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功率循环试验中结温条件对IGBT器件失效模式的影响被引量：3: 1; 作者邓二平刘鹏 +2 位作者吕贤亮赵雨山丁立健《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第6期580-588,共9页; 为了探究功率循环试验中结温条件对绝缘栅双极型晶体管(IGBT)器件失效模式的影响及其失效机理,以理论分析为出发点,通过大量功率循环试验进行对比验证,基于瞬态热阻抗曲线建立了准确的三维有限元模型,并仿真分析了相关失效机理。仿真及... 展开更多; 关键词结温波动最大结温失效模式有限元仿真功率循环试验; 在线阅读下载PDF 职称材料

考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法: 2; 作者赵雨山邓二平 +4 位作者刘鉴辉潘茂杨张莹张传云黄永章《半导体技术》 CAS 北大核心 2022年第9期704-711,共8页; 实际应用中,功率模块桥臂之间的热耦合非常普遍,提出了考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法,但电流路径很难与实际工况下的电流路径保持一致。通过时序电参数法,分析了有、无热耦合条件下功率循环试验中功率模块结温的分布特点。分析... 展开更多; 关键词热耦合全桥功率模块功率循环试验时序电参数法寿命; 在线阅读下载PDF 职称材料

不同老化试验方法下SiC MOSFET失效机理分析被引量：25: 3; 作者陈杰邓二平 +2 位作者赵子轩吴宇轩黄永章《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2020年第24期5105-5114,共10页; SiC MOSFET凭借其优异的电热特性,正逐渐投入市场,长期运行其可靠性成为关注的重点,功率循环试验是考核器件可靠性最重要的老化试验。MOSFET具有三种导通模式,分别对应三种不同的功率循环测试方法。为探究和对比SiC MOSFET在不同老化试... 展开更多; 关键词 SiC MOSFET 功率循环试验导通模式阈值电压漂移结温测量失效机理; 在线阅读下载PDF 职称材料

寿命分散性对IGBT器件串联寿命评估的影响: 4; 作者赵雨山李伟邦 +3 位作者邓二平谢露红黄永章骆健《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第12期1106-1113,共8页; IGBT器件采用串联拓扑增加耐压等级以满足实际应用需求,但多器件串联增加了老化参数的监测数量和难度。为了研究寿命分散性对器件串联寿命的影响,揭示不同失效模式下串联IGBT与单一IGBT的寿命差异,首先,分析了功率循环中现有的老化参数... 展开更多; 关键词 IGBT 寿命分散性串联功率循环试验老化表征方法; 在线阅读下载PDF 职称材料

