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半导体测试系统优化: 1; 作者朱传敏冯凯 +1 位作者何宝华张燕燕《佳木斯大学学报（自然科学版）》 CAS 2011年第5期693-695,698,共4页; 为了进一步提高半导体测试生产中设备利用率、按期交货率和较低的在制品水平,改进改进半导体测试系统性能,本文提出了不同工件混合生产与设备专用生产相结合的生产模式.并在现有的MODD调度方法基础上,加入了设备切换准备时间的影响.用... 展开更多; 关键词半导体测试系统动态调度生产模式系统优化; 在线阅读下载PDF 职称材料

智能型半导体器件测试系统的抗干扰措施: 2; 作者焦阳李雪莉《河北科技大学学报》 CAS 2000年第2期64-66,共3页; 针对智能型半导体器件测试系统的主要干扰源作了详细的理论分析，并从硬件、软件两个方面介绍了一些提高整个系统可靠性的抗干扰措施。实际运行表明，这些抗干扰措施为该系统的可靠、稳定运行提供了有力的保证。; 关键词微机控制系统抗干扰半导体器件测试系统; 在线阅读下载PDF 职称材料

基于BC3193测试系统的常见分立器件测试方法研究: 3; 作者王闯钱威成 +1 位作者何胜亮郭旭东《电子质量》 2025年第2期64-68,共5页; 分立器件广泛地应用于通信、计算机、消费电子、汽车电子和工业自动化等多个领域。随着全球化电子产业的持续增长,分立器件测试市场呈现出稳步增长的态势,分立器件的测试技术也在不断进步。在分立器件量产测试中,BC3193测试方案应用几... 展开更多; 关键词分立器件半导体测试系统量产测试; 在线阅读下载PDF 职称材料

威宇科技添购安捷伦93000测试系统建立中国第一条1Gbps高速测试生产线: 4; 《集成电路应用》 2003年第7期23-23,共1页; 关键词威宇科技公司安捷伦科技公司中国封装测试半导体测试系统; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名半导体测试系统优化: 1; 作者朱传敏冯凯何宝华张燕燕; 机构同济大学机械工程学院超微半导体AMD有限公司; 出处《佳木斯大学学报（自然科学版）》 CAS 2011年第5期693-695,698,共4页; 文摘为了进一步提高半导体测试生产中设备利用率、按期交货率和较低的在制品水平,改进改进半导体测试系统性能,本文提出了不同工件混合生产与设备专用生产相结合的生产模式.并在现有的MODD调度方法基础上,加入了设备切换准备时间的影响.用双向选择的方法,进一步改善了调度方法,减少了设备切换次数和切换时间.通过在仿真模型中的试验,验证了优化方法的有效性和可行性.; 关键词半导体测试系统动态调度生产模式系统优化; Keywords semiconductor testing system dynamic dispatching production mode system optimizationy; 分类号 TP391.9 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名智能型半导体器件测试系统的抗干扰措施: 2; 作者焦阳李雪莉; 机构河北科技大学信息工程学院石家庄市高新技术开发区热电煤气公司; 出处《河北科技大学学报》 CAS 2000年第2期64-66,共3页; 文摘针对智能型半导体器件测试系统的主要干扰源作了详细的理论分析，并从硬件、软件两个方面介绍了一些提高整个系统可靠性的抗干扰措施。实际运行表明，这些抗干扰措施为该系统的可靠、稳定运行提供了有力的保证。; 关键词微机控制系统抗干扰半导体器件测试系统; Keywords microcomputer controlling system anti-interference reliability; 分类号 TP273 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置] TP202 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于BC3193测试系统的常见分立器件测试方法研究: 3; 作者王闯钱威成何胜亮郭旭东; 机构中国电子科技集团公司第五十八研究所; 出处《电子质量》 2025年第2期64-68,共5页; 文摘分立器件广泛地应用于通信、计算机、消费电子、汽车电子和工业自动化等多个领域。随着全球化电子产业的持续增长,分立器件测试市场呈现出稳步增长的态势,分立器件的测试技术也在不断进步。在分立器件量产测试中,BC3193测试方案应用几乎涵盖了大部分的器件类型,在多种器件的量产测试中得到了验证,是比较成熟的测试方案。对基于BC3193测试系统的常见分立器件的参数测试方法进行了研究。首先,阐述了3种常见分立器件的各参数的测试原理;然后,介绍了BC3193测试系统;最后,基于BC3193测试系统对上述3种常见分立器件的各参数进行了测试,从而验证了该测试方法的有效性。; 关键词分立器件半导体测试系统量产测试; Keywords discrete device semiconductor test system mass production test; 分类号 TN389 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名威宇科技添购安捷伦93000测试系统建立中国第一条1Gbps高速测试生产线: 4; 出处《集成电路应用》 2003年第7期23-23,共1页; 关键词威宇科技公司安捷伦科技公司中国封装测试半导体测试系统; 分类号 TN304.07 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	操作
1	半导体测试系统优化	朱传敏冯凯何宝华张燕燕	《佳木斯大学学报（自然科学版）》 CAS	2011	在线阅读下载PDF 职称材料
2	智能型半导体器件测试系统的抗干扰措施	焦阳李雪莉	《河北科技大学学报》 CAS	2000	在线阅读下载PDF 职称材料
3	基于BC3193测试系统的常见分立器件测试方法研究	王闯钱威成何胜亮郭旭东	《电子质量》	2025	在线阅读下载PDF 职称材料
4	威宇科技添购安捷伦93000测试系统建立中国第一条1Gbps高速测试生产线		《集成电路应用》	2003	在线阅读下载PDF 职称材料