深亚微米工艺下SoC多点温度低功耗测试调度方法 被引量：2

1

作者 焦铬 范双南 《电子测量技术》 2015年第7期67-70,共4页

在深亚微米技术实现的片上系统中,为了解决由于制程变异引起的温度不确定性,提出了一种多点温度测量的SoC低功耗测试调度方法。该方法采取在芯片中内建多个温度传感器,通过内建的温度传感器来感应温度,在SoC的核心部位进行多点采集,取... 在深亚微米技术实现的片上系统中,为了解决由于制程变异引起的温度不确定性,提出了一种多点温度测量的SoC低功耗测试调度方法。该方法采取在芯片中内建多个温度传感器,通过内建的温度传感器来感应温度,在SoC的核心部位进行多点采集,取温度的最高值反馈到控制系统,进行温度的调节控制。在测试过程中,在温度、功耗和总线带宽都满足条件的情况下进行调度,避免出现由制程变异引起的芯片局部过热的现象。在ITC’02基准电路上的实验结果表明,与文献[2]比较,该方法在保证芯片热安全的同时,使CPU使用时间平均多减少10.33%,使测试应用时间平均多减少11.14%。 展开更多

关键词 深亚微米工艺 多点温度 片上系统 低功耗测试调度

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龙芯3号多核处理器的低功耗测试技术 被引量：2

2

作者 齐子初 刘慧 +1 位作者 石小兵 韩银和 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2010年第11期2021-2028,2036,共9页

龙芯3号是一款低功耗处理器芯片,要求测试时保持较低功耗.为了解决低功耗测试的问题,对龙芯3号测试功耗进行了细致分析,提出一套考虑测试时间和测试开销的低功耗测试方案,并对整套方案中的各种技术在功耗、面积、时延以及测试时间等方... 龙芯3号是一款低功耗处理器芯片,要求测试时保持较低功耗.为了解决低功耗测试的问题,对龙芯3号测试功耗进行了细致分析,提出一套考虑测试时间和测试开销的低功耗测试方案,并对整套方案中的各种技术在功耗、面积、时延以及测试时间等方面进行了详细分析.针对龙芯3号测试功耗主要消耗在逻辑电路的翻转和测试时钟网络上的特点,采用IP级测试分割技术减少逻辑电路和时钟网络的翻转;采用门控时钟对局部扫描触发器进行控制减少单核扫描捕获期间的逻辑翻转,并采用了阻隔门技术、不关心位(X位)填充技术减少单核扫描移位的逻辑翻转.实验结果表明,龙芯3号4核处理器达到了预定小于15W的测试平均功耗需求,单个IP核最大平均功耗降低为6W左右,约是正常功能平均功耗的40%,有效地保证了芯片的测试质量. 展开更多

关键词 低功耗测试 微处理器测试 多核微处理器测试 基于IP的测试

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低功耗测试研究进展 被引量：2

3

作者 方芳 王伟 +2 位作者 王杰 陈田 杨年宏 《合肥工业大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 北大核心 2009年第6期769-773,785,共6页

随着CMOS器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗,测试功耗已成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点。文章首先介绍了低功耗测试技术的基本概念,分析... 随着CMOS器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗,测试功耗已成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点。文章首先介绍了低功耗测试技术的基本概念,分析测试中的静态功耗和动态功耗;其次,分类介绍目前常用的测试功耗控制技术;然后,对研究热点的变化和技术发展的趋势做出说明。 展开更多

关键词 测试功耗 低功耗 芯片设计

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一种时间优化的NoC低功耗测试调度方法 被引量：4

4

作者 欧阳一鸣 张岚 梁华国 《中国科学技术大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第5期540-545,共6页

基于NoC重用的测试方法由于受到channel等资源的限制,测试调度问题变的非常复杂.为此提出了一种测试调度方法,综合考虑时间和功耗因素,在所有核并行测试时间最短的前提下,选取总体测试代价最小的I/O端口位置和IP核调度顺序.实验结果表明... 基于NoC重用的测试方法由于受到channel等资源的限制,测试调度问题变的非常复杂.为此提出了一种测试调度方法,综合考虑时间和功耗因素,在所有核并行测试时间最短的前提下,选取总体测试代价最小的I/O端口位置和IP核调度顺序.实验结果表明,本方案有效地降低了NoC的总体测试时间和功耗,提高了并行测试效率. 展开更多

