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功率循环试验中结温条件对IGBT器件失效模式的影响被引量：3: 1; 作者邓二平刘鹏 +2 位作者吕贤亮赵雨山丁立健《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第6期580-588,共9页; 为了探究功率循环试验中结温条件对绝缘栅双极型晶体管(IGBT)器件失效模式的影响及其失效机理,以理论分析为出发点,通过大量功率循环试验进行对比验证,基于瞬态热阻抗曲线建立了准确的三维有限元模型,并仿真分析了相关失效机理。仿真及... 展开更多; 关键词结温波动最大结温失效模式有限元仿真功率循环试验; 在线阅读下载PDF 职称材料

功率器件功率循环仿真及引线键合寿命分析: 2; 作者高会壮张如月 +2 位作者王长鑫曹阳武荣荣《舰船电子工程》 2024年第10期66-70,74,共6页; 在人们对功率半导体器件相关性能要求不断提高的情况下,其封装可靠性得到越来越多的重视。为了使器件整体满足在高温、高频率、大功率、抗辐射等工作条件下的可靠性能力,需重点突破制约三代半导体可靠性发展的新型封装材料或改进封装技... 展开更多; 关键词功率器件功率循环试验损伤累积寿命预测; 在线阅读下载PDF 职称材料

考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法: 3; 作者赵雨山邓二平 +4 位作者刘鉴辉潘茂杨张莹张传云黄永章《半导体技术》 CAS 北大核心 2022年第9期704-711,共8页; 实际应用中,功率模块桥臂之间的热耦合非常普遍,提出了考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法,但电流路径很难与实际工况下的电流路径保持一致。通过时序电参数法,分析了有、无热耦合条件下功率循环试验中功率模块结温的分布特点。分析... 展开更多; 关键词热耦合全桥功率模块功率循环试验时序电参数法寿命; 在线阅读下载PDF 职称材料

基于功率循环的功率器件寿命评估快速工程方法: 4; 作者张虎《机车电传动》北大核心 2021年第5期142-149,共8页; 介绍了工程中常用的4种基于主动功率循环的半导体功率器件寿命评估模型,针对这些模型存在忽略功率器件封装与实际工况复杂性的问题,提出用于寿命评估的功率循环试验更适合基于器件退化而非器件失效来选定阈值的观点,并给出了快速完成实... 展开更多; 关键词功率循环试验功率器件寿命评估残余寿命退化快速工程方法贝叶斯; 在线阅读下载PDF 职称材料

功率IGBT模块的寿命预测被引量：27: 5; 作者王彦刚 Chamund Dinesh +4 位作者李世平 Jones Steve 窦泽春忻兰苑刘国友《机车电传动》北大核心 2013年第2期13-17,27,共6页; 介绍了功率循环试验数据的威布尔分析方法,分析了现有的典型模块寿命模型,论述了寿命预测的方法:将任务曲线转化成温度曲线,利用雨流计数法,根据线性疲劳损伤积累理论和寿命模型计算功率循环寿命。最后,预测了应用于HXD1C电力机车的株... 展开更多; 关键词 IGBT模块可靠性功率循环试验失效机制寿命预测; 在线阅读下载PDF 职称材料

