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通过单扫描链的构造实现最小测试应用时间
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作者
李兆麟
叶以正
毛志刚
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
1999年第12期1280-1288,共9页
在交迭测试体系［１，２］ 的基础上提出了一种利用二选一开关辅助扫描寄存器的排序、能够实现最小测试应用时间的单扫描链的构造方法，给出了单扫描链的构造规则．此外还分析了由于二选一开关的引入带来的硬件开销问题，提出了一个能...
在交迭测试体系［１，２］ 的基础上提出了一种利用二选一开关辅助扫描寄存器的排序、能够实现最小测试应用时间的单扫描链的构造方法，给出了单扫描链的构造规则．此外还分析了由于二选一开关的引入带来的硬件开销问题，提出了一个能够减少硬件开销的算法．
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关键词
集成电路
测试
最小测试
应用时间
单扫描链
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职称材料
题名
通过单扫描链的构造实现最小测试应用时间
被引量：
1
1
作者
李兆麟
叶以正
毛志刚
机构
哈尔滨工业大学微电子中心
出处
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
1999年第12期1280-1288,共9页
文摘
在交迭测试体系［１，２］ 的基础上提出了一种利用二选一开关辅助扫描寄存器的排序、能够实现最小测试应用时间的单扫描链的构造方法，给出了单扫描链的构造规则．此外还分析了由于二选一开关的引入带来的硬件开销问题，提出了一个能够减少硬件开销的算法．
关键词
集成电路
测试
最小测试
应用时间
单扫描链
Keywords
IC test, minimum test application time, single scan chain, hardware overhead.
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
通过单扫描链的构造实现最小测试应用时间
李兆麟
叶以正
毛志刚
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
1999
1
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参考文献
引证文献
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