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一种非同步时序电路的测试生成方案
1
作者
王红
成本茂
+1 位作者
杨士元
邢建辉
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第4期733-736,共4页
分析了非同步时序电路测试生成所面临的问题。根据测试状态下非同步时序电路的时序特点,结合同步时序电路测试生成算法,提出和论证了一种解决非同步时序电路测试生成问题的方案,通过为时序元件建立完全模型,将时序电路中的时钟信号引入...
分析了非同步时序电路测试生成所面临的问题。根据测试状态下非同步时序电路的时序特点,结合同步时序电路测试生成算法,提出和论证了一种解决非同步时序电路测试生成问题的方案,通过为时序元件建立完全模型,将时序电路中的时钟信号引入,为非同步时序电路构建出用于测试的单时钟同步电路模型,从而直接用同步时序电路测试生成算法解决非同步电路的测试生成问题。
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关键词
完全模型
非
同步
时序
电
路
单时钟同步电路
测试生成
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职称材料
题名
一种非同步时序电路的测试生成方案
1
作者
王红
成本茂
杨士元
邢建辉
机构
清华大学自动化系
出处
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第4期733-736,共4页
基金
国家自然科学基金项目(60633060)
文摘
分析了非同步时序电路测试生成所面临的问题。根据测试状态下非同步时序电路的时序特点,结合同步时序电路测试生成算法,提出和论证了一种解决非同步时序电路测试生成问题的方案,通过为时序元件建立完全模型,将时序电路中的时钟信号引入,为非同步时序电路构建出用于测试的单时钟同步电路模型,从而直接用同步时序电路测试生成算法解决非同步电路的测试生成问题。
关键词
完全模型
非
同步
时序
电
路
单时钟同步电路
测试生成
Keywords
completive model
non-synchronous sequential circuit
synchronous sequential circuit
test generation
分类号
TN431 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
一种非同步时序电路的测试生成方案
王红
成本茂
杨士元
邢建辉
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
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