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FT51:一种容软错误高可靠微控制器 被引量:14
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作者 龚锐 陈微 +2 位作者 刘芳 戴葵 王志英 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2007年第10期1662-1673,共12页
文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51.首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构,采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转(SEU)和组合逻辑单事件瞬态(SET)进行防护.所有的片内存储器采用Hamming编码进行防护.针对现有控制流... 文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51.首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构,采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转(SEU)和组合逻辑单事件瞬态(SET)进行防护.所有的片内存储器采用Hamming编码进行防护.针对现有控制流检测的不足,该设计采用了软硬件结合的控制流检测与恢复机制.FT51在HJTC0.25μm工艺下进行了实现,与未经加固的版本相比,其额外的面积开销为80.6%,额外的性能开销为19%~133%.文中还提出了一种微处理器可靠性评估框架,在此框架下通过模拟和理论推导证明:典型情况下FT51的故障检出和屏蔽率为99.73%. 展开更多
关键词 微控制器 软错误 单事件翻转 事件瞬态 时空三模冗余 控制流检测
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一种双模互锁的容软错误静态锁存器 被引量:6
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作者 梁华国 黄正峰 +1 位作者 王伟 詹文法 《宇航学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第5期2020-2024,2061,共6页
针对太空环境下粒子辐射引发的软错误已经成为芯片失效的主导原因,提出一种容软错误锁存器结构——DIL—SET。该结构在内部构建基于C单元的双模互锁结构,针对单事件翻转进行防护。ISCAS-89标准电路在UMC0.18um工艺下的实验表明,使用... 针对太空环境下粒子辐射引发的软错误已经成为芯片失效的主导原因,提出一种容软错误锁存器结构——DIL—SET。该结构在内部构建基于C单元的双模互锁结构,针对单事件翻转进行防护。ISCAS-89标准电路在UMC0.18um工艺下的实验表明,使用DIL—SET代替未经加固的静态锁存器,面积开销增加4.99%~53.47%,软错误率平均下降99%以上。 展开更多
关键词 软错误 双模互锁 单事件翻转 C
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低开销的软错误免疫寄存器设计
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作者 孙岩 高昌垒 +1 位作者 李少青 张民选 《国防科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第5期12-18,共7页
随着工艺尺寸的逐渐缩小,集成电路中由放射性粒子引起的软错误不断增加,在设计时必须考虑由软错误引起的可靠性问题。使用软错误免疫寄存器对电路敏感部分选择性加固是降低逻辑电路软错误率简单有效的方法。总结了常用的软错误免疫寄存... 随着工艺尺寸的逐渐缩小,集成电路中由放射性粒子引起的软错误不断增加,在设计时必须考虑由软错误引起的可靠性问题。使用软错误免疫寄存器对电路敏感部分选择性加固是降低逻辑电路软错误率简单有效的方法。总结了常用的软错误免疫寄存器结构,并使用可靠性分析方法对8种寄存器进行量化研究和比较,得出双模时空冗余寄存器具有更高的可靠度;针对现有可靠寄存器开销较大的缺点,设计了一种基于时钟延时的动态主级时空双模冗余寄存器——DMTS-DR,不仅能很好地免疫自身的SEU,还能对前级组合逻辑的SET进行有效屏蔽。与其它可靠寄存器相比,DMTS-DR的面积和延时开销都有大幅降低,在可靠性、面积和速度间实现了较好的折中。 展开更多
关键词 寄存器 软错误 单事件翻转 事件瞬态 时空冗余
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基于信号跳变时间可调整的容错路由器
