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平板裂缝天线阻抗匹配设计探讨 被引量:2
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作者 金林 何国瑜 《微波学报》 CSCD 北大核心 2001年第4期67-71,共5页
本文对平板裂缝天线辐射裂缝匹配方程进行了深入的分析 ,发现中间馈电情况下辐射裂缝导纳和等于 2的结论与确定耦合裂缝阻抗的边界条件有关 ,通过改变确定耦合裂缝阻抗与裂缝结构参数关系的边界条件 ,推导出了辐射裂缝导纳和等于
关键词 平板裂缝天线 匹配设计方程 阻抗匹配
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