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吉时利仪器公司全新推出半导体特性分析系统: 1; 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2000年第6期60-60,61,共2页; 关键词半导体特性分析系统 4200-SCS型吉时利; 在线阅读下载PDF 职称材料

用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试: 2; 作者 Keithley Inc 《电子质量》 2003年第2期7-9,共3页; 文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间。; 关键词 4200-SCS 超低电流测试接地屏蔽噪声半导体特性分析系统; 在线阅读下载PDF 职称材料

4200-SCS：脉冲式半导体器件特性测量方案: 3; 《世界电子元器件》 2005年第9期83-83,共1页; 吉时利仪器在4200型半导体特性分析系统中新增加了脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲I-V）子系统，更便于进行高介电（High-k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究。; 关键词半导体特性分析系统 4200-SCS 脉冲式测量方案器件特性测量功能信号发生 200型存储芯片敏感器件; 在线阅读下载PDF 职称材料

吉时利仪器公司推出C-V测量性能更佳的4200-CVU: 4; 《电信科学》北大核心 2007年第12期94-94,共1页; 吉时利仪器公司宣布推出4200-CVU，为4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200S-CS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz～10MHz频率范围内快速、方便地测量腰和nF级电容，具有直观的点击式配置界... 展开更多; 关键词吉时利仪器公司测量性能半导体特性分析系统 4200-SCS 测量效率 C-V测量 C-V测量测量功能; 在线阅读下载PDF 职称材料

吉时利公司发布新产品: 5; 《通信世界》 2008年第1期I0028-I0028,共1页; 近日，吉时利公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C—V测量功能——4200-CVU，同时发布业界领先的MIMO射频测试解决方案。吉时利公司介绍，4200—CVU改写了测试历史，具有开发时间短，学习过程容易，测试能力快... 展开更多; 关键词吉时利公司半导体特性分析系统 4200-SCS 测试解决方案产品测量功能 MIMO 公司介绍; 在线阅读下载PDF 职称材料

4200-CVU：C-V测量功能模块: 6; 《世界电子元器件》 2007年第11期74-74,共1页; 吉时利仪器为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。该设备具有直... 展开更多; 关键词 C-V测量功能模块 4200-SCS 半导体特性分析系统测量功能测量模块频率范围元件模型; 在线阅读下载PDF 职称材料

吉时利为改良的脉冲测试发布新版测试软件: 7; 《电子工业专用设备》 2006年第12期70-71,共2页; 关键词脉冲测试测试软件吉时利半导体特性分析系统 4200-SCS 测量软件仪器公司; 在线阅读下载PDF 职称材料

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