关键词 片上系统 片上网络 测试调度 测试时间 测试功耗

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扫描位移过程中低功耗测试的设计与实现

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作者 李尤鹏 纪元法 +1 位作者 肖有军 雷鹏 《半导体技术》 CAS 北大核心 2023年第11期1012-1019,共8页

针对扫描位移功耗过高带来的生产成本增加、良率降低的问题,提出采用时钟相位调整技术和逻辑阻隔技术相组合的方式来降低测试功耗。利用布局布线之后的时钟偏差和物理位置等信息对时钟相位进行调整,从而降低峰值功耗;通过寄存器输出端... 针对扫描位移功耗过高带来的生产成本增加、良率降低的问题,提出采用时钟相位调整技术和逻辑阻隔技术相组合的方式来降低测试功耗。利用布局布线之后的时钟偏差和物理位置等信息对时钟相位进行调整,从而降低峰值功耗;通过寄存器输出端的扇出数量来决定阻隔逻辑电路插入点,从而降低平均功耗。将该方案应用于实际项目中,从面积、覆盖率、功耗角度分析了时钟相位调整技术和逻辑阻隔技术的特点。结果表明,在面积和覆盖率影响较小的情况下,采用两种技术组合后扫描位移的峰值功耗降低了73.24%,平均功耗降低了6.78%。该方案具有良好的实用性,可为大规模集成电路低功耗可测性设计提供参考。 展开更多

关键词 扫描测试 低功耗测试 位移功耗 时钟相位调整 阻隔逻辑电路

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是德科技低功耗分析解决方案助力工程师洞察关键应用的特征 为设计工程师提供新能源、汽车和医疗设备的精确低功耗测试

6

《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2016年第11期1779-1779,共1页

新闻要点： 最大限度延长电池续航时间,减少电源故障对新能源、汽车和医疗等设备应用的影响。

关键词 医疗设备 设计工程师 新能源 低功耗测试 功耗分析 应用 汽车 特征

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是德科技中标福州物联网开放实验室窄带物联网低功耗测试系统以及射频一致性测试系统

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《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2018年第3期25-25,共1页

芯片、模块和终端厂商可以验证并优化其产品在各种不同工作状态和部署场景下的实际功耗情况以及射频性能是德科技(NYSE:KEYS)日前宣布,其窄带物联网低功耗测试系统和射频一致性测试系统中标福州物联网开放实验室,将用于窄带物联网(NB-I... 芯片、模块和终端厂商可以验证并优化其产品在各种不同工作状态和部署场景下的实际功耗情况以及射频性能是德科技(NYSE:KEYS)日前宣布,其窄带物联网低功耗测试系统和射频一致性测试系统中标福州物联网开放实验室,将用于窄带物联网(NB-IoT)各阶段产品的功耗验证以及射频性能的一致性验证。该解决方案基于UXM E7515A窄带物联网基站模拟器的综合测试平台。 展开更多

关键词 物联网 开放实验室 低功耗测试 射频一致性测试

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小型田间作业机具的功耗测试

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作者 陈志英 《农机试验与推广》 1992年第6期16-16,共1页

关键词 农业机械 田间作业机具 功耗测试

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遥测系统在玉米秸秆粉碎功耗田间测试中的应用 被引量：14

9

作者 张超凡 师清翔 +2 位作者 李济顺 刘师多 倪长安 《农业工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第2期112-116,共5页

为了弄清玉米收获时,茎秆粉碎功耗与秸秆含水率、喂入量之间的关系,从而为玉米联合收获机配套动力选择提供准确的田间试验依据,利用无线网络遥测系统对4YW-2型玉米联合收获机秸秆粉碎部件的作业功耗进行了测试,结果发现当玉米秸秆含水率... 为了弄清玉米收获时,茎秆粉碎功耗与秸秆含水率、喂入量之间的关系,从而为玉米联合收获机配套动力选择提供准确的田间试验依据,利用无线网络遥测系统对4YW-2型玉米联合收获机秸秆粉碎部件的作业功耗进行了测试,结果发现当玉米秸秆含水率为79.63%、喂入量在1.91kg/s时,粉碎功耗峰值达12.04kW,约占所配输出动力的54%。同时发现玉米秸秆含水率对秸秆粉碎功耗的影响较大且随着含水率的增加,粉碎功耗明显增加。田间测试证明无线网络遥测系统安全方便。 展开更多

