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RF芯片测试技术研究
1
作者
余琨
《中国集成电路》
2015年第3期41-46,55,共7页
本论文主要介绍了当前RF芯片及其测试挑战,讲述了应用于无线通信系统和高数据速率交换装置芯片的测试环境开发,研究了RF芯片测试关键技术,包括测试软件开发技术及测试硬件设计技术。然后介绍了如何利用半导体自动测试设备(ATE)对RF芯片...
本论文主要介绍了当前RF芯片及其测试挑战,讲述了应用于无线通信系统和高数据速率交换装置芯片的测试环境开发,研究了RF芯片测试关键技术,包括测试软件开发技术及测试硬件设计技术。然后介绍了如何利用半导体自动测试设备(ATE)对RF芯片关键参数进行测试,实现RF芯片自动测试方法的创新。通过本论文的研究,可以为RF芯片提供相应的测试解决方案。
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关键词
RF芯片
测试
技术
半导体自动测试设备
增益
相位噪声
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职称材料
题名
RF芯片测试技术研究
1
作者
余琨
机构
上海华岭集成电路技术股份有限公司
出处
《中国集成电路》
2015年第3期41-46,55,共7页
文摘
本论文主要介绍了当前RF芯片及其测试挑战,讲述了应用于无线通信系统和高数据速率交换装置芯片的测试环境开发,研究了RF芯片测试关键技术,包括测试软件开发技术及测试硬件设计技术。然后介绍了如何利用半导体自动测试设备(ATE)对RF芯片关键参数进行测试,实现RF芯片自动测试方法的创新。通过本论文的研究,可以为RF芯片提供相应的测试解决方案。
关键词
RF芯片
测试
技术
半导体自动测试设备
增益
相位噪声
Keywords
RFIC
testing technology
Semiconductor Automatic Test Equipment
Gain
Phase noise
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
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作者
出处
发文年
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1
RF芯片测试技术研究
余琨
《中国集成电路》
2015
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