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蓝宝石衬底的化学机械抛光技术的研究
被引量:
37
1
作者
王银珍
周圣明
徐军
《人工晶体学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第3期441-447,共7页
介绍了蓝宝石衬底的化学机械抛光工艺 ,概述了化学机械抛光原理和设备 ,讨论分析了影响蓝宝石衬底化学机械抛光的因素 ,阐述了CMP的主要发展趋势 :能定量确定最佳CMP工艺 ,系统地研究CMP工艺过程参数 ,建立完善的CMP理论模型 ,满足不同...
介绍了蓝宝石衬底的化学机械抛光工艺 ,概述了化学机械抛光原理和设备 ,讨论分析了影响蓝宝石衬底化学机械抛光的因素 ,阐述了CMP的主要发展趋势 :能定量确定最佳CMP工艺 ,系统地研究CMP工艺过程参数 ,建立完善的CMP理论模型 ,满足不同的工艺要求和应用领域 ,有效降低成本 。
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关键词
化学机械抛光技术
蓝宝石
衬底
CMP
抛光
方法
抛光
机
在线阅读
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职称材料
用于超精密硅晶片表面的化学机械抛光(CMP)技术研究
被引量:
17
2
作者
梅燕
韩业斌
聂祚仁
《润滑与密封》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第9期206-212,共7页
化学机械抛光(CMP)技术作为目前唯一的可以提供在整个圆硅晶片上全面平坦化的工艺技术,已被越来越广泛地应用到了半导体领域。重点叙述了CMP技术背景、设备、抛光原理、发展现状、存在的问题以及未来的发展趋势。
关键词
化学
机械抛光
(CMP)
技术
浆料
硅片
在线阅读
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职称材料
影响CMP用纳米Al_2O_3磨粒粒度均一性的因素及其机理
被引量:
3
3
作者
何捍卫
胡岳华
+1 位作者
黄可龙
徐竞
《矿冶工程》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第1期42-45,共4页
系统地研究了制备CMP用纳米γ Al2 O3 磨粒时影响粒度及其均一性的各种因素 ,并对其机理进行了探讨。确定了控制粒度及粒度均一性的最佳条件 ,制得了均一性好的γ Al2 O3
关键词
CMP
粒度均一性
化学机械抛光技术
氧化铝磨粒
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职称材料
题名
蓝宝石衬底的化学机械抛光技术的研究
被引量:
37
1
作者
王银珍
周圣明
徐军
机构
中国科学院上海光学精密机械研究所
出处
《人工晶体学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第3期441-447,共7页
文摘
介绍了蓝宝石衬底的化学机械抛光工艺 ,概述了化学机械抛光原理和设备 ,讨论分析了影响蓝宝石衬底化学机械抛光的因素 ,阐述了CMP的主要发展趋势 :能定量确定最佳CMP工艺 ,系统地研究CMP工艺过程参数 ,建立完善的CMP理论模型 ,满足不同的工艺要求和应用领域 ,有效降低成本 。
关键词
化学机械抛光技术
蓝宝石
衬底
CMP
抛光
方法
抛光
机
Keywords
sapphire
substrate
chemical mechanical polishing (CMP)
分类号
TG175 [金属学及工艺—金属表面处理]
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职称材料
题名
用于超精密硅晶片表面的化学机械抛光(CMP)技术研究
被引量:
17
2
作者
梅燕
韩业斌
聂祚仁
机构
北京工业大学材料科学与工程学院
出处
《润滑与密封》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第9期206-212,共7页
文摘
化学机械抛光(CMP)技术作为目前唯一的可以提供在整个圆硅晶片上全面平坦化的工艺技术,已被越来越广泛地应用到了半导体领域。重点叙述了CMP技术背景、设备、抛光原理、发展现状、存在的问题以及未来的发展趋势。
关键词
化学
机械抛光
(CMP)
技术
浆料
硅片
Keywords
chemical mechanical polishing (CMP) technology
slurry
silicon
分类号
O484.4 [理学—固体物理]
TG115.58 [金属学及工艺—物理冶金]
在线阅读
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职称材料
题名
影响CMP用纳米Al_2O_3磨粒粒度均一性的因素及其机理
被引量:
3
3
作者
何捍卫
胡岳华
黄可龙
徐竞
机构
中南大学化学化工学院
中南大学矿物工程系
出处
《矿冶工程》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第1期42-45,共4页
基金
湖南省优秀中青年基金资助项目 (98JZY2 1 67)
文摘
系统地研究了制备CMP用纳米γ Al2 O3 磨粒时影响粒度及其均一性的各种因素 ,并对其机理进行了探讨。确定了控制粒度及粒度均一性的最佳条件 ,制得了均一性好的γ Al2 O3
关键词
CMP
粒度均一性
化学机械抛光技术
氧化铝磨粒
Keywords
CMP
γ Al 2O 3 abrasive
granularity uniformity
分类号
TG739 [金属学及工艺—刀具与模具]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
蓝宝石衬底的化学机械抛光技术的研究
王银珍
周圣明
徐军
《人工晶体学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004
37
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
用于超精密硅晶片表面的化学机械抛光(CMP)技术研究
梅燕
韩业斌
聂祚仁
《润滑与密封》
CAS
CSCD
北大核心
2006
17
在线阅读
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职称材料
3
影响CMP用纳米Al_2O_3磨粒粒度均一性的因素及其机理
何捍卫
胡岳华
黄可龙
徐竞
《矿冶工程》
CAS
CSCD
北大核心
2002
3
在线阅读
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职称材料
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