关键词 遥测系统 LabVIEW 玉米秸秆粉碎 功耗测试 玉米联合收获机 田间测试

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一种低功耗双重测试数据压缩方案 被引量：6

10

作者 陈田 易鑫 +3 位作者 王伟 刘军 梁华国 任福继 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第6期1382-1388,共7页

随着集成电路制造工艺的发展,VLSI(Very Large Scale Integrated)电路测试面临着测试数据量大和测试功耗过高的问题.对此,本文提出一种基于多级压缩的低功耗测试数据压缩方案.该方案先利用输入精简技术对原测试集进行预处理,以减少测试... 随着集成电路制造工艺的发展,VLSI(Very Large Scale Integrated)电路测试面临着测试数据量大和测试功耗过高的问题.对此,本文提出一种基于多级压缩的低功耗测试数据压缩方案.该方案先利用输入精简技术对原测试集进行预处理,以减少测试集中的确定位数量,之后再进行第一级压缩,即对测试向量按多扫描划分为子向量并进行相容压缩,压缩后的测试向量可用更短的码字表示;接着再对测试数据进行低功耗填充,先进行捕获功耗填充,使其达到安全阈值以内,然后再对剩余的无关位进行移位功耗填充;最后对填充后的测试数据进行第二级压缩,即改进游程编码压缩.对ISCAS89基准电路的实验结果表明,本文方案能取得比golomb码、FDR码、EFDR码、9C码、BM码等更高的压缩率,同时还能协同优化测试时的捕获功耗和移位功耗. 展开更多

关键词 测试向量相容 低功耗测试 测试数据压缩 双重压缩

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基于Viterbi的低功耗确定性测试方案 被引量：2

11

作者 陈田 易鑫 +4 位作者 郑浏旸 王伟 梁华国 任福继 刘军 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2016年第5期821-829,共9页

随着集成电路制造技术的不断发展,芯片测试已经成为一个令人关注的热点.针对集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题,提出一种基于Viterbi的低功耗测试压缩方案.首先利用测试立方的X位做低功耗填充来增强解码后测试模式相邻... 随着集成电路制造技术的不断发展,芯片测试已经成为一个令人关注的热点.针对集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题,提出一种基于Viterbi的低功耗测试压缩方案.首先利用测试立方的X位做低功耗填充来增强解码后测试模式相邻位之间的一致性;然后以增加测试立方中的X位为目标进行分段相容编码,将填充后的大量确定位重新编码为X位,从而提高Viterbi压缩中种子的编码效率;最后利用Viterbi算法压缩编码后的测试立方集.整体方案以分段相容编码思想为基础,建立了一个协同解决测试压缩和测试功耗问题的测试流程.实验结果表明,文中方案不仅能取得较好的测试数据压缩率,减少测试存储量,而且能够有效地降低测试功耗,平均功耗降低53.3%. 展开更多

关键词 低功耗测试 测试数据压缩 分段相容编码 VITERBI算法

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一种有效的低功耗扫描测试结构——PowerCut 被引量：10

12

作者 王伟 韩银和 +2 位作者 胡瑜 李晓维 张佑生 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2007年第3期473-478,共6页

扫描测试是超大规模集成电路测试中最常用的一种技术.但在扫描测试过程中,扫描单元的频繁翻转会引起电路中过大的测试功耗,这对电路测试提出了新的挑战.提出了一种新颖的低功耗全扫描结构——PowerCut,通过对扫描链的修改,加入阻隔逻辑... 扫描测试是超大规模集成电路测试中最常用的一种技术.但在扫描测试过程中,扫描单元的频繁翻转会引起电路中过大的测试功耗,这对电路测试提出了新的挑战.提出了一种新颖的低功耗全扫描结构——PowerCut,通过对扫描链的修改,加入阻隔逻辑,有效降低扫描移位过程中的动态功耗,同时加入控制单元,使电路在扫描移位过程时进入低漏电流状态,降低了电路的静态功耗.实验表明该结构在较小的硬件开销范围内有效地减小了扫描测试功耗. 展开更多

