的问题,提出在单次和重复雪崩冲击下SiC MOSFET器件失效机理的实验与仿真研究。首先...
在高开关速度di/dt和寄生电感的耦合下,SiC MOSFET器件极易进入雪崩工作模式。针对现有单一实验失效分析难以揭示不同雪崩冲击模式可能引起不同失效模式的问题,提出在单次和重复雪崩冲击下SiC MOSFET器件失效机理的实验与仿真研究。首先,搭建SiC MOSFET非钳位电感(unclamped inductive switching,UIS)雪崩实验平台及元胞级仿真模型。其次,基于单次脉冲雪崩冲击实验建立SiC MOSFET对应失效模型,获取单次脉冲下失效演化中元胞电热分布规律。最后,基于重复雪崩冲击失效实验,建立SiC MOSFET对应失效演化模型,仿真性能退化特征参数,获取重复雪崩冲击下失效演化过程的电场分布规律。实验和仿真表明,单次脉冲雪崩冲击下寄生BJT闩锁造成SiC MOSFET器件失效;而氧化层捕获空穴形成氧化层固定电荷会导致器件后期阈值电压降低,引起重复雪崩冲击下器件失效。
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关键词
SIC
MOSFET
单次脉冲雪崩冲击
重复
脉冲
雪崩
冲击
失效模式
失效机理
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职称材料
题名
不同雪崩冲击模式下SiC MOSFET的失效机理
被引量：
5
1
作者
李辉
钟懿
王少刚
于仁泽
陈显平
姚然
王晓
龙海洋
机构
输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室光电技术及系统教育部重点实验室(重庆大学)
出处
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2019年第19期5595-5603,共9页
基金
国家重点研发计划项目(2018YFB0905704)
重庆市研究生科研创新项目(CYB19019)~~
文摘
在高开关速度di/dt和寄生电感的耦合下,SiC MOSFET器件极易进入雪崩工作模式。针对现有单一实验失效分析难以揭示不同雪崩冲击模式可能引起不同失效模式的问题,提出在单次和重复雪崩冲击下SiC MOSFET器件失效机理的实验与仿真研究。首先,搭建SiC MOSFET非钳位电感(unclamped inductive switching,UIS)雪崩实验平台及元胞级仿真模型。其次,基于单次脉冲雪崩冲击实验建立SiC MOSFET对应失效模型,获取单次脉冲下失效演化中元胞电热分布规律。最后,基于重复雪崩冲击失效实验,建立SiC MOSFET对应失效演化模型,仿真性能退化特征参数,获取重复雪崩冲击下失效演化过程的电场分布规律。实验和仿真表明,单次脉冲雪崩冲击下寄生BJT闩锁造成SiC MOSFET器件失效;而氧化层捕获空穴形成氧化层固定电荷会导致器件后期阈值电压降低,引起重复雪崩冲击下器件失效。
关键词
SIC
MOSFET
单次脉冲雪崩冲击
重复
脉冲
雪崩
冲击
失效模式
失效机理
Keywords
SiC MOSFET
single pulse avalanche shock
repetitive avalanche shock
failure mode
failure mechanism
分类号
TM46 [电气工程—电器]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
不同雪崩冲击模式下SiC MOSFET的失效机理
李辉
钟懿
王少刚
于仁泽
陈显平
姚然
王晓
龙海洋
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2019
5
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