青藏客车辅助逆变电源IGBT模块寿命的特征参数研究: 5; 作者向超群尹雪瑶 +2 位作者成庶于天剑张璐琳《电气工程学报》 CSCD 2022年第2期27-37,共11页; 辅助逆变电源广泛应用于轨道交通领域中,而绝缘栅双极型晶体管(Insulated gate bipolar transistor,IGBT)作为其功率电子器件的常用选择,成为辅助逆变电源研究的重点。根据青藏客车辅助逆变电源IGBT模块部件性能特征,使用功率循环试验... 展开更多; 关键词焊接式IGBT 功率循环试验阈值电压热阻; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名功率循环试验中结温条件对IGBT器件失效模式的影响被引量：3: 1; 作者邓二平刘鹏吕贤亮赵雨山丁立健; 机构合肥工业大学电气与自动化工程学院电能高效高质转化全国重点实验室合肥综合性国家科学中心能源研究院南瑞集团(国网电力科学研究院)有限公司南京南瑞半导体有限公司中国电子技术标准化研究院; 出处《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第6期580-588,共9页; 基金国家自然科学基金青年科学基金(52007061)。; 文摘为了探究功率循环试验中结温条件对绝缘栅双极型晶体管(IGBT)器件失效模式的影响及其失效机理,以理论分析为出发点,通过大量功率循环试验进行对比验证,基于瞬态热阻抗曲线建立了准确的三维有限元模型,并仿真分析了相关失效机理。仿真及试验结果表明,键合线失效只受结温波动的影响;焊料老化受结温波动和最大结温的影响。增加结温波动会增加键合线、焊料所受应力,而提高最大结温会影响焊料的材料特性,加速其蠕变过程。研究成果解决了解析寿命模型难以表征失效机理的问题,并为失效模式的分离提供新的研究思路。; 关键词结温波动最大结温失效模式有限元仿真功率循环试验; Keywords junction temperature fluctuation maximum junction temperature failure mode finite element simulation power cycling test; 分类号 TN386 [电子电信—物理电子学] TN306 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法: 2; 作者赵雨山邓二平刘鉴辉潘茂杨张莹张传云黄永章; 机构新能源电力系统国家重点实验室(华北电力大学) 国家电网有限公司华北分部; 出处《半导体技术》 CAS 北大核心 2022年第9期704-711,共8页; 基金国家自然科学基金资助项目(52007061)。; 文摘实际应用中,功率模块桥臂之间的热耦合非常普遍,提出了考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法,但电流路径很难与实际工况下的电流路径保持一致。通过时序电参数法,分析了有、无热耦合条件下功率循环试验中功率模块结温的分布特点。分析了电流路径对考虑热耦合的功率循环试验的影响,并进行了有、无热耦合条件下的功率循环试验。结果显示,考虑热耦合的功率循环试验应考虑电流路径差异造成的影响,热耦合对功率循环寿命有影响。通过有限元仿真,探究了热耦合和电流路径影响功率模块结温分布的机理,确定了考虑热耦合的功率循环方法。; 关键词热耦合全桥功率模块功率循环试验时序电参数法寿命; Keywords thermal coupling full-bridge power module power cycling test sequential VCE(T)method lifetime; 分类号 TM464 [电气工程—电器] TN386.2 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名不同老化试验方法下SiC MOSFET失效机理分析被引量：25: 3; 作者陈杰邓二平赵子轩吴宇轩黄永章; 机构新能源电力系统国家重点实验室(华北电力大学) 华电(烟台)功率半导体技术研究院有限公司; 出处《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2020年第24期5105-5114,共10页; 基金国家自然科学基金资助项目(52007061)。; 文摘 SiC MOSFET凭借其优异的电热特性,正逐渐投入市场,长期运行其可靠性成为关注的重点,功率循环试验是考核器件可靠性最重要的老化试验。MOSFET具有三种导通模式,分别对应三种不同的功率循环测试方法。为探究和对比SiC MOSFET在不同老化试验方法下的失效机理和失效表征参数的变化规律,对其在不同导通模式下进行功率循环试验,基于不同导通模式下的特性分析,重点对比正向MOSFET模式和体二极管模式。SiC MOSFET中的界面陷阱会造成阈值电压漂移,为此提出一种判断准则以及相应的功率循环试验方法,可以将阈值电压漂移对试验结果的影响最小化,并在老化试验过程中实现结温、通态压降和热阻的在线测量。结果表明,在两种模式下失效方式均为键合线老化,但是老化后的电热反馈机制不同,造成其退化规律和寿命不同,相同热力条件下体二极管模式下的寿命约为正向MOSFET模式下的两倍。; 关键词 SiC MOSFET 功率循环试验导通模式阈值电压漂移结温测量失效机理; Keywords SiC MOSFET power cycling test conduction mode threshold voltage drift junction temperature measurement failure mechanism; 分类号 TM46 [电气工程—电器]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名寿命分散性对IGBT器件串联寿命评估的影响: 4; 作者赵雨山李伟邦邓二平谢露红黄永章骆健; 机构南瑞集团(国网电力科学研究院)有限公司南京南瑞半导体有限公司电能高效高质转化全国重点实验室(合肥工业大学) 新能源电力系统国家重点实验室(华北电力大学); 出处《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第12期1106-1113,共8页; 基金国家电网有限公司总部管理科技项目(5500-202440127A-1-1-ZN)。; 文摘 IGBT器件采用串联拓扑增加耐压等级以满足实际应用需求,但多器件串联增加了老化参数的监测数量和难度。为了研究寿命分散性对器件串联寿命的影响,揭示不同失效模式下串联IGBT与单一IGBT的寿命差异,首先,分析了功率循环中现有的老化参数监测方法,提出了寿命的特征分析模型;然后,结合失效分离的试验方法,分析了功率循环中键合线失效和焊料老化两种典型失效形式下的寿命分散性对串联寿命评估的影响;最后,分析了寿命高分散性和串联数量对器件串联寿命的影响,建立了寿命分散性差异与器件串联的老化表征方法有效性的关系,提出了考虑寿命分散性的器件串联老化监测的监测单元最大数量,为减少器件串联数量提供了实验和理论依据。; 关键词 IGBT 寿命分散性串联功率循环试验老化表征方法; Keywords IGBT lifetime dispersion series connection power cycling test aging characterization method; 分类号 TN323.4 [电子电信—物理电子学] TN306 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名青藏客车辅助逆变电源IGBT模块寿命的特征参数研究: 5; 作者向超群尹雪瑶成庶于天剑张璐琳; 机构中南大学交通运输工程学院; 出处《电气工程学报》 CSCD 2022年第2期27-37,共11页; 文摘辅助逆变电源广泛应用于轨道交通领域中,而绝缘栅双极型晶体管(Insulated gate bipolar transistor,IGBT)作为其功率电子器件的常用选择,成为辅助逆变电源研究的重点。根据青藏客车辅助逆变电源IGBT模块部件性能特征,使用功率循环试验的方法,掌握其性能随运行时间/里程的变化规律,估计其长期服役后的运用可靠性,为极端环境下辅助逆变电源IGBT模块全寿命周期性能研究以及剩余寿命评估提供参考。结果表明,经历极端环境下的IGBT模块老化寿命可以从阈值电压与热阻两种劣化参数变化中预测得出,其中阈值电压相对变化需要根据多芯片并联情况下芯片的类型与连接方式视情况而定,热阻随老化情况呈阶梯式上升趋势。; 关键词焊接式IGBT 功率循环试验阈值电压热阻; Keywords Welded IGBT power cycle test threshold voltage thermal resistance; 分类号 U221 [交通运输工程]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	功率循环试验中结温条件对IGBT器件失效模式的影响	邓二平刘鹏吕贤亮赵雨山丁立健	《半导体技术》 CAS 北大核心	2024	3	在线阅读下载PDF 职称材料
2	考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法	赵雨山邓二平刘鉴辉潘茂杨张莹张传云黄永章	《半导体技术》 CAS 北大核心	2022	0	在线阅读下载PDF 职称材料
3	不同老化试验方法下SiC MOSFET失效机理分析	陈杰邓二平赵子轩吴宇轩黄永章	《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心	2020	25	在线阅读下载PDF 职称材料
4	寿命分散性对IGBT器件串联寿命评估的影响	赵雨山李伟邦邓二平谢露红黄永章骆健	《半导体技术》 CAS 北大核心	2024	0	在线阅读下载PDF 职称材料
5	青藏客车辅助逆变电源IGBT模块寿命的特征参数研究	向超群尹雪瑶成庶于天剑张璐琳	《电气工程学报》 CSCD	2022		在线阅读下载PDF 职称材料