关键词 测试功耗 阻隔逻辑 控制单元 扫描链

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测试数据压缩和测试功耗协同优化技术 被引量：15

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作者 韩银和 李晓维 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2005年第6期1307-1311,共5页

提出一种新的压缩编码———VariableTail对测试数据进行压缩.建立了两个优化模型,并提出了一种测试向量排序和不确定位定值算法.利用该算法不仅能提高测试压缩率,而且能降低测试时待测电路上损耗的功耗.理论分析和ISCAS85,ISCAS89电路... 提出一种新的压缩编码———VariableTail对测试数据进行压缩.建立了两个优化模型,并提出了一种测试向量排序和不确定位定值算法.利用该算法不仅能提高测试压缩率,而且能降低测试时待测电路上损耗的功耗.理论分析和ISCAS85,ISCAS89电路的实验结果验证了文中编码和算法的有效性. 展开更多

关键词 测试数据压缩 测试功耗 Golomb编码 海明距离

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基于MEMS压阻传感器的低功耗高过载测试系统设计 被引量：5

14

作者 韩帅 马游春 +2 位作者 秦丽 王悦凯 丁宁 《爆炸与冲击》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第5期721-727,共7页

为了检验弹体在高冲击环境下的工作情况,提出了一种基于压阻传感器的高过载、低功耗的测试系统设计方案。该系统可承受2×105 g的过载冲击测试,且具有采样率高、体积小、功耗低的特点。通过打靶实验验证:在过载测试过程中该系统具... 为了检验弹体在高冲击环境下的工作情况,提出了一种基于压阻传感器的高过载、低功耗的测试系统设计方案。该系统可承受2×105 g的过载冲击测试,且具有采样率高、体积小、功耗低的特点。通过打靶实验验证:在过载测试过程中该系统具有承受高冲击的能力,并能精确地采集到信号微弱变化,保证了弹体在飞行中记录数据的准确性。 展开更多

关键词 爆炸力学 低功耗随弹测试系统 高冲击 压阻式微加速度计

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功耗优先的NoC通讯架构测试方法 被引量：5

15

作者 欧阳一鸣 黄河 梁华国 《合肥工业大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 北大核心 2010年第10期1510-1514,共5页

文章提出了一种针对片上网络通讯架构的测试方法,该测试方法可以测试路由器各端口以及各条链路;其主要目标是优先考虑降低测试NoC通讯架构过程中所产生的功耗,还可避免局部热点的产生。文中方法根据片上网络中各通讯节点的不同位置,合... 文章提出了一种针对片上网络通讯架构的测试方法,该测试方法可以测试路由器各端口以及各条链路;其主要目标是优先考虑降低测试NoC通讯架构过程中所产生的功耗,还可避免局部热点的产生。文中方法根据片上网络中各通讯节点的不同位置,合理地安排测试数据包的转发方式,以减少测试过程中复制转发数据包的数量,从而达到降低测试功耗的目的。实验结果表明,这种方法在提高测试效率的基础上,有效地降低了NoC的测试功耗。 展开更多

关键词 片上网络 测试方法 测试功耗

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降低最大距离测试码输入功耗研究

16

作者 张鼎 徐拾义 《计算机工程与应用》 CSCD 2014年第8期31-34,107,共5页

伪随机测试在数字系统的故障测试中已经得到了多年的应用,但传统的伪随机测试存在着效率比较低的缺陷。针对该缺陷提出了在伪随机测试方法中引入测试码之间距离的概念。根据测试码之间距离越大,能检测到不同故障的数目概率也越大的假设... 伪随机测试在数字系统的故障测试中已经得到了多年的应用,但传统的伪随机测试存在着效率比较低的缺陷。针对该缺陷提出了在伪随机测试方法中引入测试码之间距离的概念。根据测试码之间距离越大,能检测到不同故障的数目概率也越大的假设,基于测试码之间距离的随机测试法(简称基于距离测试法)可以生成一组测试码序列。但是由于基于距离测试法所生成的测试码相邻间距离的变大,将造成相邻输入码之间的跳变次数增多,使得输入测试码时所需要的功耗急剧增大。针对该情况,提出对伪随机测试法生成的测试码输入顺序进行重新排序和调整的概念,从而达到降低测试功耗的最终目标。 展开更多

