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用Z-80单板机控制激光测微仪自动检测
1
作者
刘长润
刘耀民
《激光杂志》
CAS
1988年第1期29-34,共6页
激光测微仪可无接触地测量直径为几微米～几十微米的细丝。在Z-80单板机的控制下,可将一轴成千上万米长的细丝从头至尾进行逐点测量。并将总长和各种超差长度及其所占百分比等数据打印出来,以便评定该轴细丝的质量等级。
关键词
单板机控制
激光测微仪
自动检测
数据打印
质量等级
细丝
无接触
微米
测量
在线阅读
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职称材料
用单板机控制的晶体管参数综合测试系统
2
作者
商周
王世军
《电测与仪表》
北大核心
1989年第6期37-39,共3页
为进行晶体管老化试验,对晶体管批量参数测试,采用运算速度快、功能多的单板计算机解决晶体管老化台的控制。文中介绍了接口电路、硬件、软件的设计。
关键词
单板机控制
晶体管
参数测试系统
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职称材料
题名
用Z-80单板机控制激光测微仪自动检测
1
作者
刘长润
刘耀民
机构
西北电讯工程学院技术物理系激光教研室
出处
《激光杂志》
CAS
1988年第1期29-34,共6页
文摘
激光测微仪可无接触地测量直径为几微米～几十微米的细丝。在Z-80单板机的控制下,可将一轴成千上万米长的细丝从头至尾进行逐点测量。并将总长和各种超差长度及其所占百分比等数据打印出来,以便评定该轴细丝的质量等级。
关键词
单板机控制
激光测微仪
自动检测
数据打印
质量等级
细丝
无接触
微米
测量
分类号
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
TM921.51 [电气工程—电力电子与电力传动]
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职称材料
题名
用单板机控制的晶体管参数综合测试系统
2
作者
商周
王世军
机构
哈尔滨工人业余大学
出处
《电测与仪表》
北大核心
1989年第6期37-39,共3页
文摘
为进行晶体管老化试验,对晶体管批量参数测试,采用运算速度快、功能多的单板计算机解决晶体管老化台的控制。文中介绍了接口电路、硬件、软件的设计。
关键词
单板机控制
晶体管
参数测试系统
分类号
TN320.407 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
用Z-80单板机控制激光测微仪自动检测
刘长润
刘耀民
《激光杂志》
CAS
1988
0
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职称材料
2
用单板机控制的晶体管参数综合测试系统
商周
王世军
《电测与仪表》
北大核心
1989
0
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职称材料
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