寿命分散性对IGBT器件串联寿命评估的影响: 6; 作者赵雨山李伟邦 +3 位作者邓二平谢露红黄永章骆健《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第12期1106-1113,共8页; IGBT器件采用串联拓扑增加耐压等级以满足实际应用需求,但多器件串联增加了老化参数的监测数量和难度。为了研究寿命分散性对器件串联寿命的影响,揭示不同失效模式下串联IGBT与单一IGBT的寿命差异,首先,分析了功率循环中现有的老化参数... 展开更多; 关键词 IGBT 寿命分散性串联功率循环试验老化表征方法; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名功率循环试验中结温条件对IGBT器件失效模式的影响被引量：3: 1; 作者邓二平刘鹏吕贤亮赵雨山丁立健; 机构合肥工业大学电气与自动化工程学院电能高效高质转化全国重点实验室合肥综合性国家科学中心能源研究院南瑞集团(国网电力科学研究院)有限公司南京南瑞半导体有限公司中国电子技术标准化研究院; 出处《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第6期580-588,共9页; 基金国家自然科学基金青年科学基金(52007061)。; 文摘为了探究功率循环试验中结温条件对绝缘栅双极型晶体管(IGBT)器件失效模式的影响及其失效机理,以理论分析为出发点,通过大量功率循环试验进行对比验证,基于瞬态热阻抗曲线建立了准确的三维有限元模型,并仿真分析了相关失效机理。仿真及试验结果表明,键合线失效只受结温波动的影响;焊料老化受结温波动和最大结温的影响。增加结温波动会增加键合线、焊料所受应力,而提高最大结温会影响焊料的材料特性,加速其蠕变过程。研究成果解决了解析寿命模型难以表征失效机理的问题,并为失效模式的分离提供新的研究思路。; 关键词结温波动最大结温失效模式有限元仿真功率循环试验; Keywords junction temperature fluctuation maximum junction temperature failure mode finite element simulation power cycling test; 分类号 TN386 [电子电信—物理电子学] TN306 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名功率器件功率循环仿真及引线键合寿命分析: 2; 作者高会壮张如月王长鑫曹阳武荣荣; 机构航天科工防御技术研究试验中心中国计量大学; 出处《舰船电子工程》 2024年第10期66-70,74,共6页; 文摘在人们对功率半导体器件相关性能要求不断提高的情况下,其封装可靠性得到越来越多的重视。为了使器件整体满足在高温、高频率、大功率、抗辐射等工作条件下的可靠性能力,需重点突破制约三代半导体可靠性发展的新型封装材料或改进封装技术。论文以典型SiC MOSFET为研究对象,通过构建与功率循环试验相适应的仿真方法,研究在典型功率循环条件下器件键合点可靠性问题。在不同键合线线径及循环次数条件下,得到相应的应变及应变能密度,利用损伤累积的能量模型对器件键合点寿命进行了分析计算,实现了采用仿真手段对功率器件在功率循环试验中键合点可靠性的分析与评价。; 关键词功率器件功率循环试验损伤累积寿命预测; Keywords power component power cycle test damage accumulation life expectancy; 分类号 TM743 [电气工程—电力系统及自动化]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法: 3; 作者赵雨山邓二平刘鉴辉潘茂杨张莹张传云黄永章; 机构新能源电力系统国家重点实验室(华北电力大学) 国家电网有限公司华北分部; 出处《半导体技术》 CAS 北大核心 2022年第9期704-711,共8页; 基金国家自然科学基金资助项目(52007061)。; 文摘实际应用中,功率模块桥臂之间的热耦合非常普遍,提出了考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法,但电流路径很难与实际工况下的电流路径保持一致。通过时序电参数法,分析了有、无热耦合条件下功率循环试验中功率模块结温的分布特点。分析了电流路径对考虑热耦合的功率循环试验的影响,并进行了有、无热耦合条件下的功率循环试验。结果显示,考虑热耦合的功率循环试验应考虑电流路径差异造成的影响,热耦合对功率循环寿命有影响。通过有限元仿真,探究了热耦合和电流路径影响功率模块结温分布的机理,确定了考虑热耦合的功率循环方法。