关键词 伪随机测试 最大距离测试 预定距离测试 低功耗测试 生成矩阵

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用扫描链重构来提高EFDR编码的测试压缩率和降低测试功耗 被引量：1

17

作者 方昊 宋晓笛 程旭 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2009年第9期1290-1297,共8页

为了解决系统芯片测试中日益增长的测试数据和测试功耗的问题,提出一种不影响芯片正常逻辑功能的扫描链重构算法——Run-Reduced-Reconfiguration(3R).该算法针对扩展频率导向游程(EFDR)编码来重排序扫描链和调整扫描单元极性,重新组织... 为了解决系统芯片测试中日益增长的测试数据和测试功耗的问题,提出一种不影响芯片正常逻辑功能的扫描链重构算法——Run-Reduced-Reconfiguration(3R).该算法针对扩展频率导向游程(EFDR)编码来重排序扫描链和调整扫描单元极性,重新组织测试数据,减少了游程的数量,从而大大提高了EFDR编码的测试压缩率并降低测试功耗;分析了扫描链调整对布线长度带来的影响后,给出了权衡压缩率和布线长度的解决方案.在ISCAS89基准电路上的实验结果表明,使用3R算法后,测试压缩率提高了52%,测试移位功耗降低了53%. 展开更多

关键词 测试数据压缩 测试功耗 游程编码 扫描链排序

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智能终端功耗自动化测试系统的研究与设计 被引量：3

18

作者 刘鑫正 陈玉华 +2 位作者 黄利 李洵 颜蓓 《电子测量技术》 2014年第9期79-82,97,共5页

功耗是指设备运行所需的电源功率,对于手机等终端,功耗决定了其续航时间的长短,是开发设计阶段非常重要的一项测试内容。随着智能操作系统的普及,手机功耗的自动化测试成为可能。研究了智能手机功耗测试的现状,设计了一套适用于Android... 功耗是指设备运行所需的电源功率,对于手机等终端,功耗决定了其续航时间的长短,是开发设计阶段非常重要的一项测试内容。随着智能操作系统的普及,手机功耗的自动化测试成为可能。研究了智能手机功耗测试的现状,设计了一套适用于Android的测试系统,用于实现智能手机功耗的连续自动化测试。实测结果表明,该系统测试结果准确,自动化程度高,效率提升明显,可以显著降低研发测试成本。 展开更多

关键词 功耗测试 智能终端 自动化测试

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双阈值VLSI低测试功耗方法研究 被引量：1

19

作者 邢军 王冠军 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2009年第4期1402-1404,1408,共4页

提出一种测试功耗优化的新方法,它通过阈值门电路调节和漏电流优化两种方法相结合来降低静态功耗。通过算法寻找电路的关键路径,去除伪路径,然后在关键电路上设置低阈值门电路,在非关键电路上设置高阈值门电路(不违反时序约束的前提下)... 提出一种测试功耗优化的新方法,它通过阈值门电路调节和漏电流优化两种方法相结合来降低静态功耗。通过算法寻找电路的关键路径,去除伪路径,然后在关键电路上设置低阈值门电路,在非关键电路上设置高阈值门电路(不违反时序约束的前提下),利用测试向量的无关位特性来调整测试向量和测试架构,达到降低漏电流的目的。通过以上两种途径,整体上达到功耗优化的结果,实验结果证实了本方法的有效性。 展开更多

关键词 测试功耗 电压调节 漏电流优化 测试向量

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减小时序电路测试功耗的“无关值”方法

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作者 郭希维 苏群星 谷宏强 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2007年第5期77-79,共3页

降低集成电路的功耗是目前广泛研究的一个问题,而降低测试功耗正是其中的一个方面。本文提出了一种基于"无关值"方法,将该方法应用到时序电路测试序列中,可以达到减少测试功耗的目的。给出了寻找"无关值"算法的主... 降低集成电路的功耗是目前广泛研究的一个问题,而降低测试功耗正是其中的一个方面。本文提出了一种基于"无关值"方法,将该方法应用到时序电路测试序列中,可以达到减少测试功耗的目的。给出了寻找"无关值"算法的主要步骤,对关键环节进行了详细论述,给出了实验结论。 展开更多

关键词 时序电路 测试功耗 无关值 故障模拟

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