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作者 张颖 江建慧 +1 位作者 李华伟 李晓维 《同济大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第2期305-311,共7页
设计了一种基于信号跳变时间可调整(STTA)的片上网路容错路由器.首先,这种路由器能够准确预测总线的串扰故障,并通过错开信号跳变的方法容忍总线的串扰故障.然后,为了容忍寄存器上的单事件翻转(SEU),路由器中所有的寄存器被替换成双内... 设计了一种基于信号跳变时间可调整(STTA)的片上网路容错路由器.首先,这种路由器能够准确预测总线的串扰故障,并通过错开信号跳变的方法容忍总线的串扰故障.然后,为了容忍寄存器上的单事件翻转(SEU),路由器中所有的寄存器被替换成双内锁单元(DICE).结果表明:基于STTA的路由器仅需在普通路由器上增加46%的面积开销和70%的功耗开销,就能容忍总线上串扰导致的故障和寄存器上的SEU.与基于TS-HC-TMR和SCAC-TMR方法的容错路由器相比,基于STTA的路由器至少减少了93%的面积和55%的功耗开销,有效地解决了容错路由器开销过大的问题. 展开更多
关键词 容错路由器 信号跳变时间可调整(STTA) 总线串扰效应 单事件翻转(SEU) 双内锁元(DICE)
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基于内建自测的软错误与老化在线检测 被引量:1
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作者 杨叔寅 秦晨飞 +1 位作者 黄正峰 梁华国 《计算机工程》 CAS CSCD 2012年第8期235-238,共4页
负偏置温度不稳定性为主的老化会造成时序违规故障及软错误故障。为此,提出软错误与老化在线检测器(SEAOS)。在器件正常工作的情况下,在线检测上述2种故障。复用并发内建逻辑块观察器,使得硬件开销不超过30%。实验结果表明,在0.18μm工... 负偏置温度不稳定性为主的老化会造成时序违规故障及软错误故障。为此,提出软错误与老化在线检测器(SEAOS)。在器件正常工作的情况下,在线检测上述2种故障。复用并发内建逻辑块观察器,使得硬件开销不超过30%。实验结果表明,在0.18μm工艺尺寸下,与经典检测结构相比,SEAOS有较好的检测能力,且硬件开销较少。 展开更多
关键词 软错误与老化在线检测器 老化 单事件翻转故障 复用 负偏置温度不稳定性 内建逻辑块观察器
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美国几架航天飞机所发生的SEU研究 被引量:8
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作者 古士芬 臧振群 +1 位作者 师立勤 吴中华 《空间科学学报》 CAS CSCD 北大核心 1998年第3期253-260,共8页
本文对1991年美国发射的5架不同倾角不同高度的低地球轨道航天飞机所遇到的单粒子翻转事件进行了考查和研究.结果证实在极光区和南大西洋异常区仍可能发生大量单粒子事件,大大地影响到航天器的安全,对此文中给出了一些结论和建议.
关键词 航天器异常 航天飞机 粒子翻转事件 SEU
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改进型纠检错校验算法在星载计算机上的应用
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作者 甄凡凡 徐雪莲 《现代电子技术》 2023年第16期22-28,共7页
纠检错算法是星载计算机抗单粒子翻转事件的有效策略。随着FPGA在航天领域的广泛应用,纠检错算法已成为实现纠检错功能的最佳硬件手段。针对单粒子多位翻转事件的发生,文中提出一种纠检错能力更强、耗时更短且具备数据回写功能的改进型... 纠检错算法是星载计算机抗单粒子翻转事件的有效策略。随着FPGA在航天领域的广泛应用,纠检错算法已成为实现纠检错功能的最佳硬件手段。针对单粒子多位翻转事件的发生,文中提出一种纠检错能力更强、耗时更短且具备数据回写功能的改进型纠检错算法。该算法采用一种(48,32,6)的线性循环缩短码,通过16位校验位对32位数据位进行纠二检三校验。在星载嵌入式高可靠计算机上进行算法验证,实验结果表明,所提算法能够成功实现纠二检三和数据回写的功能,且耗时仅需两个时钟周期。该算法满足实时性系统的要求,可以有效防护单粒子翻转事件,提高星载计算机的可靠性。 展开更多
关键词 纠检错算法 星载计算机 粒子翻转事件 现场可编程门阵列 编解码算法 纠二检三 数据回写
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