; 关键词热耦合全桥功率模块功率循环试验时序电参数法寿命; Keywords thermal coupling full-bridge power module power cycling test sequential VCE(T)method lifetime; 分类号 TM464 [电气工程—电器] TN386.2 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于功率循环的功率器件寿命评估快速工程方法: 4; 作者张虎; 机构西门子工业软件(上海)有限公司; 出处《机车电传动》北大核心 2021年第5期142-149,共8页; 文摘介绍了工程中常用的4种基于主动功率循环的半导体功率器件寿命评估模型,针对这些模型存在忽略功率器件封装与实际工况复杂性的问题,提出用于寿命评估的功率循环试验更适合基于器件退化而非器件失效来选定阈值的观点,并给出了快速完成实际工况模式下基于器件退化的功率循环试验的阈值设定方法,功率器件寿命评估快速公式和残余寿命评估方法。该方法在工程实践中可以快速低成本地评估功率器件的寿命。; 关键词功率循环试验功率器件寿命评估残余寿命退化快速工程方法贝叶斯; Keywords power cycling test power device lifetime evaluation residual life degradation fast engineering approach Bayes; 分类号 TN303 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名功率IGBT模块的寿命预测被引量：27: 5; 作者王彦刚 Chamund Dinesh 李世平 Jones Steve 窦泽春忻兰苑刘国友; 机构株洲南车时代电气股份有限公司功率半导体研发中心; 出处《机车电传动》北大核心 2013年第2期13-17,27,共6页; 文摘介绍了功率循环试验数据的威布尔分析方法,分析了现有的典型模块寿命模型,论述了寿命预测的方法:将任务曲线转化成温度曲线,利用雨流计数法,根据线性疲劳损伤积累理论和寿命模型计算功率循环寿命。最后,预测了应用于HXD1C电力机车的株洲南车时代电气股份有限公司3300V/1200A IGBT模块的功率循环寿命。; 关键词 IGBT模块可靠性功率循环试验失效机制寿命预测; Keywords IGBT module reliability power cycling test failure mechanism lifetime prediction; 分类号 TN34 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名寿命分散性对IGBT器件串联寿命评估的影响: 6; 作者赵雨山李伟邦邓二平谢露红黄永章骆健; 机构南瑞集团(国网电力科学研究院)有限公司南京南瑞半导体有限公司电能高效高质转化全国重点实验室(合肥工业大学) 新能源电力系统国家重点实验室(华北电力大学); 出处《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第12期1106-1113,共8页; 基金国家电网有限公司总部管理科技项目(5500-202440127A-1-1-ZN)。; 文摘 IGBT器件采用串联拓扑增加耐压等级以满足实际应用需求,但多器件串联增加了老化参数的监测数量和难度。为了研究寿命分散性对器件串联寿命的影响,揭示不同失效模式下串联IGBT与单一IGBT的寿命差异,首先,分析了功率循环中现有的老化参数监测方法,提出了寿命的特征分析模型;然后,结合失效分离的试验方法,分析了功率循环中键合线失效和焊料老化两种典型失效形式下的寿命分散性对串联寿命评估的影响;最后,分析了寿命高分散性和串联数量对器件串联寿命的影响,建立了寿命分散性差异与器件串联的老化表征方法有效性的关系,提出了考虑寿命分散性的器件串联老化监测的监测单元最大数量,为减少器件串联数量提供了实验和理论依据。; 关键词 IGBT 寿命分散性串联功率循环试验老化表征方法; Keywords IGBT lifetime dispersion series connection power cycling test aging characterization method; 分类号 TN323.4 [电子电信—物理电子学] TN306 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	功率循环试验中结温条件对IGBT器件失效模式的影响	邓二平刘鹏吕贤亮赵雨山丁立健	《半导体技术》 CAS 北大核心	2024	3	在线阅读下载PDF 职称材料
2	功率器件功率循环仿真及引线键合寿命分析	高会壮张如月王长鑫曹阳武荣荣	《舰船电子工程》	2024	0	在线阅读下载PDF 职称材料
3	考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法	赵雨山邓二平刘鉴辉潘茂杨张莹张传云黄永章	《半导体技术》 CAS 北大核心	2022	0	在线阅读下载PDF 职称材料
4	基于功率循环的功率器件寿命评估快速工程方法	张虎	《机车电传动》北大核心	2021	0	在线阅读下载PDF 职称材料
5	功率IGBT模块的寿命预测	王彦刚 Chamund Dinesh 李世平 Jones Steve 窦泽春忻兰苑刘国友	《机车电传动》北大核心	2013	27	在线阅读下载PDF 职称材料
6	寿命分散性对IGBT器件串联寿命评估的影响	赵雨山李伟邦邓二平谢露红黄永章骆健	《半导体技术》 CAS 北大核心	2024	0	在线阅读下载PDF 职称材料