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新型近红外光电探测材料碲铟汞的研究
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作者 王领航 张继军 +1 位作者 介万奇 董阳春 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第A01期387-389,共3页
研究了一种新型近红外光电探测材料碲铟汞(MIT)晶体,利用垂直Bridgman法成功生长了MIT单晶,并采用X-ray衍射分析、UV-NIR-IR光谱分析及Hall测试对晶体的形态结构及光电性能进行了检测。结果表明:MIT晶体为缺陷闪锌矿结构,其在中... 研究了一种新型近红外光电探测材料碲铟汞(MIT)晶体,利用垂直Bridgman法成功生长了MIT单晶,并采用X-ray衍射分析、UV-NIR-IR光谱分析及Hall测试对晶体的形态结构及光电性能进行了检测。结果表明:MIT晶体为缺陷闪锌矿结构,其在中远红外波段透过性能较好( 〉50%),并且随着波长的增大,透过增强.MIT晶体为n型半导体,室温电阻率为4.79×10^2Ω.cm,载流子迁移率为4.6×10^2cm^2.V^-1.s^-1,载流子浓度为2.83×10^13cm^-3。较低的载流子浓度,有利于降低探测器的噪声及提高探测器的能量分辨率。 展开更多
关键词 碲铟汞 晶体生长 垂直布里奇曼法 光电半导体材料 近红外探测器
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新型光电信息材料的应用及展望
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作者 黄炫云 《兵器材料科学与工程》 CAS CSCD 北大核心 1998年第5期58-61,共4页
介绍了光电信息工程用新型功能材料———光电半导体材料、非线性光学材料和金刚石薄膜的基本特性、分类及其应用,并对它们的发展前景作了展望。
关键词 光电半导体材料 非线性光学材料 金刚石薄膜
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高效可重现的SbI_(3)声化学合成及其薄膜制备
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作者 李晴雯 钟敏 《人工晶体学报》 北大核心 2025年第6期1042-1049,共8页
二维金属卤化物近年来成为研究热点,其中三碘化锑(SbI_(3))因具有光学各向异性、较高的折射率、二次谐波等特性被用于辐射探测器和光电器件。但SbI_(3)价格昂贵,限制了其大规模应用。本文以锑粉和碘粉为原料,首次采用声化学方法合成了Sb... 二维金属卤化物近年来成为研究热点,其中三碘化锑(SbI_(3))因具有光学各向异性、较高的折射率、二次谐波等特性被用于辐射探测器和光电器件。但SbI_(3)价格昂贵,限制了其大规模应用。本文以锑粉和碘粉为原料,首次采用声化学方法合成了SbI_(3),并研究了超声时间、反应溶剂、Sb物质的量及锑碘摩尔比对产物的影响,并以此粉体为原料制得SbI_(3)晶体和薄膜。结果表明,当溶剂为甲醇,锑碘摩尔比n(Sb)∶n(I_(2))=2∶3.6(碘过量20%),超声时间为100 min时,得到纯相SbI_(3)粉体。采用升华法在温度为220℃,反应时间为3 h时得到(006)高取向的SbI_(3)晶体。采用气相输运沉积方法制备SbI_(3)薄膜时,沉积距离对薄膜形貌有较大影响。沉积距离增大使薄膜致密性提高,但沉积区温度降低导致薄膜晶化变差,因此要选择合适的沉积距离。此处,沉积距离为17.5 cm时获得了致密均匀的SbI_(3)薄膜。该声化学合成SbI_(3)的方法简单高效,成本低,重现性好,并可拓展应用于AgI、CuI、BiI_(3)和Cs_(3)Bi_(2)I_(9)等金属碘化物的合成。 展开更多
关键词 三碘化锑 半导体光电材料 声化学合成 升华 气相输运沉积
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表面修饰纳米CdS制备中两个重要影响因素及结构表征 被引量:14
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作者 曹维良 张凯华 张敬畅 《无机化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2002年第10期997-1002,共6页
利用溶胶-凝胶法制备了PVP表面修饰的CdS纳米晶粒。考察了影响纳米CdS制备的两个重要因素Cd2+/S2-和PVP,及其作用机理。确证表面过剩S2-和PVP在反应体系中的作用是在较高浓度下制备纳米CdS的两个重要因素,进一步确定了PVP的最佳用量。通... 利用溶胶-凝胶法制备了PVP表面修饰的CdS纳米晶粒。考察了影响纳米CdS制备的两个重要因素Cd2+/S2-和PVP,及其作用机理。确证表面过剩S2-和PVP在反应体系中的作用是在较高浓度下制备纳米CdS的两个重要因素,进一步确定了PVP的最佳用量。通过TEM、ED、XRD、FT-IR等手段对合成的纳米粒子进行了结构表征,最小粒径为7~10nm,闪锌矿构型,粒子大小及形貌可通过改变Cd2+/S2-及反应物浓度来控制。最后给出了CdS/PVP纳米晶粒的结构模型。 展开更多
关键词 表面修饰 结构表征 纳米CDS PVP 光电半导体材料 硫化镉
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碲铟汞晶体的生长研究 被引量:1
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作者 王领航 董阳春 介万奇 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第2期253-255,共3页
以高纯Hg、In、Te单质为原料,在摇摆合料炉中成功地合成了HgInTe多晶原料,并且利用该多晶原料,在特殊设计的坩埚中,成功地生长了HgInTe单晶体。X射线衍射分析证明,所生长的HgInTe晶体为缺陷闪锌矿结构,晶格常数a=0.6293nm,是一种高质量... 以高纯Hg、In、Te单质为原料,在摇摆合料炉中成功地合成了HgInTe多晶原料,并且利用该多晶原料,在特殊设计的坩埚中,成功地生长了HgInTe单晶体。X射线衍射分析证明,所生长的HgInTe晶体为缺陷闪锌矿结构,晶格常数a=0.6293nm,是一种高质量的完整单晶体。 展开更多
关键词 HgInTe 晶体生长 垂直布里奇曼法 光电半导体材料 近红外探测器
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