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吉时利仪器公司全新推出半导体特性分析系统
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《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2000年第6期60-60,61,共2页
关键词 半导体特性分析系统 4200-SCS型 吉时利
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吉时利仪器公司推出C-V测量性能更佳的4200-CVU
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《电信科学》 北大核心 2007年第12期94-94,共1页
吉时利仪器公司宣布推出4200-CVU,为4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200S-CS的任意可用仪器插槽中,能在10kHz~10MHz频率范围内快速、方便地测量腰和nF级电容,具有直观的点击式配置界... 吉时利仪器公司宣布推出4200-CVU,为4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200S-CS的任意可用仪器插槽中,能在10kHz~10MHz频率范围内快速、方便地测量腰和nF级电容,具有直观的点击式配置界面,线缆连接简单,内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户是否具有相关测量经验,都能使用该仪器实现专业级的C-v测量。由于4200-CVU附带完整的测试库,因此极大提高了测量效率。如果与吉时利4200-LS-LC-12结合使用,将实现更高测量效率。 展开更多
关键词 吉时利仪器公司 测量性能 半导体特性分析系统 4200-SCS 测量效率 C-V测量 C-V测量 测量功能
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